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公开(公告)号:CN103245680A
公开(公告)日:2013-08-14
申请号:CN201310166449.0
申请日:2013-05-08
申请人: 中国原子能科学研究院
IPC分类号: G01N23/05
摘要: 本发明涉及快中子成像技术,具体涉及一种基于飞行时间法的快中子成像方法及系统。该方法采用多块闪烁体单元组成闪烁体阵列,使闪烁体阵列与位置灵敏探测器进行耦合,将耦合后的整个探测器阵列设置在距离中子源较远位置,将样品设置在距离中子源较近位置,利用中子飞行时间方法进行测量,再利用符合方法剔除干扰因素得到每个闪烁体单元探测器上的有效计数,将各闪烁体单元探测器上的有效计数按阵列排列后得到是只有源中子起作用的二维图像。本发明采用探测器阵列的设计方式,提高了探测效率;飞行时间法测量方式可以有效地去除样品散射中子、环境漫散射本底和γ本底,提高了信噪比。
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公开(公告)号:CN103106940A
公开(公告)日:2013-05-15
申请号:CN201110358167.1
申请日:2011-11-14
申请人: 中国原子能科学研究院
摘要: 本发明属于中子物理技术领域,公开了一种高压倍加器的中子准直系统。该系统是由屏蔽体、通道、通道内准直器及探测器组成。在高压倍加器大厅的屏蔽体上开一个通道,通道内置有准直器,探测器位于实验大厅内与通道水平的方向上对样品出射中子束进行飞行时间谱测量。采用该系统能够屏蔽漫散射中子、提高效应本底比、准直中子束及实现多角度飞行时间谱的同时测量。
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