一种IEEE1588对时装置及方法
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118432755A

    公开(公告)日:2024-08-02

    申请号:CN202410529540.2

    申请日:2024-04-29

    Abstract: 本发明提供了一种IEEE1588对时装置及方法,属于电子电路技术领域,其装置包括:卫星模块、ARM芯片、FPGA芯片以及PHY芯片;所述卫星模块用于接收并解析卫星时钟信号,生成标准时间信号和标准1PPS信号;所述ARM芯片用于接收所述标准时间信号,并对标准时间信号进行解析,生成解析信号;所述FPGA芯片用于接收所述标准1PPS信号和所述解析信号,基于所述解析信号对所述标准1PPS信号进行修正,生成第一对时报文;所述PHY芯片用于接收并转发所述第一对时报文。本发明设置FPGA芯片接收标准1PPS信号,实现了MAC层标记时间戳,提高了对时精度,且无需设置专用的PHY芯片,降低了对时成本。

    一种IGBT最小死区时间的试验确定方法

    公开(公告)号:CN113937996B

    公开(公告)日:2023-06-09

    申请号:CN202111207972.4

    申请日:2021-10-18

    Abstract: 本发明提出一种IGBT最小死区时间的试验确定方法,包括:在空载情况下给上IGBT和下IGBT施加控制信号,将两控制信号的死区时间逐渐减小,直至出现直通电流,此时的两控制信号的死区时间即为空载下的最小死区时间T死区‑空载;在带载运行工况下,按照所需负载,给被试单元的上IGBT T1、下IGBT T2,陪试单元的上IGBT T3、下IGBT T4施加控制信号,逐渐减小死区时间,直至出现上IGBT T1的电流IT1、下IGBT T2的电流IT2都有异常的直通电流,记录此时两控制信号的死区时间为T死区‑带载;考虑安全裕量,计算实际使用死区时间:T死区=A*Max(T死区‑空载,T死区‑带载);利用直接试验的手段测试出最小死区时间,进而设置最合理的死区时间,以解决上述背景技术中存在的问题。

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