公开(公告)号：CN111007078A

公开(公告)日：2020-04-14

申请号：CN201911091011.4

申请日：2019-11-09

申请人： 上海精密计量测试研究所

发明人： 李娟 ,  李春 ,  朱敏尉 ,  刘楠 ,  张辉 ,  孔泽斌 ,  张超 ,  罗宇华 ,  祝伟明 ,  江芸 ,  楼建设

IPC分类号： G01N21/95 ,  G01N1/28 ,  G01B21/00 ,  G01B21/20 ,  G01R31/12

摘要： 本发明涉及片式钽电容器及其阴极二氧化锰层质量控制方法，包括对样品进行剖面制样，再对制样剖面镜检；剖面镜检中对阴极二氧化锰层质量进行检查，检查是否满足如下要求：阴极二氧化锰层内无尺寸大于钽芯短边1/4的局部分层或空洞；对于A壳或B壳尺寸产品，阴极二氧化锰层内尺寸小于钽芯短边1/4、大于钽芯短边1/6的局部分层或空洞的数量＜4，且不集中在一边；对于C壳及以上尺寸产品，阴极二氧化锰层内尺寸小于钽芯短边1/4、大于钽芯短边1/8的局部分层或空洞的数量＜4，且不集中在一边。本发明增加阴极二氧化锰层质量控制要求，避免存在类似“固有局部电应力集中”的片式钽电容器用于产品，保证产品装机后的可靠性。

公开(公告)号：CN111007078B

公开(公告)日：2022-06-24

申请号：CN201911091011.4

申请日：2019-11-09

申请人： 上海精密计量测试研究所

发明人： 李娟 ,  李春 ,  朱敏尉 ,  刘楠 ,  张辉 ,  孔泽斌 ,  张超 ,  罗宇华 ,  祝伟明 ,  江芸 ,  楼建设

IPC分类号： G01N21/95 ,  G01N1/28 ,  G01B21/00 ,  G01B21/20 ,  G01R31/12

摘要： 本发明涉及片式钽电容器及其阴极二氧化锰层质量控制方法，包括对样品进行剖面制样，再对制样剖面镜检；剖面镜检中对阴极二氧化锰层质量进行检查，检查是否满足如下要求：阴极二氧化锰层内无尺寸大于钽芯短边1/4的局部分层或空洞；对于A壳或B壳尺寸产品，阴极二氧化锰层内尺寸小于钽芯短边1/4、大于钽芯短边1/6的局部分层或空洞的数量＜4，且不集中在一边；对于C壳及以上尺寸产品，阴极二氧化锰层内尺寸小于钽芯短边1/4、大于钽芯短边1/8的局部分层或空洞的数量＜4，且不集中在一边。本发明增加阴极二氧化锰层质量控制要求，避免存在类似“固有局部电应力集中”的片式钽电容器用于产品，保证产品装机后的可靠性。