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公开(公告)号：CN118211532A
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202410236469.9
申请日：2024-03-01
申请人： 上海华虹集成电路有限责任公司
摘要： 本文公开了一种用于UART通信接口的仿真验证方法及验证模型，验证模型主要包括：UART配置模块、待测设计DUT、VIP选择器、VIP模块、验证模块和输出比较器等。UART配置模块通过获取DUT的UART通信参数并将参数传递给VIP选择器；VIP选择器通过接收通信参数并选择适当的VIP进行通信；VIP模块分为普通UART、智能卡模式、IRDA模式的VIP；验证模块将所选择的VIP集成进去并直接与DUT进行通信验证；输出比较器用于监测通信状态并反馈错误信息。本发明的验证对象为DUT/UART模块，所搭建的结合VIP的验证模型能够以较高的效率，较低的成本进行UART模块功能的验证工作。
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公开(公告)号：CN116382996A
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN202310071230.6
申请日：2023-02-07
申请人： 上海华虹集成电路有限责任公司
IPC分类号： G06F11/26 , G06F11/22 , G06F11/263 , G06F21/60 , G06F21/72
摘要： 本文公开了一种加解密算法模块仿真验证系统及方法，验证系统主要包括：激励生成器、驱动器、激励监测器、输出监测器、覆盖率模型和检查器等。激励生成器产生随机化的测试激励；驱动器将产生的激励打包传递给系统内的其它组件；激励监测器和输出监测器用于监测相关组件的内部状态；覆盖率模型根据输入的激励进行覆盖率统计；检查器自动比对参考模型和加解密算法模块(DUT模块)的运算结果。本发明验证方法由三部分组成，每组初始激励经由DUT模块和参考模型加密后进行第一次比对，随后将加密结果再由DUT模块和参考模型解密后进行第二次对比，最后将解密结果与初始激励进行第三次比对，以确保DUT模块功能验证的正确性，有效提高验证的效率和完备性。
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公开(公告)号：CN109784099B
公开(公告)日：2023-01-10
申请号：CN201811549450.0
申请日：2018-12-18
申请人： 上海华虹集成电路有限责任公司 , 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC分类号： G06F21/73
摘要： 本发明公开了一种新型强物理不可克隆函数，并给出了采用该方法的一个新型强物理不可克隆函数的实现实例。新型强物理不可克隆函数的特征在于建立各个芯片中独特的查找表，而查找表是基于多个物理单元的特征结果排序产生。新型强物理不可克隆函数如下：采集芯片中多个物理单元的特征结果，根据物理单元特征结果的排序产生若干个查找表，基于这些查找表产生各个芯片中独特的PUF运算单元，PUF的挑战经过PUF运算单元得到PUF响应。基于PUF查找表的物理不可克隆函数能够大幅提升挑战响应空间，使得基于这种结构的物理不可克隆函数适用于密钥生成、身份识别等各类应用。
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公开(公告)号：CN114019938A
公开(公告)日：2022-02-08
申请号：CN202111201694.1
申请日：2021-10-15
申请人： 上海华虹集成电路有限责任公司 , 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC分类号： G05B23/02
摘要： 本发明公开了一种适用于微控制器芯片通信类接口测试系统及其测试方法。主流微控制器芯片上集成有多种通信接口，并且通信接口功能往往复用到不同的GPIO引脚上，另外不同的通信接口的测试代码与测试流程往往不同，因此在对芯片原型或样片进行功能测试或性能测试时时间会大量浪费在手动调整软硬件验证环境上。本发明专利目的在于提升微控制器通信类接口测试过程的自动化水平，提高测试效率，且该测试系统具有很高的通用性与可拓展性。
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公开(公告)号：CN112965843A
公开(公告)日：2021-06-15
申请号：CN202110084786.X
申请日：2021-01-22
申请人： 上海华虹集成电路有限责任公司
摘要： 本发明公开了一种可靠性同测装置及其控制方法，用于微控制器芯片内置大容量存储器可靠性测试，可实现多芯片并行测试。同时以测试区间可配置的形式，可选择全部覆盖存储空间，也可以选择以不同芯片不同区间的等效方式以覆盖全面，从同测数与测试空间配置两方面兼顾测试效率、优化测试时间。记录测试结果的同时，保存所有在测芯片的失效现场信息，便于对任何一个失效芯片进行分析。该方法基于测试硬件主控制板、上位机控制，还包括被测微控制器存储器测试程序。以较小的成本实现批量微控制器的存储器测试，广泛应用于各类微控制器芯片耐久力等可靠性自验证中。
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公开(公告)号：CN107959571B
公开(公告)日：2021-02-12
申请号：CN201711072601.3
申请日：2017-11-04
申请人： 上海华虹集成电路有限责任公司 , 北京中电华大电子设计有限责任公司
摘要： 本发明公开了一种用于PUF的快速软判决取值生成方法，并给出了采用该方法的一个用于PUF的快速软判决取值生成方法的实现实例。用于PUF的快速软判决取值生成方法如下：只需要在注册阶段对每个挑战进行若干次PUF特征结果的提取，通过将PUF特征结果均值和响应判断阈值进行比较，就能够计算得到每个比特位对应的软判决值。在电路噪声相对工艺偏差较小的情况下，甚至只需要一次PUF特征结果提取就能得到软判决值。从而能够在保证应用阶段纠错失败概率足够小的前提下，大幅减少注册阶段响应和辅助数据的采集生成时间。
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公开(公告)号：CN112149367A
公开(公告)日：2020-12-29
申请号：CN202010798697.7
申请日：2020-08-11
申请人： 上海华虹集成电路有限责任公司 , 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC分类号： G06F30/30 , G06F119/06
摘要： 本发明涉及芯片低功耗技术领域，公开了一种MCU芯片功耗评估的方法。首先，把芯片把MCU芯片的功耗划分成三大组成部分，即：模拟电路功耗、数字电路功耗和memory电路功耗；其次，根据CMOS电路功耗的三大来源，即：动态功耗、静态功耗和短路功耗，分别给出三大功耗组成部分功耗的评估方法；然后，根据MCU芯片处在运行(Run)、睡眠(Sleep)、停止(Stop)和停机(Standby)各种工作模式，分析并确定各个模块的运行及电源状态；最后，根据评估方法及模块状态，分别评估出MCU芯片在各种工作模式下的功耗。
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公开(公告)号：CN112073037A
公开(公告)日：2020-12-11
申请号：CN202010804485.5
申请日：2020-08-12
申请人： 上海华虹集成电路有限责任公司
摘要： 本发明涉及集成电路设计技术领域，公开了一种实时时钟的数字校准方法及电路。包括：计数单元、校准值配置单元、译码单元、对比单元、校准脉冲产生单元和逻辑与单元。首先，通过计数单元产生校准窗口(每221个源时钟周期)；其次，通过校准值配置单元配置校准值(校准窗口内要减少的时钟脉冲数)；再次，译码单元对所配置校准值进行译码得到译码值(校准值对应的校准窗口计数值)；然后，通过对比单元进行对比，匹配后产生校准脉冲；最后，通过逻辑与单元将校准脉冲产生单元和源时钟进行逻辑与得到校准后时钟。本发明提供的数字校准方法解决了实时时钟受外部晶振误差影响不准的问题，校准分布均匀，校准精度达到0.477ppm。
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公开(公告)号：CN106873360B
公开(公告)日：2020-09-18
申请号：CN201510926926.8
申请日：2015-12-14
申请人： 上海华虹集成电路有限责任公司
发明人： 王吉健
IPC分类号： G05B13/02
摘要： 本发明公开了一种频率自适应电路，由一泄放电路，一电压检测电路以及一逻辑电路构成；所述泄放电路与电压检测电路和功能电路并联，电压检测电路检测功能电路的工作电压；逻辑电路根据电压检测电路输出的电压指示标志信号和泄放电路输出的电流指示标志信号控制功能电路的工作频率。本发明能使功能电路运行的工作频率尽可能高，且又不会引起功能电路的下电复位。适用于无源非接触卡功耗管理。
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公开(公告)号：CN106919860B
公开(公告)日：2020-06-23
申请号：CN201510988226.1
申请日：2015-12-25
申请人： 上海华虹集成电路有限责任公司
发明人： 柴佳晶
IPC分类号： G06F21/77
摘要： 本发明涉及一种用于实现物理不可克隆函数的电路，该电路包括n个延时通路可配置的振荡器，其中n为偶数，并且所述振荡器分别具有频率f0，f1，……fn‑2，fn‑1，并且所述n个振荡器被分为n/2组，每组包含两个振荡器，每个振荡器包括m个延时单元组，并且每个延时单元组包括至少两个延时单元，该电路被配置为：接收挑战；通过选择延时单元形成延时通路；以及获得每组两个振荡器的频率差值并对其进行取值；将频率差值累加并根据累加和得到1比特响应。此外，本发明还涉及运行该电路的方法。
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