一种纳米电介质界面水分状态检测方法、系统及电子设备

    公开(公告)号:CN117607092A

    公开(公告)日:2024-02-27

    申请号:CN202311547397.1

    申请日:2023-11-20

    IPC分类号: G01N21/3586

    摘要: 本发明公开了一种纳米电介质界面水分状态检测方法、系统及电子设备,涉及纳米电介质界面水分检测技术领域。本发明包括基于慢速弛豫过程、快速弛豫过程和分子间拉伸过程搭建构建初始弛豫共振综合极化模型;获取以不同测试太赫兹脉冲测试当前测试点时的复介电常数,对所述初始弛豫共振综合极化模型进行拟合,得到慢速弛豫过程弛豫极化强度、快速弛豫过程弛豫极化强度和分子间拉伸过程谐振极化强度,进而确定待测纳米电介质样品界面中当前测试点处的水分状态。本发明通过构建弛豫共振综合极化模型,能够完成对纳米电介质界面水分状态的无损检测。