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公开(公告)号:CN117812468A
公开(公告)日:2024-04-02
申请号:CN202310770157.1
申请日:2023-06-27
申请人: 上海互觉科技有限公司
摘要: 本发明提供了一种显微系统多焦面物体的自动对焦成像方法及系统,包括:图像采集器随机选取对焦步进网络提供的步进信息;移动对焦马达调整焦距;采集图片,并将图片发送至对焦步进预测网络;对焦步进预测网络对图片的清晰度进行评估,得到图片的清晰度;如图片的清晰度不满足清晰度阈值,则返回;如满足清晰度阈值,则将图片保存到图像存储器;将图像存储器里的图片进行图像融合;生成全焦融合图像。本发明通过构建对焦步进预测网络,解决了在获取图片时,镜头对焦使用传统爬山算法时需要使用固定步进调整焦距拍摄图片,图片数量多但获取的清晰图片较少而导致合成时计算量大的问题。
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公开(公告)号:CN116416236A
公开(公告)日:2023-07-11
申请号:CN202310391105.3
申请日:2023-04-12
申请人: 上海互觉科技有限公司
IPC分类号: G06T7/00 , G06V10/764 , G06V10/26 , G06V10/30 , G06V10/40 , G06V10/82 , G06N3/0464 , G06N3/08 , G01N21/88 , G01N27/84
摘要: 本发明提供了一种基于深度学习的磁粉检测缺陷系统及方法,包括:磁化模块、图像采集模块、检测模块以及清洁模块;磁化模块:在荧光磁粉作用下对磁性工件进行磁化,获得磁化后的工件;图像采集模块:在紫外光源作用下,获取磁化后的工件的连续图像;检测模块:基于采集到的连续图像检测当前磁性工件是否存在缺陷;清洁模块:清除表面磁粉,并区分缺陷工件以及正常工件。
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公开(公告)号:CN115641303A
公开(公告)日:2023-01-24
申请号:CN202211223938.0
申请日:2022-10-08
申请人: 上海互觉科技有限公司
摘要: 本发明提供了一种基于深度学习的消费电子零部件缺陷分级系统及方法,包括:获取实际消费电子零部件的原始图像;对所述原始图像进行预处理,得到对应的训练数据;根据所述原始图像进行卷积操作构建检测模型;将所述训练数据输入至检测模型中进行训练,得到训练后的检测模型;根据所述训练后的检测模型获得缺陷等级。本发明模型给出的不确定度是连续的数值与缺陷类别离散情况相互配合实现对于缺陷的有效检测,与零部件产品缺陷程度相适应,能够大大降低关键缺陷漏检,对于轻度缺陷适当放宽标准,从而提高整体的准确率。
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