布帛状传感器以及布帛状传感器设备

    公开(公告)号:CN116685836A

    公开(公告)日:2023-09-01

    申请号:CN202280009241.5

    申请日:2022-02-02

    Abstract: 本发明提供布帛状传感器以及使用其的布帛状传感器设备,能够提高使用时的输出信号,此外也不易产生传感器元件的损伤、断裂。在具有布帛基材(1)和线状传感器元件(2)的布帛状传感器(S)中,在所述布帛基材(1),在内部至少设置一个线状的空洞部(11),并且,由在所述空洞部(11)的线方向不具有伸缩性的布料构成所述空洞部(11)的至少一部分,进而,在至少一个所述空洞部(11)内,以未实质约束或者固定于布帛基材(1)的状态配置所述线状传感器元件(2)。

    压电元件
    3.
    发明公开
    压电元件 审中-实审

    公开(公告)号:CN112655100A

    公开(公告)日:2021-04-13

    申请号:CN201980058204.1

    申请日:2019-08-01

    Abstract: 本发明的目的在于提供具有整体呈细长的线状的形态的压电元件,其是柔软性和耐弯曲性优异的新的压电元件。该压电元件包括:在树脂线螺旋状地卷绕至少1层金属箔而得到的芯线;包覆所述芯线的有机压电体层;和包覆所述有机压电体层的导电体层,所述金属箔和所述导电体层作为在它们之间插入了所述有机压电体层的电极分别发挥作用,在所述树脂线螺旋状地间隙卷绕所述至少1层所述金属箔,间隙相对于所述金属箔的螺旋节距的比例为0.4~50%。

    极化树脂膜及其制造方法

    公开(公告)号:CN104884942A

    公开(公告)日:2015-09-02

    申请号:CN201380068407.1

    申请日:2013-12-27

    Abstract: 本发明提供一种极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜,其极大地降低了用作光学膜时的、由显示元件产生的影像或图像的质量的劣化。本发明提供一种极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜,其通过后述的缺陷测定方法测得的点状缺陷的数量为2,000个/m2以下。<缺陷测定方法>使用外观检查机,按照能够以相对于LED光源为45度的角度检测缺陷的方式设置CCD摄像机,一边在其下方以20m/分钟的速度进行扫描,一边在宽度方向(相对于扫描的行进方向成直角的方向)300mm、流动方向(扫描的行进方向)150mm的长方形的范围内读取膜的缺陷。就缺陷而言,首先选定明面积为1.5mm2以下且暗面积为1.4mm2以下的缺陷。接着,为除去这些缺陷中所含的、除电晕处理以外的原因的缺陷,以具有沿着扫描的行进方向的2边的方式设定缺陷的外接矩形,仅将外接宽度为2.88mm以下、外接长度为2.3mm以下、纵横比率为-3.9~+2.7、外接矩形中的占有面积比率为4,000~6,950、且面积比率为-3,100~+5,200的缺陷作为点状缺陷,利用外观检查机自动地对其个数进行计数。

    极化树脂膜及其制造方法

    公开(公告)号:CN104884942B

    公开(公告)日:2019-02-19

    申请号:CN201380068407.1

    申请日:2013-12-27

    Abstract: 本发明提供一种极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜,其极大地降低了用作光学膜时的、由显示元件产生的影像或图像的质量的劣化。本发明提供一种极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜,其通过后述的缺陷测定方法测得的点状缺陷的数量为2,000个/m2以下。<缺陷测定方法>使用外观检查机,按照能够以相对于LED光源为45度的角度检测缺陷的方式设置CCD摄像机,一边在其下方以20m/分钟的速度进行扫描,一边在宽度方向(相对于扫描的行进方向成直角的方向)300mm、流动方向(扫描的行进方向)150mm的长方形的范围内读取膜的缺陷。就缺陷而言,首先选定明面积为1.5mm2以下且暗面积为1.4mm2以下的缺陷。接着,为除去这些缺陷中所含的、除电晕处理以外的原因的缺陷,以具有沿着扫描的行进方向的2边的方式设定缺陷的外接矩形,仅将外接宽度为2.88mm以下、外接长度为2.3mm以下、纵横比率为-3.9~+2.7、外接矩形中的占有面积比率为4,000~6,950、且面积比率为‑3,100~+5,200的缺陷作为点状缺陷,利用外观检查机自动地对其个数进行计数。

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