公开(公告)号：CN114019938A

公开(公告)日：2022-02-08

申请号：CN202111201694.1

申请日：2021-10-15

申请人： 上海华虹集成电路有限责任公司 ,  北京中电华大电子设计有限责任公司

发明人： 陈宣成 ,  宗磊 ,  戴昭君 ,  崔丽华 ,  张翰文

IPC分类号： G05B23/02

摘要： 本发明公开了一种适用于微控制器芯片通信类接口测试系统及其测试方法。主流微控制器芯片上集成有多种通信接口，并且通信接口功能往往复用到不同的GPIO引脚上，另外不同的通信接口的测试代码与测试流程往往不同，因此在对芯片原型或样片进行功能测试或性能测试时时间会大量浪费在手动调整软硬件验证环境上。本发明专利目的在于提升微控制器通信类接口测试过程的自动化水平，提高测试效率，且该测试系统具有很高的通用性与可拓展性。

公开(公告)号：CN112965843A

公开(公告)日：2021-06-15

申请号：CN202110084786.X

申请日：2021-01-22

申请人： 上海华虹集成电路有限责任公司

发明人： 戴昭君 ,  蒋艳 ,  宗磊 ,  葛文启 ,  吕瑞恩

IPC分类号： G06F11/00 ,  G06F11/22 ,  G06F13/38 ,  G06F13/42

摘要： 本发明公开了一种可靠性同测装置及其控制方法，用于微控制器芯片内置大容量存储器可靠性测试，可实现多芯片并行测试。同时以测试区间可配置的形式，可选择全部覆盖存储空间，也可以选择以不同芯片不同区间的等效方式以覆盖全面，从同测数与测试空间配置两方面兼顾测试效率、优化测试时间。记录测试结果的同时，保存所有在测芯片的失效现场信息，便于对任何一个失效芯片进行分析。该方法基于测试硬件主控制板、上位机控制，还包括被测微控制器存储器测试程序。以较小的成本实现批量微控制器的存储器测试，广泛应用于各类微控制器芯片耐久力等可靠性自验证中。