一种MEMS压力传感器及其制备方法

    公开(公告)号:CN114235233B

    公开(公告)日:2024-01-05

    申请号:CN202111541027.8

    申请日:2021-12-16

    Applicant: 东南大学

    Abstract: 本发明公开了一种MEMS压力传感器及其制备方法,主要包括体硅层、埋氧层、顶硅层、压敏电阻、重掺杂区、绝缘介质层、压焊块和钝化层;顶硅层中心位置设有大空腔,并在大空腔四边中心位置的上方设有小空腔;大空腔上方的顶硅层和绝缘介质层构成压力敏感薄膜;压力敏感薄膜上表面设置十字梁结构,在所述的十字梁结构四个端部设置有压敏电阻、重掺杂区和金属引线,各组压敏电阻通过重掺杂区与金属引线形成惠斯通电桥;所述的十字梁结构抑制了压力敏感薄膜的形变,进而提高了线性度;所述的小空腔结构提高了压敏电阻区域的应力集中,使得传感器在保持微型化的同时提高了灵敏度;此外该传感器制备方法与CMOS与MEMS工艺兼容,节约成本。

    一种MEMS压力传感器及其制备方法

    公开(公告)号:CN114235233A

    公开(公告)日:2022-03-25

    申请号:CN202111541027.8

    申请日:2021-12-16

    Applicant: 东南大学

    Abstract: 本发明公开了一种MEMS压力传感器及其制备方法,主要包括体硅层、埋氧层、顶硅层、压敏电阻、重掺杂区、绝缘介质层、压焊块和钝化层;顶硅层中心位置设有大空腔,并在大空腔四边中心位置的上方设有小空腔;大空腔上方的顶硅层和绝缘介质层构成压力敏感薄膜;压力敏感薄膜上表面设置十字梁结构,在所述的十字梁结构四个端部设置有压敏电阻、重掺杂区和金属引线,各组压敏电阻通过重掺杂区与金属引线形成惠斯通电桥;所述的十字梁结构抑制了压力敏感薄膜的形变,进而提高了线性度;所述的小空腔结构提高了压敏电阻区域的应力集中,使得传感器在保持微型化的同时提高了灵敏度;此外该传感器制备方法与CMOS与MEMS工艺兼容,节约成本。

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