一种量子密钥分发光源端泄露信息检测的方法

    公开(公告)号:CN115276970A

    公开(公告)日:2022-11-01

    申请号:CN202210821354.7

    申请日:2022-07-13

    Abstract: 本发明公开一种量子密钥分发光源端泄露信息检测的方法,包括:构建强度/相位调制器相位泄露信息安全检测装置以对量子密钥分发光源端的相位泄露信息进行检测,得到相位泄露信息量;构建强度/相位调制器强度泄露信息安全检测装置以对量子密钥分发光源端的强度泄露信息进行检测,得到强度泄露信息量;基于相位泄露信息量及强度泄露信息量,利用Azuma不等式,估计出和基于和得到安全码率。本发明可以对实际量子密钥分发系统光源端的实时检测,评估出其光电器件的信息泄漏量,从而实时改进其有限码长下的安全码率,保证最终密钥的安全性。

Patent Agency Ranking