公开(公告)号：CN114972185A

公开(公告)日：2022-08-30

申请号：CN202210408314.X

申请日：2022-04-19

申请人： 上海大学

发明人： 张统一 ,  曹斌 ,  冯振杰 ,  肖祁陵 ,  王子涵 ,  张茜 ,  王家豪

IPC分类号： G06T7/00 ,  G06T5/00 ,  G06V10/762 ,  G01N23/207

摘要： 本发明公开了一种基于统计建模的多晶粉末X光衍射图谱的全谱线拟合方法：粉末X光衍射图期望最大化算法全谱线拟合方法(Whole Pattern Fitting of Powder XRD byExpectation Maximum algorithm,简称WPEM)。可用于多晶粉末X光衍射图的全谱拟合,从中提取各衍射峰的峰位、峰宽、峰形、积分衍射强度等晶体结构信息。实现了“统计背底计算”、“组分晶格常数的精确测定”、“组分体积分数的定量测定”等功能。本发明技术能够减少或者消除由衍射几何因素形成的不对称峰形的噪声，可以对混合多晶系的X光衍射图进行全谱线分解和拟合，精确和定量测定各个晶系晶格常数、峰形及各个晶系体积分数。与主流的商用拟合软件Fullprof,TOPAS等相比,显示出更优越的拟合精度。