一种DFN微型器件测试分选设备

    公开(公告)号:CN113333312A

    公开(公告)日:2021-09-03

    申请号:CN202110621284.6

    申请日:2021-06-03

    IPC分类号: B07C5/02 B07C5/34

    摘要: 本发明公开了一种DFN微型器件测试分选设备,具体包括底座和安装于底座的分度装置;底座上沿分度装置的旋转方向依次安装有上料装置、引脚位置检测装置、转向装置、测试装置、NG下料装置和封装装置;分度装置用于流转DFN微型器件;引脚位置检测装置包括引脚检测第一工位、引脚检测第二工位、引脚检测第三工位、传送组件、阻光带组件、透光带组件和感光组件。具体地,通过令DFN微型器件、阻光带、透光带相叠合,令阻光带上的不透光涂料粘在透光带上,而DFN微型器件表面上的前序加工时留下的文字刻痕则会使透光带上保留有对应的透光区域;最终通过判断透光带的透光区域位置,判断DFN微型器件的引脚分布,提高了检测精度,从而提高了检测效率。

    一种DFN微型器件编带包装系统

    公开(公告)号:CN113320732A

    公开(公告)日:2021-08-31

    申请号:CN202110626580.5

    申请日:2021-06-04

    IPC分类号: B65B15/04 B65B51/10

    摘要: 一种DFN微型器件编带包装系统,其特征在于,包括架体和安装于架体上的载带轨道组件;架体上沿载带轨道组件的载带输送方向依次设置有载带放料机构、载带驱动机构、上料输送机构、盖带放料机构、热压封装机构和下料机构;上料输送机构包括输送平台,输送平台包括第一平台和转动连接于第一平台上的第二平台;第二平台的顶面设置有容置槽和检测机构,容置槽用于容置DFN微型器件,检测机构用于检测容置槽内的DFN微型器件的方位。本装置能够检测DFN微型器件的方位,并根据方位来调整DFN微型器件的角度,使之与载带上载料位对齐,保证了DFN微型器件在封装时的方位统一,保证了封装的质量。

    一种双工位IC测试分选机
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113333310A

    公开(公告)日:2021-09-03

    申请号:CN202110619989.4

    申请日:2021-06-03

    IPC分类号: B07C5/02 B07C5/36

    摘要: 本发明提供的双工位I C测试分选机,在对I C芯片进行分选时,先通过引脚位置检测装置判断分度装置上夹取的两个I C芯片是否的引脚位置情况,当引脚位置检测装置判断两个I C芯片均引脚位置错位时,则通过转向电机驱动转向传动组件同时驱动两个转动台转动预设的角度,即转动台旋转180度令I C芯片旋转180度;当引脚位置检测装置判断其中一个I C芯片引脚位置错位时,则通过转向电机驱动转向传动组件同时驱动对应的转动台转动预设的角度,即转动台旋转180度令I C芯片旋转180度;至此,仅需要投入并控制一个转向电机便能实现对双I C芯片的转向,降低双工位I C测试分选机的控制成本与设备成本的同时实现了双I C芯片的分选,保证了分选效率,即兼顾了低成本与高效率。

    一种分立器件测试分选机

    公开(公告)号:CN113333311B

    公开(公告)日:2022-03-15

    申请号:CN202110621273.8

    申请日:2021-06-03

    摘要: 本发明公开了一种分立器件测试分选机,分立器件测试分选机首先通过上料装置将料管中的分立器件输向分度装置,随着分度装置的运行带动分立器件依次进行引脚位置检测、转向(当引脚位置错误时进行转向)、测试,接着,分度装置将合格的分立器件输送至下料装置进行装管;同时,在上料装置的料管卸料完毕后,料管输送装置将料管输送至下料装置,下料装置将合格的分立器件输入来自料管输送装置的料管完成装料;在这个过程中,仅需使用一组料管和初始装料的料管,降低了料管的备料成本,同时,换料时也仅需更换一组料管和初始装料的料管,提高了换料速度,即分立器件测试分选机具有物料成本低且生产效率高的优点。

    一种双工位IC测试分选机
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113333310B

    公开(公告)日:2022-02-18

    申请号:CN202110619989.4

    申请日:2021-06-03

    IPC分类号: B07C5/02 B07C5/36

    摘要: 本发明提供的双工位I C测试分选机,在对I C芯片进行分选时,先通过引脚位置检测装置判断分度装置上夹取的两个I C芯片是否的引脚位置情况,当引脚位置检测装置判断两个I C芯片均引脚位置错位时,则通过转向电机驱动转向传动组件同时驱动两个转动台转动预设的角度,即转动台旋转180度令I C芯片旋转180度;当引脚位置检测装置判断其中一个I C芯片引脚位置错位时,则通过转向电机驱动转向传动组件同时驱动对应的转动台转动预设的角度,即转动台旋转180度令I C芯片旋转180度;至此,仅需要投入并控制一个转向电机便能实现对双I C芯片的转向,降低双工位I C测试分选机的控制成本与设备成本的同时实现了双I C芯片的分选,保证了分选效率,即兼顾了低成本与高效率。

    一种DFN微型器件测试分选设备

    公开(公告)号:CN113333312B

    公开(公告)日:2022-02-11

    申请号:CN202110621284.6

    申请日:2021-06-03

    IPC分类号: B07C5/02 B07C5/34

    摘要: 本发明公开了一种DFN微型器件测试分选设备,具体包括底座和安装于底座的分度装置;底座上沿分度装置的旋转方向依次安装有上料装置、引脚位置检测装置、转向装置、测试装置、NG下料装置和封装装置;分度装置用于流转DFN微型器件;引脚位置检测装置包括引脚检测第一工位、引脚检测第二工位、引脚检测第三工位、传送组件、阻光带组件、透光带组件和感光组件。具体地,通过令DFN微型器件、阻光带、透光带相叠合,令阻光带上的不透光涂料粘在透光带上,而DFN微型器件表面上的前序加工时留下的文字刻痕则会使透光带上保留有对应的透光区域;最终通过判断透光带的透光区域位置,判断DFN微型器件的引脚分布,提高了检测精度,从而提高了检测效率。

    一种分立器件测试分选机

    公开(公告)号:CN113333311A

    公开(公告)日:2021-09-03

    申请号:CN202110621273.8

    申请日:2021-06-03

    摘要: 本发明公开了一种分立器件测试分选机,分立器件测试分选机首先通过上料装置将料管中的分立器件输向分度装置,随着分度装置的运行带动分立器件依次进行引脚位置检测、转向(当引脚位置错误时进行转向)、测试,接着,分度装置将合格的分立器件输送至下料装置进行装管;同时,在上料装置的料管卸料完毕后,料管输送装置将料管输送至下料装置,下料装置将合格的分立器件输入来自料管输送装置的料管完成装料;在这个过程中,仅需使用一组料管和初始装料的料管,降低了料管的备料成本,同时,换料时也仅需更换一组料管和初始装料的料管,提高了换料速度,即分立器件测试分选机具有物料成本低且生产效率高的优点。

    IC固晶机摆臂吸晶系统和晶圆搬运装置

    公开(公告)号:CN216354135U

    公开(公告)日:2022-04-19

    申请号:CN202123053995.2

    申请日:2021-12-07

    IPC分类号: H01L21/683 H01L21/677

    摘要: 本实用新型提供一种IC固晶机摆臂吸晶系统和晶圆搬运装置,基座和设置在基座上的摆臂和DD马达电机模组,摆臂包括第一摆臂和第二摆臂,第一摆臂和第二摆臂的前端分别设置有第一吸嘴和第二吸嘴,DD马达电机模组包括旋转模组和摆臂模组,摆臂模组包括第一摆臂模组和第二摆臂模组,第一摆臂模组由第一音圈电机驱动第一摆臂上下移动,第二摆臂模组第二音圈电机驱动第二摆臂上下移动。本实用新型提供的IC固晶机摆臂吸晶系统和晶圆搬运装置,通过第一摆臂和第二摆臂的双摆臂实现两个摆臂由两个独立的音圈电机驱动,独立下压吸嘴吸附晶圆操作,并通过DD马达电机模组实现两组吸晶摆臂交替式换位,交替吸晶,吸晶与固晶同时进行作业,提高工作效率。