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公开(公告)号：CN109613606A
公开(公告)日：2019-04-12
申请号：CN201910071489.4
申请日：2019-01-25
Applicant: 上海理工大学
IPC: G01T5/00
Abstract: 本发明提供了一种目标粒子运动轨迹的X射线检测方法，用于对黑箱内目标粒子的运动轨迹进行检测，包括以下步骤：步骤1，对目标粒子进行特征描述和立体匹配；步骤2，开启第一X射线发生器和第二X射线发生器，发出的第一X射线与第二X射线穿透目标粒子和黑箱中的检测背景后衰减并投射到第一X射线接收器与第二X射线接收器；步骤3，第一X射线接收器和第二X射线接收器将接收到的衰减后的第一X射线和衰减后的第二X射线传输至计算机，该计算机对衰减后的第一X射线和衰减后的第二X射线进行数据综合处理，得到二值化图像；步骤4，计算机通过屏幕显示二值化图像，并对二值化图像进行数据综合处理后显示目标粒子的三维运动轨迹。
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