操作粒子束装置的方法、计算机程序产品和粒子束装置

    公开(公告)号:CN113253333B

    公开(公告)日:2025-01-28

    申请号:CN202110182741.6

    申请日:2021-02-07

    Abstract: 本发明涉及一种用于操作粒子束装置以对物体进行成像和/或分析的方法、一种计算机程序产品和一种用于执行该方法的粒子束装置。该粒子束装置例如被实施为电子束装置和/或离子束装置。该方法包括:生成粒子束;将该粒子束聚焦到该物体的扫描区域上,其中,该扫描区域被实施为第一区;使该粒子束在该物体上的扫描场之上扫描,其中,在扫描设备最大偏转的情况下,该扫描场被实施为第二区,其中,该扫描区域的第一区和该扫描场的第二区具有第一重叠区域,并且其中,该扫描场的第二区具有与该扫描区域的第一区不重叠的第二区域;以及利用仅由于源自该第一重叠区域的第一相互作用粒子和/或相互作用辐射而生成的检测信号生成图像和/或执行分析。

    一种面向加速器实验的低物质量分布式读出电路

    公开(公告)号:CN117826232B

    公开(公告)日:2024-06-14

    申请号:CN202410250896.2

    申请日:2024-03-06

    Applicant: 山东大学

    Abstract: 本发明公开了一种面向加速器实验的低物质量分布式读出电路,涉及加速器物理实验径迹探测领域,应用于硅径迹探测器,包括靠近硅径迹探测器的探测区域电路、远离硅径迹探测器的后端处理电路,所述探测区域电路、后端处理电路之间由线缆进行信号连接,所述探测区域电路用于接收待测硅径迹探测器的输出信号并进行初步处理,同时监测硅径迹探测器的工作温度;所述后端处理电路用于对接收到的探测信号进行模数转换,并将转换后的数据发送至计算机,同时为探测区域电路提供所需的控制信号、时钟信息、工作电压。本发明电路有效减少读出电路引入的额外物质量,提高探测效率,从而满足加速器实验的需求。

    一种探测方法及探测系统
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118112635A

    公开(公告)日:2024-05-31

    申请号:CN202311799473.8

    申请日:2023-12-25

    Abstract: 本申请涉及辐射探测技术领域,提供一种探测方法及探测系统,探测方法包括通过探测器获取粒子在探测器沿轴向的不同位置与位置因子的对应关系,其中,探测器响应于粒子产生信号并通过两个输出端输出,位置因子为两个输出端的信号的能量值之差与能量值之和两者的比值;通过探测器获取待测粒子的位置因子;根据待测粒子的位置因子和对应关系,获取待测粒子的位置。本申请实施例的探测方法,可以提高探测粒子的位置的精确性。

    一种利用单质子径迹成像的中子能谱测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN106707328B

    公开(公告)日:2023-12-15

    申请号:CN201710007693.0

    申请日:2017-01-05

    Abstract: 本发明具体涉及一种基于单质子径迹成像的中子能谱测量装置及方法。包括中子转换体、质子径迹发光室、成像系统和电源;中子转换体包括中子源、中子‑质子转换靶和光阑;质子径迹发光室包括腔室,设置在腔室外一端的质子入射密封窗口、设置在腔室内的圆筒形多丝结构、与腔室内部连通的充气系统和抽真空系统、设置在腔室外侧的光学窗口、以及与圆筒形多丝结构连接的电压源;圆筒形多丝结构由位于圆柱轴心的一根阳极丝和分布在阳极丝圆周的多根阴极丝组成;中子源出射中子束经过中子‑质子转换靶的转换变向后,穿过光阑和质子入射密封窗口进入腔室,成像系统由阳极丝所收集的电荷信号控制成像,电源与圆筒形多丝结构连接。

    一种图像型电子自旋分析器
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115480288A

    公开(公告)日:2022-12-16

    申请号:CN202110667256.8

    申请日:2021-06-16

    Inventor: 乔山

    Abstract: 本发明提供一种图像型电子自旋分析器,包括二维图像型电子探测器及电子光学系统,其中,电子光学系统包括铁磁性反射靶、入射电子透镜组及至少一反射电子透镜组。本发明利用铁磁性反射靶对具有不同自旋方向的电子的不同的反射率实现对电子自旋的测量,反射靶的镜面反射可以实现入射电子轨道和出射电子轨道的分离,从而避免电子光学系统及电子探测器的几何配置困难,并可使透镜系统采用较大的尺寸从而获得较小的像差,电子光学系统能够实现初始平面处电子图像到二维图像型电子探测器入口平面的点到点二维成像,从而实现对电子自旋的二维多通道测量。另外,相比现有图像型VLEED电子自旋分析器,本发明的图像型电子自旋分析器无需引入磁场,结构更简单。

    一种MV级电压峰值测量探头及其制作方法

    公开(公告)号:CN110988975B

    公开(公告)日:2021-12-24

    申请号:CN201911283215.8

    申请日:2019-12-13

    Abstract: 本发明属于高功率强流脉冲电子束与物质相互作用研究领域,涉及一种MV级电压峰值测量探头及其制作方法,能够进行MV级高电压测量,其解决了现有脉冲电压测量方法不适用数MV电压测量的问题。该MV级电压峰值测量探头包括探测元件、铝膜过滤器、载台和紧固套筒;所探测元件为探测阈能宽的固体核径迹探测元件;载台顶端设置有安装凸台,安装凸台的顶端设置有安装凹槽,探测元件设置在安装凹槽内;铝膜过滤器为板状结构,其设置在安装凸台的上方,将探测元件覆盖;紧固套筒套装在安装凸台上,并将铝膜过滤器压紧在安装凸台上。本发明MV级电压峰值测量探头具有很宽的电压峰值测量范围,能够实现数MV以上的电压峰值测量。

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