一种单光子探测器探测效率失配度的检测装置及方法

    公开(公告)号:CN108667527B

    公开(公告)日:2019-11-22

    申请号:CN201810320198.X

    申请日:2018-04-11

    Abstract: 本发明提供一种单光子探测器探测效率失配度的检测装置及方法。该装置包括:第一激光器、第二激光器、第一光衰减器、第二光衰减器、第三光衰减器、保偏偏振合束器以及光纤,第一激光器、第一光衰减器、保偏偏振合束器和第三光衰减器通过光纤依次相连接,第二激光器、第二光衰减器、保偏偏振合束器和第三光衰减器通过光纤依次相连接;以及第一延迟器、第二延迟器和FPGA芯片,第一延迟器分别与FPGA芯片和第一激光器电连接,第二延迟器分别与FPGA芯片和第二激光器电连接,FPGA芯片与待测单光子探测器电连接。该方法基于上述检测装置输出检测光,通过FPGA芯片与待测单光子探测器进行数据交互得到DEM值。本发明结构简单,能够提升QKD系统的安全性。

    一种单光子探测器探测效率失配度的检测装置及方法

    公开(公告)号:CN108667527A

    公开(公告)日:2018-10-16

    申请号:CN201810320198.X

    申请日:2018-04-11

    Abstract: 本发明提供一种单光子探测器探测效率失配度的检测装置及方法。该装置包括:第一激光器、第二激光器、第一光衰减器、第二光衰减器、第三光衰减器、保偏偏振合束器以及光纤,第一激光器、第一光衰减器、保偏偏振合束器和第三光衰减器通过光纤依次相连接,第二激光器、第二光衰减器、保偏偏振合束器和第三光衰减器通过光纤依次相连接;以及第一延迟器、第二延迟器和FPGA芯片,第一延迟器分别与FPGA芯片和第一激光器电连接,第二延迟器分别与FPGA芯片和第二激光器电连接,FPGA芯片与待测单光子探测器电连接。该方法基于上述检测装置输出检测光,通过FPGA芯片与待测单光子探测器进行数据交互得到DEM值。本发明结构简单,能够提升QKD系统的安全性。

    一种量子密钥分发光源端泄露信息检测的方法

    公开(公告)号:CN115276970A

    公开(公告)日:2022-11-01

    申请号:CN202210821354.7

    申请日:2022-07-13

    Abstract: 本发明公开一种量子密钥分发光源端泄露信息检测的方法,包括:构建强度/相位调制器相位泄露信息安全检测装置以对量子密钥分发光源端的相位泄露信息进行检测,得到相位泄露信息量;构建强度/相位调制器强度泄露信息安全检测装置以对量子密钥分发光源端的强度泄露信息进行检测,得到强度泄露信息量;基于相位泄露信息量及强度泄露信息量,利用Azuma不等式,估计出和基于和得到安全码率。本发明可以对实际量子密钥分发系统光源端的实时检测,评估出其光电器件的信息泄漏量,从而实时改进其有限码长下的安全码率,保证最终密钥的安全性。

    一种单光子探测器探测效率自动校准装置及方法

    公开(公告)号:CN108827477A

    公开(公告)日:2018-11-16

    申请号:CN201810674557.1

    申请日:2018-06-27

    CPC classification number: G01J11/00

    Abstract: 本发明公开一种单光子探测器探测效率自动校准装置及方法。所述装置包括电学模块、光学模块及单光子探测器;电学模块包括FPGA芯片和延时器;光学模块包括激光器和光衰减器。所述方法包括:FPGA芯片通过单光子探测器发送相应指令调节单光子探测器工作直流偏压,使得单光子探测器探测效率不为零;激光器在FPGA芯片触发信号控制下,发送固定脉宽的周期光信号,光信号经过衰减器后衰减为平均光子数已知的弱相干脉冲光信号;FPGA芯片控制延时器,调节单光子探测器触发信号的延时,使得计数率最大;FPGA芯片调节单光子探测器的工作直流偏压,使得实际探测效率与目标探测效率一致。本发明可以快速、精确地完成对单光子探测器探测效率的自动校准。

Patent Agency Ranking