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1.

发明授权
扫描链控制电路有权

公开(公告)号：CN112345924B

公开(公告)日：2024-09-03

申请号：CN202011188517.X

申请日：2020-10-30

申请人： 上海兆芯集成电路股份有限公司

发明人： 孙腾达 , 俞日龙

IPC分类号： G01R31/3185

摘要： 本发明提供一种扫描链控制电路，包括：通过测试电路板上的接口进行芯片测试而不需要通过引线端外接引线进行测试，当上述扫描链控制电路在管脚移位时钟的作用下时，该扫描链控制电路将管脚输入数据输入至扫描链测试电路并在进行测试后将测试完成的测试数据输出；当上述扫描链控制电路在寄存器移位时钟信号的作用下时，该扫描链控制电路将寄存器输入数据输入至扫描链测试电路进行测试后将测试完成的测试数据输出。本发明能够实现扫描链测试电路的测试数据输入/输出控制，提高测试灵活性之外，亦可在测试管脚不易外露或接触不良时仍得以测试芯片是否能正确运作。