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公开(公告)号：CN105651653B
公开(公告)日：2018-07-24
申请号：CN201510779765.4
申请日：2015-11-13
Applicant: 中国地质大学(北京)
Abstract: 本发明公开了一种砂质沉积颗粒区分方法，属于沉积学技术领域。本发明包括以下步骤：样品的采集与处理，通过扫描电镜图像分析石英颗粒表面的磨圆度、碟形撞击坑、新月形撞击坑、贝壳状断口、V形撞击坑、撞击沟，利用线测法统计石英颗粒表面特征，利用具有撞击沟和碟形撞击坑的石英颗粒占线测法中直线经过的所有石英颗粒的比值做出判别图版，利用具有新月形撞击坑和“V”形撞击坑的石英颗粒占线测法中直线经过的所有石英颗粒的比值做出判别图版。本发明相比于粒度分析的手段，适用范围广，结果没有或极少存在多解性。相对于层理分析的手段，将研究尺度推进到微观尺度，理论依据较强、判定结果准确。
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公开(公告)号：CN108921187B
公开(公告)日：2021-05-28
申请号：CN201810467352.6
申请日：2018-05-16
Applicant: 中国地质大学(北京)
Abstract: 本发明提供了一种鲕粒滩类型划分方法和装置，涉及地质勘查技术领域，该方法包括：获取目标鲕粒滩的主判别指标数据和次判别指标数据，主判别指标包括胶结类型、单旋回厚度和自然伽马GR曲线特征，次判别指标包括鲕粒大小、鲕粒分选性和鲕粒含量；根据该主判别指标和次判别指标的各个分指标各自的判断准则，分别判断目标鲕粒滩的滩类型，得到各个分指标的初始判别结果；滩类型包括：高能鲕粒滩、中等能量鲕粒滩和低能鲕粒滩；根据初始判别结果，按照预先设定的指标协调准则划分目标鲕粒滩的滩类型。本发明实施例提供的一种鲕粒滩类型划分方法和装置，可以更精确地划分鲕粒滩的类型，并且划分依据更全面，不同类型之间的区分界限也更明显。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108921187A
公开(公告)日：2018-11-30
申请号：CN201810467352.6
申请日：2018-05-16
Applicant: 中国地质大学(北京)
Abstract: 本发明提供了一种鲕粒滩类型划分方法和装置，涉及地质勘查技术领域，该方法包括：获取目标鲕粒滩的主判别指标数据和次判别指标数据，主判别指标包括胶结类型、单旋回厚度和自然伽马GR曲线特征，次判别指标包括鲕粒大小、鲕粒分选性和鲕粒含量；根据该主判别指标和次判别指标的各个分指标各自的判断准则，分别判断目标鲕粒滩的滩类型，得到各个分指标的初始判别结果；滩类型包括：高能鲕粒滩、中等能量鲕粒滩和低能鲕粒滩；根据初始判别结果，按照预先设定的指标协调准则划分目标鲕粒滩的滩类型。本发明实施例提供的一种鲕粒滩类型划分方法和装置，可以更精确地划分鲕粒滩的类型，并且划分依据更全面，不同类型之间的区分界限也更明显。
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公开(公告)号：CN105651653A
公开(公告)日：2016-06-08
申请号：CN201510779765.4
申请日：2015-11-13
Applicant: 中国地质大学(北京)
Abstract: 本发明公开了一种砂质沉积颗粒区分方法，属于沉积学技术领域。本发明包括以下步骤：样品的采集与处理，通过扫描电镜图像分析石英颗粒表面的磨圆度、碟形撞击坑、新月形撞击坑、贝壳状断口、V形撞击坑、撞击沟，利用线测法统计石英颗粒表面特征，利用具有撞击沟和碟形撞击坑的石英颗粒占线测法中直线经过的所有石英颗粒的比值做出判别图版，利用具有新月形撞击坑和“V”形撞击坑的石英颗粒占线测法中直线经过的所有石英颗粒的比值做出判别图版。本发明相比于粒度分析的手段，适用范围广，结果没有或极少存在多解性。相对于层理分析的手段，将研究尺度推进到微观尺度，理论依据较强、判定结果准确。
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公开(公告)号：CN204536075U
公开(公告)日：2015-08-05
申请号：CN201520224347.4
申请日：2015-01-12
Applicant: 中国地质大学(北京)
Abstract: 本实用新型提供了一种样品制备系统，包括：用于研磨样品的研钵；清洗经研磨的样品的清洗装置；及用于去除经清洗的样品中的液体的离心装置；其中，研钵包括：筒状本体，具有开口、底壁和在开口和底壁之间延伸的侧壁，侧壁的内表面在从开口到底壁的方向上渐缩，底壁设置有出料孔；与筒状本体分立设置的底座，底座具有一向上凸起的封堵部，封堵部具有与筒状本体的底壁的出料孔相配合的形状，以使得筒状本体安置在底座上时，封堵部伸入到出料孔内将出料孔封堵住。本实用新型的样品制备系统在样品制备的过程中样品细颗粒不会粘附在研钵上。
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公开(公告)号：CN204536076U
公开(公告)日：2015-08-05
申请号：CN201520225685.X
申请日：2015-01-12
Applicant: 中国地质大学(北京)
IPC: G01N1/28
Abstract: 本实用新型提供了一种样品制备系统，包括：用于研磨样品的研钵；清洗经研磨的样品的清洗装置；及用于去除经清洗的样品中的液体的离心装置；其中，研钵包括：筒状本体，具有开口、底壁和在开口和底壁之间延伸的侧壁，侧壁的内表面在从开口到底壁的方向上渐缩，底壁设置有出料孔；与筒状本体分立设置的底座，底座具有一向上凸起的封堵部，封堵部具有与筒状本体的底壁的出料孔相配合的形状，以使得筒状本体安置在底座上时，封堵部伸入到出料孔内将出料孔封堵住。本实用新型的样品制备系统在样品制备的过程中样品细颗粒不会粘附在研钵上。
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公开(公告)号：CN204461843U
公开(公告)日：2015-07-08
申请号：CN201520020737.X
申请日：2015-01-12
Applicant: 中国地质大学(北京)
Abstract: 本实用新型提供了一种样品制备系统，包括：用于研磨样品的研钵；清洗经研磨的样品的清洗装置；及用于去除经清洗的样品中的液体的离心装置；其中，研钵包括：筒状本体，具有开口、底壁和在开口和底壁之间延伸的侧壁，侧壁的内表面在从开口到底壁的方向上渐缩，底壁设置有出料孔；与筒状本体分立设置的底座，底座具有一向上凸起的封堵部，封堵部具有与筒状本体的底壁的出料孔相配合的形状，以使得筒状本体安置在底座上时，封堵部伸入到出料孔内将出料孔封堵住。本实用新型的样品制备系统在样品制备的过程中样品细颗粒不会粘附在研钵上。
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