一种测量方法以及装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117537735A

    公开(公告)日:2024-02-09

    申请号:CN202311367052.8

    申请日:2023-10-20

    摘要: 本发明公开了一种测量方法以及装置,测量方法在计算设备中执行,该方法包括:获取测量对象的全景图,其中,所述全景图由多个拍摄图拼接而成,任一所述拍摄图与拍摄的测量对象的实体部分成比例关系;基于测量类型,从所述全景图中标记采集点位;根据所述比例关系,将各采集点位映射至所述测量对象的实体上,并通过激光扫描所述实体获取对应点数据;利用所述点数据,获取测量结果。

    一种测量方法以及装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN117537735B

    公开(公告)日:2024-04-30

    申请号:CN202311367052.8

    申请日:2023-10-20

    摘要: 本发明公开了一种测量方法以及装置,测量方法在计算设备中执行,该方法包括:获取测量对象的全景图,其中,所述全景图由多个拍摄图拼接而成,任一所述拍摄图与拍摄的测量对象的实体部分成比例关系;基于测量类型,从所述全景图中标记采集点位;根据所述比例关系,将各采集点位映射至所述测量对象的实体上,并通过激光扫描所述实体获取对应点数据;利用所述点数据,获取测量结果。