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公开(公告)号:CN112082490A
公开(公告)日:2020-12-15
申请号:CN202011129953.X
申请日:2020-10-21
Applicant: 中北大学南通智能光机电研究院 , 中北大学
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明属于位移传感器技术领域,具体涉及一种基于Talbot像和COMS相机结构的位移传感器,包括光源、凸透镜、光栅、COMS相机,所述光源设置在凸透镜的焦点处,所述光源发出的散射光通过凸透镜后成为平行光束,所述平行光束的光路方向上设置有光栅,所述平行光束经光栅发生衍射干涉,所述平行光束在光栅后形成Talbot像,所述COMS相机设置在任一级的Talbot像上;本发明通过光学设计使光源位移与Talbot像周期相结合,通过COMS相机对Talbot像周期进行测量进而实现对光源位移的测量,实现位移信号输出,仅使用光源、凸透镜、光栅、COMS相机器件,结构较为简单;同时,通过对Talbot像周期的测量也可实现对光源的准直,进而提高定位精度。本发明用于光微位移的测量。
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公开(公告)号:CN112082490B
公开(公告)日:2022-02-08
申请号:CN202011129953.X
申请日:2020-10-21
Applicant: 中北大学南通智能光机电研究院 , 中北大学
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明属于位移传感器技术领域,具体涉及一种基于Talbot像和COMS相机结构的位移传感器,包括光源、凸透镜、光栅、COMS相机,所述光源设置在凸透镜的焦点处,所述光源发出的散射光通过凸透镜后成为平行光束,所述平行光束的光路方向上设置有光栅,所述平行光束经光栅发生衍射干涉,所述平行光束在光栅后形成Talbot像,所述COMS相机设置在任一级的Talbot像上;本发明通过光学设计使光源位移与Talbot像周期相结合,通过COMS相机对Talbot像周期进行测量进而实现对光源位移的测量,实现位移信号输出,仅使用光源、凸透镜、光栅、COMS相机器件,结构较为简单;同时,通过对Talbot像周期的测量也可实现对光源的准直,进而提高定位精度。本发明用于光微位移的测量。
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公开(公告)号:CN111536883A
公开(公告)日:2020-08-14
申请号:CN202010523030.6
申请日:2020-06-10
Applicant: 中北大学
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明属于微位移传感器技术领域,具体涉及一种基于复合式光栅的微位移传感器,所述激光器的下方设置有分束光栅,所述分束光栅的正一级衍射光路和负一级衍射光路上分别设置有第一反射镜、第二反射镜,所述第二反射镜的反射光路上设置有第三反射镜,所述第三反射镜的反射光路上设置有分束镜,所述分束镜的透射光路上设置有位移反射镜,所述干涉仪探测器设置在分束镜的一侧,所述第一反射镜的反射光路上设置有上层光栅,所述第一下层光栅的下方设置有第一探测器,所述第二下层光栅的下方设置有第二探测器。本发明在Talbot像离面方向上光强呈正弦变化的原理实现了位移测量。本发明用于微位移的测量。
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公开(公告)号:CN113819847B
公开(公告)日:2023-12-12
申请号:CN202111115058.7
申请日:2021-09-23
Applicant: 中北大学
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明属于三维微位移传感器技术领域,具体涉及一种基于位错二维光栅阵列的双光栅结构三维微位移传感器,包括激光器、准直扩束镜、上层二维光栅、下层位错式光栅、四象限探测器,所述激光器的上方设置有准直扩束镜,所述准直扩束镜上设置有上层二维光栅,所述上层二维光栅上设置有下层位错式光栅,所述下层位错式光栅上设置有四象限探测器。本发明通过采用双层光栅结构,利用二维光栅在近场区域内的自成像效应,实现了透过光强随位移变化,并由四象限探测器实现光电转化,再通过整体结构输出的经细化后的电学信号进行精准三维位移测量,提高了整体结构的精度。同时,利用四象限结构实现了整体系统的高度集成化。
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公开(公告)号:CN110940327A
公开(公告)日:2020-03-31
申请号:CN201911273585.3
申请日:2019-12-12
Applicant: 中北大学
IPC: G01C19/56
Abstract: 本发明属于微陀螺技术领域,具体涉及一种基于离面运动的单光栅微陀螺结构,包括方形外壳,所述方形外壳的底部设置有磁铁,所述方形外壳的内部设置有质量块,所述质量块设置在磁铁的正上方,所述质量块的一侧布置有电磁驱动导线,所述质量块的另一侧布置有驱动反馈导线,所述质量块的顶部固定有反光镜,所述方形外壳的顶部设置有光栅,所述光栅的正上方设置有光纤准直器,所述光纤准直器的正上方设置有光纤环形器,所述光纤环形器的一侧设置有激光器,所述光纤环形器的另一侧设置有探测器。本发明能够提高其检测灵敏度和分辨率,并有利于微陀螺的微型化。本发明用于微陀螺角速度的测量。
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公开(公告)号:CN113819847A
公开(公告)日:2021-12-21
申请号:CN202111115058.7
申请日:2021-09-23
Applicant: 中北大学
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明属于三维微位移传感器技术领域,具体涉及一种基于位错二维光栅阵列的双光栅结构三维微位移传感器,包括激光器、准直扩束镜、上层二维光栅、下层位错式光栅、四象限探测器,所述激光器的上方设置有准直扩束镜,所述准直扩束镜上设置有上层二维光栅,所述上层二维光栅上设置有下层位错式光栅,所述下层位错式光栅上设置有四象限探测器。本发明通过采用双层光栅结构,利用二维光栅在近场区域内的自成像效应,实现了透过光强随位移变化,并由四象限探测器实现光电转化,再通过整体结构输出的经细化后的电学信号进行精准三维位移测量,提高了整体结构的精度。同时,利用四象限结构实现了整体系统的高度集成化。
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公开(公告)号:CN111536883B
公开(公告)日:2021-07-23
申请号:CN202010523030.6
申请日:2020-06-10
Applicant: 中北大学
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明属于微位移传感器技术领域,具体涉及一种基于复合式光栅的微位移传感器,所述激光器的下方设置有分束光栅,所述分束光栅的正一级衍射光路和负一级衍射光路上分别设置有第一反射镜、第二反射镜,所述第二反射镜的反射光路上设置有第三反射镜,所述第三反射镜的反射光路上设置有分束镜,所述分束镜的透射光路上设置有位移反射镜,所述干涉仪探测器设置在分束镜的一侧,所述第一反射镜的反射光路上设置有上层光栅,所述第一下层光栅的下方设置有第一探测器,所述第二下层光栅的下方设置有第二探测器。本发明在Talbot像离面方向上光强呈正弦变化的原理实现了位移测量。本发明用于微位移的测量。
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公开(公告)号:CN111207674A
公开(公告)日:2020-05-29
申请号:CN202010050880.9
申请日:2020-01-17
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明属于位移传感器技术领域,具体涉及一种基于单层光栅多次衍射的位移传感器,激光器的直射光路上依次设置有偏振片和分光镜,第一反射镜、第二反射镜分别设置在分光镜的两侧,分光镜的与第一反射镜之间设置有半波片,两路光束分别经过第一反射镜、第二反射镜反射后垂直射入光栅上,光栅的一侧设置有两个第三反射镜,两路光束经光栅和两个第三反射镜多次衍射后通过四分之一波片射入偏振分光棱镜,第一探测器和第二探测器分别设置在偏振分光棱镜的分光方向上。本发明通过多次衍射的方法提高了位移测量灵敏度,且本发明通过优化光栅参数提高了光栅一级光衍射效率,实现了高对比度的信号输出。本发明用于位移的测量。
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公开(公告)号:CN110940830B
公开(公告)日:2021-12-07
申请号:CN201911273080.7
申请日:2019-12-12
Applicant: 中北大学
IPC: G01P15/03
Abstract: 本发明属于加速度计技术领域,具体涉及一种基于二维光栅和四象限探测器的两轴加速度计结构,包括上层结构、中层结构和下层结构,中层结构设置在上层结构与下层结构之间,上层结构的中部设置有二维光栅,中层结构的上设置有质量块,质量块上固定有玻璃基底,玻璃基底上固定有一维光栅,下层结构的中部设置有四象限探测器,二维光栅的顶部设置有激光器。本发明通过一层二维光栅和四象限的一维光栅实现的双轴加速度测量,较传统加速度计,提高了检测量程,同时,利用相错四分之一光栅周期的一维光栅实现两个相位差90°的A、B相信号,从而实现进一步的电学细分,提高了加速度计的灵敏度。本发明用于载体加速度的测量。
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公开(公告)号:CN111207674B
公开(公告)日:2021-08-24
申请号:CN202010050880.9
申请日:2020-01-17
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明属于位移传感器技术领域,具体涉及一种基于单层光栅多次衍射的位移传感器,激光器的直射光路上依次设置有偏振片和分光镜,第一反射镜、第二反射镜分别设置在分光镜的两侧,分光镜的与第一反射镜之间设置有半波片,两路光束分别经过第一反射镜、第二反射镜反射后垂直射入光栅上,光栅的一侧设置有两个第三反射镜,两路光束经光栅和两个第三反射镜多次衍射后通过四分之一波片射入偏振分光棱镜,第一探测器和第二探测器分别设置在偏振分光棱镜的分光方向上。本发明通过多次衍射的方法提高了位移测量灵敏度,且本发明通过优化光栅参数提高了光栅一级光衍射效率,实现了高对比度的信号输出。本发明用于位移的测量。
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