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公开(公告)号:CN118226138A
公开(公告)日:2024-06-21
申请号:CN202410508009.7
申请日:2024-04-25
摘要: 本发明公开了一种集成电路静电放电抗扰度测试用注入探头,包括一个弹性探头、一个低寄生效应连接口、一个柔性连接导线、一个连接设备级ESD枪接口和一个磁性基座。其中连接设备级ESD枪接口低阻抗连接至设备级ESD枪,弹性探头、低寄生效应连接口、柔性连接导线和连接设备级ESD枪接口共同构成设备级ESD枪输出ESD脉冲的传输通道,磁性基座将注入探头稳定固定并将外壳良好接地,实现高电压等级、高精细尺寸的ESD脉冲注入。经过验证,该注入探头的输出性能符合标准要求,确保了ESD脉冲的完整性,为集成电路产业对精确和可靠的ESD抗扰度评估需求提供了一个可靠的解决方案。