用于调整光学元件的调整装置、光学元件及其调整方法

    公开(公告)号:CN113009664B

    公开(公告)日:2022-08-26

    申请号:CN202110256996.2

    申请日:2021-03-09

    IPC分类号: G02B7/00

    摘要: 本发明涉及一种用于调整光学元件的调整装置、光学元件及其调整方法。该调整装置包括装调元件、第一螺钉组、第二螺钉组和第三螺钉;第一螺钉组包括两个第一螺钉,第二螺钉组包括两个第二螺钉;装调元件为包括顶板、侧板和底板的一体结构;顶板上包括两个安装第一螺钉的第一螺孔;底板上包括两个安装第二螺钉的第二螺孔;两个第二螺孔与两个第一螺孔的位置上下一致;侧板上包括一个第三螺孔,第三螺孔用于安装第三螺钉;对光学元件进行调整时,光学元件置于装调元件内部,通过调节第一螺钉组、第二螺钉组和第三螺钉与光学元件的紧固程度来调节光学元件的位置。本发明可以提高光学调整装置中调整光学元件的便捷性,降低元器件的损坏率。

    探测器调整装置、带有调整装置的探测器及其调整方法

    公开(公告)号:CN113074762B

    公开(公告)日:2022-08-26

    申请号:CN202110256315.2

    申请日:2021-03-09

    IPC分类号: G01D11/00 G01D5/26

    摘要: 本发明涉及一种探测器调整装置、带有调整装置的探测器及其调整方法。该调整装置的上下调整架为包括横板和竖板的T型一体结构,横板上开设有固定探测器的螺孔,竖板上开设有腰型槽,竖板两侧均包括凸起,凸起上均开设有安装第一调整螺钉的螺孔;左右调整架为包括横板和两个竖板的一体结构,两个竖板位于横板的上方,且均开设有安装紧固螺钉的与上下调整架的竖板上的腰型槽位置一致的螺孔;横板上开设有腰型槽,且横板的横向两个侧壁上分别开设有安装第二调整螺钉的螺孔;前后调整架的板面上开设有腰型槽,纵向侧壁上开设有安装第三调整螺钉的螺孔。本发明可以实现探测器的调整,并增加探测器调整的便捷性。

    探测器调整装置、带有调整装置的探测器及其调整方法

    公开(公告)号:CN113074762A

    公开(公告)日:2021-07-06

    申请号:CN202110256315.2

    申请日:2021-03-09

    IPC分类号: G01D11/00 G01D5/26

    摘要: 本发明涉及一种探测器调整装置、带有调整装置的探测器及其调整方法。该调整装置的上下调整架为包括横板和竖板的T型一体结构,横板上开设有固定探测器的螺孔,竖板上开设有腰型槽,竖板两侧均包括凸起,凸起上均开设有安装第一调整螺钉的螺孔;左右调整架为包括横板和两个竖板的一体结构,两个竖板位于横板的上方,且均开设有安装紧固螺钉的与上下调整架的竖板上的腰型槽位置一致的螺孔;横板上开设有腰型槽,且横板的横向两个侧壁上分别开设有安装第二调整螺钉的螺孔;前后调整架的板面上开设有腰型槽,纵向侧壁上开设有安装第三调整螺钉的螺孔。本发明可以实现探测器的调整,并增加探测器调整的便捷性。

    一种外场目标发射率的测量方法及系统

    公开(公告)号:CN113324663A

    公开(公告)日:2021-08-31

    申请号:CN202110777845.1

    申请日:2021-07-09

    IPC分类号: G01J5/52 G01J5/00

    摘要: 本发明公开了一种外场目标发射率的测量方法及系统,其包括:设置参考目标和待测目标;获取所述参考目标的第一红外辐射温度,和所述待测目标的第二红外辐射温度;获取所述第一红外辐射温度对应的第一等效辐射亮度,和所述第二红外辐射温度对应的第二等效辐射亮度;获取所述待测目标的表面实际温度;根据所述表面实际温度,获取所述待测目标的黑体辐射亮度;获取观测设备响应波段范围内,所述黑体辐射亮度的等效黑体辐射亮度;以及根据所述第一等效辐射亮度、所述第二等效辐射亮度以及所述等效黑体辐射亮度,获取所述待测目标的等效发射率。本发明能够实现在室外环境下,精确获取目标的发射率。

    一种光谱发射率的测量方法及系统

    公开(公告)号:CN113686451B

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202110777853.6

    申请日:2021-07-09

    IPC分类号: G01J5/53 G01J5/08 G01J5/0802

    摘要: 本发明提供一种光谱发射率的测量方法及系统,所述光谱发射率的测量方法包括:采用红外光源照射目标;获取所述目标的光谱辐射亮度和环境光谱辐射亮度;获取所述目标在多个温度下的黑体辐射亮度;通过所述光谱辐射亮度、所述环境光谱辐射亮度、以及多个所述黑体辐射亮度,获取多个温度下,所述目标的光谱发射率曲线;获取每个所述光谱发射率曲线的粗糙度指标,并将所述粗糙度指标最小时的对应的温度作为最佳温度;以及获取所述最佳温度时,所述目标的光谱发射率。本发明提供的光谱发射率的测量方法,能够较的精确获取目标的光谱发射率。

    用于调整光学元件的调整装置、光学元件及其调整方法

    公开(公告)号:CN113009664A

    公开(公告)日:2021-06-22

    申请号:CN202110256996.2

    申请日:2021-03-09

    IPC分类号: G02B7/00

    摘要: 本发明涉及一种用于调整光学元件的调整装置、光学元件及其调整方法。该调整装置包括装调元件、第一螺钉组、第二螺钉组和第三螺钉;第一螺钉组包括两个第一螺钉,第二螺钉组包括两个第二螺钉;装调元件为包括顶板、侧板和底板的一体结构;顶板上包括两个安装第一螺钉的第一螺孔;底板上包括两个安装第二螺钉的第二螺孔;两个第二螺孔与两个第一螺孔的位置上下一致;侧板上包括一个第三螺孔,第三螺孔用于安装第三螺钉;对光学元件进行调整时,光学元件置于装调元件内部,通过调节第一螺钉组、第二螺钉组和第三螺钉与光学元件的紧固程度来调节光学元件的位置。本发明可以提高光学调整装置中调整光学元件的便捷性,降低元器件的损坏率。

    一种外场目标发射率的测量方法及系统

    公开(公告)号:CN113324663B

    公开(公告)日:2022-02-25

    申请号:CN202110777845.1

    申请日:2021-07-09

    IPC分类号: G01J5/52 G01J5/06

    摘要: 本发明公开了一种外场目标发射率的测量方法及系统,其包括:设置参考目标和待测目标;获取所述参考目标的第一红外辐射温度,和所述待测目标的第二红外辐射温度;获取所述第一红外辐射温度对应的第一等效辐射亮度,和所述第二红外辐射温度对应的第二等效辐射亮度;获取所述待测目标的表面实际温度;根据所述表面实际温度,获取所述待测目标的黑体辐射亮度;获取观测设备响应波段范围内,所述黑体辐射亮度的等效黑体辐射亮度;以及根据所述第一等效辐射亮度、所述第二等效辐射亮度以及所述等效黑体辐射亮度,获取所述待测目标的等效发射率。本发明能够实现在室外环境下,精确获取目标的发射率。

    一种光谱发射率的测量方法及系统

    公开(公告)号:CN113686451A

    公开(公告)日:2021-11-23

    申请号:CN202110777853.6

    申请日:2021-07-09

    摘要: 本发明提供一种光谱发射率的测量方法及系统,所述光谱发射率的测量方法包括:采用红外光源照射目标;获取所述目标的光谱辐射亮度和环境光谱辐射亮度;获取所述目标在多个温度下的黑体辐射亮度;通过所述光谱辐射亮度、所述环境光谱辐射亮度、以及多个所述黑体辐射亮度,获取多个温度下,所述目标的光谱发射率曲线;获取每个所述光谱发射率曲线的粗糙度指标,并将所述粗糙度指标最小时的对应的温度作为最佳温度;以及获取所述最佳温度时,所述目标的光谱发射率。本发明提供的光谱发射率的测量方法,能够较的精确获取目标的光谱发射率。

    大气谱线获取方法、系统、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN118070531A

    公开(公告)日:2024-05-24

    申请号:CN202410236345.0

    申请日:2024-03-01

    IPC分类号: G06F30/20 G06F113/08

    摘要: 本发明提供大气谱线获取方法、系统、设备及存储介质,属于气体辐射仿真技术领域。大气谱线获取方法包括:获取校准气体透过率谱线;基于Malkmus带模式,构建气体透过率计算模型;根据所述校准气体透过率谱线,优化所述气体透过率计算模型;通过优化后的所述气体透过率计算模型,对给定条件的气体透过率谱线进行计算。本发明提供的大气谱线获取方法,综合了逐线积分法的精确度和带模式法的计算效率,有效简化模型需要计算的谱线信息,显著降低了计算的复杂性,在资源受限的情况下,可以有效提高大气谱线获取的效率和准确性。