一种中子单色器高次谐波的测量装置及方法

    公开(公告)号:CN105445780B

    公开(公告)日:2018-11-30

    申请号:CN201510760939.2

    申请日:2015-11-10

    IPC分类号: G01T3/06

    摘要: 本发明涉及一种中子单色器高次谐波的测量装置及方法。所述测量装置包括反应堆,中子传输孔道,中子单色器,飞行时间装置,偏转单色器,旋转台;通过使用偏转单色器,测量偏转束的初级及高次谐波中子波长、波长展宽及成分百分比,基于偏转单色器并辅以适当的数据处理,在偏离出射束方向获得待测中子单色器的高次谐波波长、波长展宽及成分百分比的准确值,克服了出射束方向空间狭小安放不下TOF装置的问题及波长展宽包含TOF装置的仪器本征误差的问题。

    一种中子单色器高次谐波的测量装置及方法

    公开(公告)号:CN105445780A

    公开(公告)日:2016-03-30

    申请号:CN201510760939.2

    申请日:2015-11-10

    IPC分类号: G01T3/06

    CPC分类号: G01T3/06

    摘要: 本发明涉及一种中子单色器高次谐波的测量装置及方法。所述测量装置包括反应堆,中子传输孔道,中子单色器,飞行时间装置,偏转单色器,旋转台;通过使用偏转单色器,测量偏转束的初级及高次谐波中子波长、波长展宽及成分百分比,基于偏转单色器并辅以适当的数据处理,在偏离出射束方向获得待测中子单色器的高次谐波波长、波长展宽及成分百分比的准确值,克服了出射束方向空间狭小安放不下TOF装置的问题及波长展宽包含TOF装置的仪器本征误差的问题。

    中子束过滤器过滤性能测量装置及方法

    公开(公告)号:CN105388169A

    公开(公告)日:2016-03-09

    申请号:CN201510760920.8

    申请日:2015-11-10

    IPC分类号: G01N23/02

    摘要: 本发明涉及中子束过滤器过滤性能测量装置及方法。本发明的一种方案中,所述测量装置包括反应堆,中子传输孔道,中子单色器,飞行时间装置,中子束过滤器。另一种方案中,进一步包括偏转单色器,旋转台。飞行时间方法非常适用于中子能量/波长分布的测量与分析,通过飞行时间谱测量可同时获得并区分初级中子λ及高次谐波中子λ/2、λ/3……λ/n的积分强度,非常快速和直观,并极大地减小了测量误差,尤其是出射束方向飞行时间法测量误差可以忽略。

    中子束过滤器过滤性能测量装置及方法

    公开(公告)号:CN105388169B

    公开(公告)日:2018-11-30

    申请号:CN201510760920.8

    申请日:2015-11-10

    IPC分类号: G01N23/02

    摘要: 本发明涉及中子束过滤器过滤性能测量装置及方法。本发明的一种方案中,所述测量装置包括反应堆,中子传输孔道,中子单色器,飞行时间装置,中子束过滤器。另一种方案中,进一步包括偏转单色器,旋转台。飞行时间方法非常适用于中子能量/波长分布的测量与分析,通过飞行时间谱测量可同时获得并区分初级中子λ及高次谐波中子λ/2、λ/3……λ/n的积分强度,非常快速和直观,并极大地减小了测量误差,尤其是出射束方向飞行时间法测量误差可以忽略。