谐波校准系统及方法、误差谐波分量系数计算系统及方法

    公开(公告)号:CN112904261B

    公开(公告)日:2024-03-19

    申请号:CN202110033894.4

    申请日:2021-01-11

    发明人: 朱剑宇 陆游

    IPC分类号: G01R35/02

    摘要: 本发明揭示了一种谐波校准系统及方法、误差谐波分量系数计算系统及方法,所述谐波校准系统包括差分器、第一混频器、第二混频器、第一积分单元、第二积分单元、正弦谐波系数获取模块、余弦谐波系数获取模块以及谐波校准模块;谐波校准模块分别连接所述正弦谐波系数获取模块及余弦谐波系数获取模块,从原始角度信号中消除误差谐波分量,得到校准后的角度信号。本发明提出的谐波校准系统及方法、误差谐波分量系数计算系统及方法,可消除各种谐波误差,提高检测的精确度。

    AMR磁阻结构及惠斯通电桥

    公开(公告)号:CN113933768B

    公开(公告)日:2024-01-30

    申请号:CN202111067618.6

    申请日:2021-09-13

    发明人: 朱剑宇 杨世霞

    IPC分类号: G01R33/09

    摘要: 本发明揭示了一种AMR磁阻结构及惠斯通电桥,所述AMR磁阻结构包括:第一电阻、第三电阻;所述第一电阻包括若干第一半圆环磁阻条、若干第二半圆环磁阻条;所述第三电阻包括若干第三半圆环磁阻条、若干第四半圆环磁阻条;各第一半圆环磁阻条、各第二半圆环磁阻条、各第三半圆环磁阻条及各第四半圆环磁阻条具有相同的圆心;各第一半圆环磁阻条、各第二半圆环磁阻条、各第三半圆环磁阻条及各第四半圆环磁阻条形成若干依次排列的、半径大小不一的圆环。本发明提出的AMR磁阻结构及惠斯通电桥,可提高AMR的匹配性,减少芯片面积,同时能避免对外界磁场的检测产生干扰。

    自激式线圈感应角位传感器及角位检测方法

    公开(公告)号:CN113932705B

    公开(公告)日:2024-05-07

    申请号:CN202111090860.5

    申请日:2021-09-17

    发明人: 陆游 张杨

    IPC分类号: G01B7/30

    摘要: 本发明揭示了一种自激式线圈感应角位传感器及角位检测方法,所述角位传感器包括至少三个感应线圈、线圈电感干扰机构、至少一电感检测电路及角位获取电路;至少三个感应线圈形成线圈组;所述线圈电感干扰机构设置于线圈组的一侧,在感应线圈被所述线圈电感干扰机构覆盖时,感应线圈对应的电感值发生变化;所述电感检测电路用以获取设定感应线圈的电感值;所述角位获取电路连接所述电感检测电路,根据各感应线圈电感值的变化获取旋转角度。本发明提出的自激式线圈感应角位传感器及角位检测方法,可以在相同的面积下提供更大的单个感应线圈尺寸和初始电感值,从而可以提供更高的检测距离。

    非接触式电流检测芯片及其输出限幅电路及方法

    公开(公告)号:CN116256552A

    公开(公告)日:2023-06-13

    申请号:CN202310062633.4

    申请日:2023-01-13

    发明人: 姜波

    IPC分类号: G01R19/00 G01R15/20 G05F1/56

    摘要: 本发明揭示了一种非接触式电流检测芯片及其输出限幅电路及方法,所述输出限幅电路包括电压幅值检测电路、输出信号处理电路;所述电压幅值检测电路用以检测非接触式电流检测芯片的第一输出电压;所述输出信号处理电路用以根据所述电压幅值检测电路检测到的第一输出电压输出第二输出电压;当所述电压幅值检测电路检测到的第一输出电压表示芯片内部功能失效或者潜在风险时,使得第二输出电压超出正常工作状态下的电压范围。本发明提出的非接触式电流检测芯片及其输出限幅电路及方法,可降低额外芯片报警管脚的成本,并且省去驱动额外报警信号线的放大器及其功率消耗。

    AMR磁阻结构及惠斯通电桥
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113933768A

    公开(公告)日:2022-01-14

    申请号:CN202111067618.6

    申请日:2021-09-13

    发明人: 朱剑宇 杨世霞

    IPC分类号: G01R33/09

    摘要: 本发明揭示了一种AMR磁阻结构及惠斯通电桥,所述AMR磁阻结构包括:第一电阻、第三电阻;所述第一电阻包括若干第一半圆环磁阻条、若干第二半圆环磁阻条;所述第三电阻包括若干第三半圆环磁阻条、若干第四半圆环磁阻条;各第一半圆环磁阻条、各第二半圆环磁阻条、各第三半圆环磁阻条及各第四半圆环磁阻条具有相同的圆心;各第一半圆环磁阻条、各第二半圆环磁阻条、各第三半圆环磁阻条及各第四半圆环磁阻条形成若干依次排列的、半径大小不一的圆环。本发明提出的AMR磁阻结构及惠斯通电桥,可提高AMR的匹配性,减少芯片面积,同时能避免对外界磁场的检测产生干扰。

    自激式线圈感应角位传感器及角位检测方法

    公开(公告)号:CN113932705A

    公开(公告)日:2022-01-14

    申请号:CN202111090860.5

    申请日:2021-09-17

    发明人: 陆游 张杨

    IPC分类号: G01B7/30

    摘要: 本发明揭示了一种自激式线圈感应角位传感器及角位检测方法,所述角位传感器包括至少三个感应线圈、线圈电感干扰机构、至少一电感检测电路及角位获取电路;至少三个感应线圈形成线圈组;所述线圈电感干扰机构设置于线圈组的一侧,在感应线圈被所述线圈电感干扰机构覆盖时,感应线圈对应的电感值发生变化;所述电感检测电路用以获取设定感应线圈的电感值;所述角位获取电路连接所述电感检测电路,根据各感应线圈电感值的变化获取旋转角度。本发明提出的自激式线圈感应角位传感器及角位检测方法,可以在相同的面积下提供更大的单个感应线圈尺寸和初始电感值,从而可以提供更高的检测距离。

    基于离散正余弦变换的磁性角度传感器校准方法

    公开(公告)号:CN107588793B

    公开(公告)日:2021-11-19

    申请号:CN201710854437.5

    申请日:2017-09-20

    发明人: 朱剑宇

    IPC分类号: G01D18/00

    摘要: 本发明揭示了一种基于离散正余弦变换的磁性角度传感器校准方法,所述校准方法包括:首先,选择均匀分布在圆周上的N个点α[n]=2πn/N,n=0,1,2,…,N‑1作为基准角度点;转动磁场至角度α[n],根据测量的x[n]和y[n]值计算此处的角度θ[n]和误差e[n]=θ[n]‑α[n];估算出bx、by、k和β的值;校准所得的参数bx、by、k和β存储在传感器芯片的非易失性存储器(NVM)中;第二步,根据前面的得到的参数对角度感应元件的原始输出信号x和y进行矫正。本发明利用离散正余弦变换的方法有效地估算出原始信号中的直流失调误差、幅值失配误差、正交相位误差和非线性误差,并对原始信号进行矫正,以达到提高角度精度的目的。

    谐波校准系统及方法、误差谐波分量系数计算系统及方法

    公开(公告)号:CN112904261A

    公开(公告)日:2021-06-04

    申请号:CN202110033894.4

    申请日:2021-01-11

    发明人: 朱剑宇 陆游

    IPC分类号: G01R35/02

    摘要: 本发明揭示了一种谐波校准系统及方法、误差谐波分量系数计算系统及方法,所述谐波校准系统包括差分器、第一混频器、第二混频器、第一积分单元、第二积分单元、正弦谐波系数获取模块、余弦谐波系数获取模块以及谐波校准模块;谐波校准模块分别连接所述正弦谐波系数获取模块及余弦谐波系数获取模块,从原始角度信号中消除误差谐波分量,得到校准后的角度信号。本发明提出的谐波校准系统及方法、误差谐波分量系数计算系统及方法,可消除各种谐波误差,提高检测的精确度。

    功率驱动管及其过流检测电路及过流检测方法

    公开(公告)号:CN115856411A

    公开(公告)日:2023-03-28

    申请号:CN202310063192.X

    申请日:2023-01-13

    发明人: 刘敬丰 姜波

    摘要: 本发明揭示了一种功率驱动管及其过流检测电路及过流检测方法,过流检测电路包括高端功率管过流检测电路、低端功率管过流检测电路及过流报警电路;高端功率管过流检测电路检测高端功率管是否过流,并给出报警信号;低端功率管过流检测电路检测低端功率管是否过流,并给出报警信号;过流报警电路对高端功率管过流检测电路、低端功率管过流检测电路给出的报警信号进行处理,防止误报警。相对电阻检测,本发明可提高检测精度;高端与低端功率管均做过流检测,可避免某些情况的过流不可检测性;高端过流检测电路增加了悬浮电源,相比直接使用高压器件,面积得到了优化,成本得以降低。此外,本发明可同时对高低端功率管检测,可对过流情况快速响应。

    芯片自检电路、检测电路、芯片及自检方法

    公开(公告)号:CN113376509B

    公开(公告)日:2022-10-18

    申请号:CN202110643024.9

    申请日:2021-06-09

    发明人: 黄冠中

    IPC分类号: G01R31/28

    摘要: 本发明揭示了一种芯片自检电路、检测电路、芯片及自检方法,所述芯片自检电路包括信号处理电路、第一梳状滤波器、第二梳状滤波器、高通滤波器及判断模块;信号处理电路接收敏感元件的输出信号及测试信号ft;第一梳状滤波器把第一个陷波点设置在测试信号ft处,从输入信号中消除测试信号;第二梳状滤波器把第一个陷波点设置在大于ft的频率处,同时得到敏感元件的输出信号和测试信号;高通滤波器分离出测试信号的数字量;判断模块根据信号处理电路、第一梳状滤波器、第二梳状滤波器和高通滤波器的传输函数判断信号处理电路功能是否正常。本发明提出的芯片自检电路、检测电路、芯片及自检方法,可提高检测的精确度及便捷度。