一种基于三维可移动光路的偏振分辨荧光测试系统

    公开(公告)号:CN114674795A

    公开(公告)日:2022-06-28

    申请号:CN202210295830.6

    申请日:2022-03-23

    IPC分类号: G01N21/64

    摘要: 本发明公开了一种基于三维可移动光路的偏振分辨荧光测试系统,包括激光产生组件,用于产生激发光;激光偏振调节组件,用于调节所述激发光的偏振状态;滤光片,用于反射所述激发光并透射经样品出射的荧光;三维独立光路位移组件,用于三维调整光路以聚焦光斑在所述样品表面进行x、y、z三轴的独立移动;显微镜系统,用于对所述样品表面形貌、激发光和荧光进行照明和显微成像;荧光偏振调节组件,用于调整荧光的偏振状态;以及光谱探测模块,用于探测所述荧光的光谱和寿命。本发明具有样品不动而光路动的特点,可与市面上大部分不可位移的低温恒温器兼容,同时采用偏振可调元器件和小角度入射的方式,实现任意圆偏振或线偏振荧光探测。

    一种高时空分辨的磁光偏振成像测量系统

    公开(公告)号:CN115839929A

    公开(公告)日:2023-03-24

    申请号:CN202211355218.X

    申请日:2022-11-01

    IPC分类号: G01N21/39 G01N21/01

    摘要: 本发明公开了一种高时空分辨的磁光偏振成像测量系统,包括飞秒脉冲激光源、第一分束器、第二分束器、泵浦光路组件、探测光路组件、第三分束器、第一合束器、第二合束器、微区样品成像模块、信号探测模块和计算机;所述计算机与飞秒脉冲激光源、泵浦光路组件、探测光路组件、微区样品成像模块、信号探测模块连接,用于光源的输出和参数控制、成像及光路调试、仪器的自动化控制与测试、信号处理功能。本发明具有超高时间分辨、高空间分辨、无需制样、非接触式测量等优势。

    一种高灵敏度和高信噪比的瞬态吸收光谱测量系统

    公开(公告)号:CN115684079A

    公开(公告)日:2023-02-03

    申请号:CN202211355034.3

    申请日:2022-11-01

    摘要: 本发明公开了一种高灵敏度和高信噪比的瞬态吸收光谱测量系统,包括飞秒激光源、泵浦光参量放大器、超低频斩波器、超连续谱白光产生装置、光路调节组件、显微测试和成像模块、功率监测模块、光谱仪和计算机;飞秒激光源用于产生参量恒定的飞秒激光脉冲序列,经过第一分束器后分为泵浦光路和探测光路;泵浦光参量放大器用于产生具有特定参量的飞秒激光,超低频斩波器用于泵浦光在光路中的周期性开关;超连续谱白光产生装置用于将探测光转变为具有从可见到近红外宽谱特性的激光;光路调节组件用于调整引导激光在光路中的行进路线,并完成对激光的分束与合束操作等。本发明具有高灵敏度和高信噪比、宽光谱、结构紧凑、微区成像等优点。

    一种高灵敏度和高信噪比的瞬态吸收光谱测量系统

    公开(公告)号:CN218823919U

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202222894807.7

    申请日:2022-11-01

    摘要: 本实用新型公开了一种高灵敏度和高信噪比的瞬态吸收光谱测量系统,包括飞秒激光源、泵浦光参量放大器、超低频斩波器、超连续谱白光产生装置、光路调节组件、显微测试和成像模块、功率监测模块、光谱仪和计算机;飞秒激光源用于产生参量恒定的飞秒激光脉冲序列,经过第一分束器后分为泵浦光路和探测光路;泵浦光参量放大器用于产生具有特定参量的飞秒激光,超低频斩波器用于泵浦光在光路中的周期性开关;超连续谱白光产生装置用于将探测光转变为具有从可见到近红外宽谱特性的激光;光路调节组件用于调整引导激光在光路中的行进路线,并完成对激光的分束与合束操作等。本实用新型具有高灵敏度和高信噪比、宽光谱、结构紧凑、微区成像等优点。

    一种高时空分辨的磁光偏振成像测量系统

    公开(公告)号:CN218823920U

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202222895100.8

    申请日:2022-11-01

    IPC分类号: G01N21/39 G01N21/01

    摘要: 本实用新型公开了一种高时空分辨的磁光偏振成像测量系统,包括飞秒脉冲激光源、第一分束器、第二分束器、泵浦光路组件、探测光路组件、第三分束器、第一合束器、第二合束器、微区样品成像模块、信号探测模块和计算机;所述计算机与飞秒脉冲激光源、泵浦光路组件、探测光路组件、微区样品成像模块、信号探测模块连接,用于光源的输出和参数控制、成像及光路调试、仪器的自动化控制与测试、信号处理功能。本实用新型具有超高时间分辨、高空间分辨、无需制样、非接触式测量等优势。