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公开(公告)号：CN113917205B
公开(公告)日：2024-01-19
申请号：CN202010652078.7
申请日：2020-07-08
申请人： 台湾中华精测科技股份有限公司
IPC分类号： G01R1/073
摘要： 本发明公开一种探针卡装置及其扇出式探针，扇出式探针包含有一行程段、一扇出段及一测试段。行程段呈直线状且定义有一长度方向，并且所述行程段包含有两个末端部。所述行程段能通过两个所述末端部分别沿彼此相反的方向受力而弯曲。所述扇出段与所述测试段分别相连于所述行程段的两个所述末端部，并且所述扇出段具有远离所述行程段的一转接点，而所述测试段具有远离所述行程段的一顶抵点。其中，所述转接点在垂直所述长度方向的一扇出方向上，是与所述顶抵点相隔有一扇出距离。据此，所述探针卡装置通过所述扇出式探针的构造设计，以使得多个所述扇出式探针的所述转接点之间的距离能够被拉开，进而有效地改善所述探针卡装置的生产成本与效率。
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公开(公告)号：CN113625019B
公开(公告)日：2023-12-05
申请号：CN202010383166.1
申请日：2020-05-08
申请人： 台湾中华精测科技股份有限公司
IPC分类号： G01R1/073
摘要： 本发明公开一种垂直式测试装置及其片状探针，所述片状探针包括一片本体、一第一接触部、一行程部及一第二接触部。所述片本体在一长度方向上具有一长度，所述片本体在垂直所述长度方向的一厚度方向上具有一厚度，并且所述长度除以所述厚度的一比值介于25～85。所述第一接触部自所述片本体的顶缘延伸所形成。所述行程部自所述片本体的底缘朝远离所述片本体的方向弯曲地延伸所形成，所述行程部能够受力变形而续有一回弹力。所述第二接触部自远离所述片本体的所述行程部端缘延伸所形成。据此，通过片本体来定位于第一导板单元，而行程段无需通过错位即可提供片状探针检测受力所需的行程，进而利于垂直式测试装置进行片状探针的植针与维护更换。
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公开(公告)号：CN113219221B
公开(公告)日：2023-08-01
申请号：CN202010070715.X
申请日：2020-01-21
申请人： 台湾中华精测科技股份有限公司
摘要： 本发明公开一种探针卡装置及其类颈式探针，所述类颈式探针呈长形且包含导电针体与环状绝缘体。导电针体包含行程段及分别自行程段的两端延伸的两个末端段。行程段包含两个宽侧面及两个窄侧面、且于每个宽侧面凹设形成有自两个窄侧面的其中之一延伸至其中另一的长沟槽。两个长沟槽相邻设置且相隔有最小距离，其为两个宽侧面之间的最大距离的95％～75％。环状绝缘体包围于导电针体形成有两个长沟槽的部位，类颈式探针在设置于两个长沟槽的环状绝缘体的部位具有一厚度，其为最大距离的85％～115％。据此，所述导电针体通过形成有两个所述长沟槽，以有效地控制其下压力量，进而令所述导电针体可以稳定地顶抵且不破坏上述待测物。
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公开(公告)号：CN111721976B
公开(公告)日：2023-04-28
申请号：CN201910204159.8
申请日：2019-03-18
申请人： 台湾中华精测科技股份有限公司
摘要： 本发明公开一种探针卡装置及其导电探针，所述导电探针包含有金属针体、外电极及介电层。金属针体包含中间段、分别自所述中间段的相反两端延伸所形成的第一连接段与第二连接段、自所述第一连接段朝远离所述中间段方向延伸所形成的第一接触段及自所述第二连接段朝远离所述中间段方向延伸所形成的第二接触段。外电极至少局部于位置上对应于所述中间段并邻近第一连接段。介电层夹持于金属针体与外电极之间，并且所述金属针体与外电极被介电层所完全隔开，以使外电极能与位置上相对应的介电层部位与金属针体部位共同形成有一电容效应。据此，在导电探针进行高速信号测试时，能够于接收信号后就立即耦合电容，以能够提升供电网络的效能。
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公开(公告)号：CN111474391B
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN201910063492.1
申请日：2019-01-23
申请人： 台湾中华精测科技股份有限公司
摘要： 本发明公开一种高速探针卡装置及其矩形探针，矩形探针定义有长度方向且外表面包含平行长度方向的两宽侧面与两窄侧面。矩形探针包含中间段、相连于中间段两端第一连接段与第二连接段、分别相连于第一连接段与第二连接段的第一接触段与第二接触段及行程结构。行程结构形成于中间段、第一接触段及第二接触段的至少其一，并包含：纵向穿孔及两横向沟槽。纵向穿孔贯穿两宽侧面且平行于长度方向。两横向沟槽分别凹设于两宽侧面、并自纵向穿孔分别延伸至两窄侧面。两横向沟槽能分别朝彼此远离的方向移动，以缩短矩形探针的长度并续有回弹力。
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公开(公告)号：CN110927416B
公开(公告)日：2022-01-28
申请号：CN201811093677.9
申请日：2018-09-19
申请人： 台湾中华精测科技股份有限公司
IPC分类号： G01R1/073
摘要： 本发明公开一种探针卡测试装置及测试装置，所述探针卡测试装置包含测试电路板、信号传输板、电连接模块、及探针头。测试电路板包含间隔设置的多个金属垫，信号传输板于底面设置有多个连接垫。电连接模块包含形成多个穿孔的间隔板及定位于间隔板的多个弹性臂。间隔板夹持于测试电路板与信号传输板之间，并且多个金属垫分别通过多个穿孔而面向多个连接垫。每个弹性臂的局部位于一个穿孔内、受到一个所述金属垫与相对应所述连接垫可分离地压迫而弹性地变形，以构成一电传输路径。探针头设置于信号传输板的顶面。据此，探针卡测试装置及测试装置无需使用焊接方式，以有效地避免受到热冲击而损伤。
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公开(公告)号：CN113945741A
公开(公告)日：2022-01-18
申请号：CN202010679905.1
申请日：2020-07-15
申请人： 中华精测科技股份有限公司
摘要： 本发明公开一种探针卡装置及其栅栏状探针，所述栅栏状探针包含一行程段、一扇出段及一测试段。所述行程段呈长形且定义有一长度方向，并且所述行程段包含有两个末端部。所述行程段形成有沿着垂直所述长度方向的一扇出方向排列的多个贯穿槽，以使所述行程段能受力变形而蓄有一回弹力。所述扇出段与所述测试段分别相连于所述行程段的两个所述末端部，并且所述扇出段具有远离所述行程段的一转接点，而所述测试段具有远离所述行程段的一顶抵点。其中，所述转接点在所述扇出方向上，是与所述顶抵点相隔有一扇出距离。据此，每个所述栅栏状探针通过构造设计，以使得所述转接点之间的距离能够被拉开，进而有效地改善所述探针卡装置的生产成本与效率。
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公开(公告)号：CN109148357B
公开(公告)日：2021-12-17
申请号：CN201710546928.3
申请日：2017-07-06
申请人： 台湾中华精测科技股份有限公司
IPC分类号： H01L21/768 , H01L23/522 , H01L23/528
摘要： 本发明公开一种测试接口板组件及其制造方法。测试接口板组件包括一介电层、一第一线路层、一扩增层、一导电结构及一第二线路层。介电层具有一第一表面及一相对于第一表面的第二表面。第一线路层嵌设于介电层之中，第一线路层具有一裸露表面，第一线路层的裸露表面低于或齐平于介电层的第一表面。扩增层设置于介电层的第二表面。导电结构设置于介电层与扩增层之间，且导电结构电性连接于第一线路层。第二线路层通过导电结构而电性连接于第一线路层。借此，本发明达到了提升可靠度及电连接品质的效果。
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公开(公告)号：CN110716071B
公开(公告)日：2021-09-24
申请号：CN201810770566.0
申请日：2018-07-13
申请人： 中华精测科技股份有限公司
IPC分类号： G01R1/067
摘要： 本发明公开一种高频探针卡装置及其压接模块与支撑件，上述支撑件包含一定位结构及可移动地配置于所述定位结构的一行程结构。所述行程结构能以整体相对于所述定位结构移动，并且所述行程结构包含有一支架及多个导电弹性件。支架内部形成有贯穿状的多个定位槽孔，并且所述支架可移动地配置于所述定位结构，而远离所述定位结构的所述支架表面定义为一承载面。多个导电弹性件分别设置于多个定位槽孔，并且每个导电弹性件具有位于相反侧的一第一端与一第二端。每个导电弹性件的第一端对应于承载面，而每个导电弹性件的第二端穿出支架。据此，所述行程结构可整体相对于上述定位结构移动，使得多个检测凸块的位移行程相同，进而具有较为精准的检测结果。
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公开(公告)号：CN112444716A
公开(公告)日：2021-03-05
申请号：CN201910806661.6
申请日：2019-08-29
申请人： 中华精测科技股份有限公司
摘要： 本发明公开一种高频测试装置及其信号传输模块，所述信号传输模块包含有一间距转换板及一设置于所述间距转换板上的电连接器。所述间距转换板包含有一顶面、位于所述间距转换板内的一内接地线路及位于所述顶面的一高频传输线路；其中，所述间距转换板于所述顶面的部位凹设形成有一凹槽，且所述内接地线路的一连接部自所述凹槽裸露于外。所述电连接器包含有一金属壳及位于所述金属壳内的一导电端子。其中，所述电连接器设置于所述凹槽内，所述金属壳焊接于所述内接地线路的所述连接部，而所述导电端子焊接于所述高频传输线路。
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