粉砂岩颗粒全组分粒度分析新方法

    公开(公告)号:CN103344534B

    公开(公告)日:2016-03-30

    申请号:CN201310326300.4

    申请日:2013-07-30

    Abstract: 本发明涉及化学成分分析领域,尤其涉及一种粉砂岩颗粒全组分粒度分析新方法。该方法包括:对粉砂岩样进行分析,判断粉砂岩样的种类;从分类后的所述粉砂岩样中取原始样品;用所述原始样品制备分析样品,向所述分析样品中加入清水,并搅拌均匀,形成浑浊液;用滴管将所述浑浊液加入激光粒度仪的样品槽的分散剂中,并对样品槽的分散剂中的浑浊液超声分散一定时间,得到超声分散液,对分散液进行粒度分析。该方法使得激光粒度仪分析结果准确,能够真实的反映粉砂岩的粒度大小及分布情况。

    粉砂岩颗粒全组分粒度分析新方法

    公开(公告)号:CN103344534A

    公开(公告)日:2013-10-09

    申请号:CN201310326300.4

    申请日:2013-07-30

    Inventor: 张元福 李俊杰

    Abstract: 本发明涉及化学成分分析领域,尤其涉及一种粉砂岩颗粒全组分粒度分析新方法。该方法包括:对粉砂岩样进行分析,判断粉砂岩样的种类;从分类后的所述粉砂岩样中取原始样品;用所述原始样品制备分析样品,向所述分析样品中加入清水,并搅拌均匀,形成浑浊液;用滴管将所述浑浊液加入激光粒度仪的样品槽的分散剂中,并对样品槽的分散剂中的浑浊液超声分散一定时间,得到超声分散液,对分散液进行粒度分析。该方法使得激光粒度仪分析结果准确,能够真实的反映粉砂岩的粒度大小及分布情况。

    样品制备系统
    3.
    实用新型

    公开(公告)号:CN204536076U

    公开(公告)日:2015-08-05

    申请号:CN201520225685.X

    申请日:2015-01-12

    Abstract: 本实用新型提供了一种样品制备系统,包括:用于研磨样品的研钵;清洗经研磨的样品的清洗装置;及用于去除经清洗的样品中的液体的离心装置;其中,研钵包括:筒状本体,具有开口、底壁和在开口和底壁之间延伸的侧壁,侧壁的内表面在从开口到底壁的方向上渐缩,底壁设置有出料孔;与筒状本体分立设置的底座,底座具有一向上凸起的封堵部,封堵部具有与筒状本体的底壁的出料孔相配合的形状,以使得筒状本体安置在底座上时,封堵部伸入到出料孔内将出料孔封堵住。本实用新型的样品制备系统在样品制备的过程中样品细颗粒不会粘附在研钵上。

    样品制备系统
    4.
    实用新型

    公开(公告)号:CN204461843U

    公开(公告)日:2015-07-08

    申请号:CN201520020737.X

    申请日:2015-01-12

    Abstract: 本实用新型提供了一种样品制备系统,包括:用于研磨样品的研钵;清洗经研磨的样品的清洗装置;及用于去除经清洗的样品中的液体的离心装置;其中,研钵包括:筒状本体,具有开口、底壁和在开口和底壁之间延伸的侧壁,侧壁的内表面在从开口到底壁的方向上渐缩,底壁设置有出料孔;与筒状本体分立设置的底座,底座具有一向上凸起的封堵部,封堵部具有与筒状本体的底壁的出料孔相配合的形状,以使得筒状本体安置在底座上时,封堵部伸入到出料孔内将出料孔封堵住。本实用新型的样品制备系统在样品制备的过程中样品细颗粒不会粘附在研钵上。

    样品制备系统
    5.
    实用新型

    公开(公告)号:CN204536075U

    公开(公告)日:2015-08-05

    申请号:CN201520224347.4

    申请日:2015-01-12

    Abstract: 本实用新型提供了一种样品制备系统,包括:用于研磨样品的研钵;清洗经研磨的样品的清洗装置;及用于去除经清洗的样品中的液体的离心装置;其中,研钵包括:筒状本体,具有开口、底壁和在开口和底壁之间延伸的侧壁,侧壁的内表面在从开口到底壁的方向上渐缩,底壁设置有出料孔;与筒状本体分立设置的底座,底座具有一向上凸起的封堵部,封堵部具有与筒状本体的底壁的出料孔相配合的形状,以使得筒状本体安置在底座上时,封堵部伸入到出料孔内将出料孔封堵住。本实用新型的样品制备系统在样品制备的过程中样品细颗粒不会粘附在研钵上。

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