一种硅基ZnS薄膜紫外可见光光电探测器的制备方法

    公开(公告)号:CN103746037B

    公开(公告)日:2016-03-30

    申请号:CN201410001041.2

    申请日:2014-01-02

    Applicant: 上海大学

    CPC classification number: Y02P70/521

    Abstract: 本发明涉及的是一种硅基ZnS薄膜紫外可见光光电探测器的制造方法,属于无机非金属材料器件制造工艺领域。本发明是采用磁控溅射法,在p型Si衬底上制备n型ZnS薄膜,形成ZnS薄膜/Si pn结结构紫外可见光探测器,为制作高性能的紫外可见光探测器提供了新的方法。本发明是一种基于硅衬底的pn结ZnS薄膜紫外光探测器,其特点在于,采用磁控溅射法在Si片上制备颗粒尺寸均匀、质量高的ZnS薄膜样品,所制成的pn结型探测器具有高的灵敏度,且可同时探测紫外光和可见光。

    一种硅基ZnS薄膜紫外可见光光电探测器的制备方法

    公开(公告)号:CN103746037A

    公开(公告)日:2014-04-23

    申请号:CN201410001041.2

    申请日:2014-01-02

    Applicant: 上海大学

    CPC classification number: Y02P70/521 H01L31/109 H01L31/0336 H01L31/18

    Abstract: 本发明涉及的是一种硅基ZnS薄膜紫外可见光光电探测器的制造方法,属于无机非金属材料器件制造工艺领域。本发明是采用磁控溅射法,在p型Si衬底上制备n型ZnS薄膜,形成ZnS薄膜/Sipn结结构紫外可见光探测器,为制作高性能的紫外可见光探测器提供了新的方法。本发明是一种基于硅衬底的pn结ZnS薄膜紫外光探测器,其特点在于,采用磁控溅射法在Si片上制备颗粒尺寸均匀、质量高的ZnS薄膜样品,所制成的pn结型探测器具有高的灵敏度,且可同时探测紫外光和可见光。

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