公开(公告)号：CN104422865A

公开(公告)日：2015-03-18

申请号：CN201310370325.4

申请日：2013-08-22

Applicant: 上海海尔集成电路有限公司

Inventor： 王亦农 ,  沃良珉 ,  郑玲玲 ,  周彦杰 ,  王海群

IPC: G01R31/26

Abstract: 本发明提供一种晶圆级一次性编程OTP芯片测试方法及装置，所述方法包括：根据测试程序，对一次性编程OTP芯片自身进行测试，所述测试程序预先烧录在所述OTP芯片的供用户使用的一次性编程只读存储器OTP ROM中；对所述OTP芯片进行紫外线擦除处理。本发明提供的晶圆级OTP芯片测试方法及装置，通过根据预先烧录在供用户使用的OTP ROM中的测试程序，对所述OTP芯片进行测试，并对所述OTP芯片进行紫外线擦除处理的方案，无需在OTP芯片中内嵌专用于存放测试程序的OTP ROM，从而在成本有限的情况下实现对芯片进行有效的测试。

公开(公告)号：CN102193776B

公开(公告)日：2014-06-18

申请号：CN201010123204.6

申请日：2010-03-10

Applicant: 上海海尔集成电路有限公司

Inventor： 史卫东 ,  潘松 ,  沃良珉 ,  谷志坤

IPC: G06F9/32

CPC classification number: G06F9/30149 ,  G06F9/322

Abstract: 本发明提供一种跳转指令的处理方法及微控制器，该方法包括程序存储器存储跳转指令，若跳转指令为双字节跳转指令时包括第一指令字和第二指令字，第一指令字包括第一操作码和第一地址，第二指令字包括第二操作码和第二地址；控制器在当前周期开始运行将第一指令字写入第一指令寄存器时将第二指令字写入第二指令寄存器；控制器在确定第一指令字的第一操作码为双字节跳转指令操作码时将第一地址和第二地址写入程序计数器；并在下一周期根据程序计数器中的由第一地址和第二地址构成的第一目标地址，将程序存储器中的当前跳转指令跳转到第一目标地址对应的第一指令；并将第一指令写入第二指令寄存器，从而有效的提高了跳转指令的寻址能力和执行效率。

公开(公告)号：CN103576074A

公开(公告)日：2014-02-12

申请号：CN201210277654.X

申请日：2012-08-06

Applicant: 上海海尔集成电路有限公司

Inventor： 沃良珉 ,  谷志坤 ,  陈光胜 ,  史卫东

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明提供一种实时时钟模块测试装置。该装置包括：测试时钟源和实时时钟模块，所述实时时钟模块包括进位输出端依次连接的秒计数器、分钟计数器、小时计数器、日计数器、月计数器和年计数器，所述秒计数器的时钟输入端以及其余各计数器中至少一个计数器的时钟输入端均与所述测试时钟源连接。本发明提供的实时时钟模块测试装置通过以上方式可以把每一个计数器的每一位都测试到，同时测试时间有了大幅的减少，可提高测试效率，并通过减少测试时间来降低测试成本。

公开(公告)号：CN102193776A

公开(公告)日：2011-09-21

申请号：CN201010123204.6

申请日：2010-03-10

Applicant: 上海海尔集成电路有限公司

Inventor： 史卫东 ,  潘松 ,  沃良珉 ,  谷志坤

IPC: G06F9/32

CPC classification number: G06F9/30149 ,  G06F9/322

Abstract: 本发明提供一种跳转指令的处理方法及微控制器，该方法包括程序存储器存储跳转指令，若跳转指令为双字节跳转指令时包括第一指令字和第二指令字，第一指令字包括第一操作码和第一地址，第二指令字包括第二操作码和第二地址；控制器在当前周期开始运行将第一指令字写入第一指令寄存器时将第二指令字写入第二指令寄存器；控制器在确定第一指令字的第一操作码为双字节跳转指令操作码时将第一地址和第二地址写入程序计数器；并在下一周期根据程序计数器中的由第一地址和第二地址构成的第一目标地址，将程序存储器中的当前跳转指令跳转到第一目标地址对应的第一指令；并将第一指令写入第二指令寄存器，从而有效的提高了跳转指令的寻址能力和执行效率。