一种基于LSTM和NSGA-Ⅱ对PECVD镀膜工艺的多参数优化方法

    公开(公告)号:CN114525497A

    公开(公告)日:2022-05-24

    申请号:CN202210142193.9

    申请日:2022-02-16

    Applicant: 东北大学

    Abstract: 本发明公开一种基于LSTM和NSGA‑Ⅱ对PECVD镀膜工艺的多参数优化方法,方法首先选择PECVD镀膜工艺中的参数进行镀膜实验并对结果进行表征,收集数据构成数据集;然后对数据集进行预处理,并采用预处理后的数据LSTM神经网络进行训练及测试;接着基于训练好的LSTM神经网络,利用NSGA‑Ⅱ算法对工艺参数进行多目标优化;最后根据优化后的结果,按照生产需求选择合适的工艺参数作为最终优化结果。本发明降低了探索PECVD制备工艺中的时间成本、材料成本,较人工实验相比,更提高了探索制备工艺的精度,促进薄膜制备技术的改进与发展。

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