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公开(公告)号：CN114705144B
公开(公告)日：2023-05-26
申请号：CN202210302182.2
申请日：2022-03-25
申请人： 中国工程物理研究院流体物理研究所
摘要： 本发明公开了一种用于静高压下样品厚度在位测量的桌面式装置及方法，涉及高压声速实验的样品厚度在位测量技术领域，该装置包括控制计算机、微焦点X光机、大腔体高压装置、X射线图像探测器、X光机位移系统、探测器位移系统和隔震光学平台；微焦点X光机安装于X光机位移系统上，X射线图像探测器安装于探测器位移系统上；待测样品放置于大腔体高压装置的压砧中；X光机位移系统、大腔体高压装置、探测器位移系统依次水平安装在隔震光学平台上；各子系统均通过线缆连接控制计算机进行远程控制和数据传输。相比传统基于同步辐射光源方案，本发明极大地减少实验成本和空间，操作使用简单，有益于推广到普通小型实验室使用。
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公开(公告)号：CN115457162A
公开(公告)日：2022-12-09
申请号：CN202211286546.9
申请日：2022-10-20
申请人： 中国工程物理研究院流体物理研究所
IPC分类号： G06T11/00
摘要： 本发明公开了基于等量衰减参数寻优的CT硬化伪影校正方法及系统，涉及图像处理技术领域，其技术方案要点是：获取多色投影数据；初始化硬化校正函数中的拟合参数，并通过硬化校正函数将每个角度下的多色投影数据映射为相应的等效单色投影数据；对每个角度下的等效单色投影数据求和，计算得到每个角度下的投影总值；以所有角度下的投影总值满足等量衰减建立最优化参数求解模型；利用迭代优化求解方法对最优化参数求解模型进行求解，得到最优参数；依据最优参数更新硬化校正函数中的拟合参数，并通过更新后的硬化校正函数将每个角度下的多色投影数据映射为相应校正后的等效单色投影数据。本发明可改善因多能重建引起的伪影，提升图像重建质量。
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公开(公告)号：CN114705144A
公开(公告)日：2022-07-05
申请号：CN202210302182.2
申请日：2022-03-25
申请人： 中国工程物理研究院流体物理研究所
摘要： 本发明公开了一种用于静高压下样品厚度在位测量的桌面式装置及方法，涉及高压声速实验的样品厚度在位测量技术领域，该装置包括控制计算机、微焦点X光机、大腔体高压装置、X射线图像探测器、X光机位移系统、探测器位移系统和隔震光学平台；微焦点X光机安装于X光机位移系统上，X射线图像探测器安装于探测器位移系统上；待测样品放置于大腔体高压装置的压砧中；X光机位移系统、大腔体高压装置、探测器位移系统依次水平安装在隔震光学平台上；各子系统均通过线缆连接控制计算机进行远程控制和数据传输。相比传统基于同步辐射光源方案，本发明极大地减少实验成本和空间，操作使用简单，有益于推广到普通小型实验室使用。
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公开(公告)号：CN117723571A
公开(公告)日：2024-03-19
申请号：CN202311701765.3
申请日：2023-12-11
申请人： 中国工程物理研究院流体物理研究所
IPC分类号： G01N23/046
摘要： 本发明涉及辐射成像和CT技术领域，具体公开了一种扩大横向视场的成像方法及系统、电子设备和应用，包括以下步骤：S1、旋转台中心沿垂直于光轴的水平正向移动距离d，然后进行第一次扫描，得到第一次投影图像集；S2、完成第一次扫描后，将旋转台中心沿垂直于光轴的水平方向移动距离2d，方向与第一次移动方向相反，将旋转台顺时针旋转角度Δθ，然后进行第二次扫描，得到第二次投影图像集；S3、建立虚拟探测器；S4、将原探测器的像素映射到虚拟探测器的像素完成两次扫描数据拼接，获得完整工件的投影图像集；S5、在虚拟探测器成像几何下，进行成像重建。本发明成像更清晰且计算时间更少，且具有通用性。
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公开(公告)号：CN115588060A
公开(公告)日：2023-01-10
申请号：CN202211291889.4
申请日：2022-10-20
申请人： 中国工程物理研究院流体物理研究所
IPC分类号： G06T11/00
摘要： 本发明公开了基于投影平均图像的快速CT环形伪影校正方法及系统，涉及图像处理技术领域，其技术方案要点是：对不同角度下的原始投影图像进行叠加平均处理，得到投影平均图像；对投影平均图像进行微分运算，得到反映投影平均图像中灰度突变部的微分图像；依据微分图像计算不同像素位置处的滤波核窗口尺寸；依据滤波核窗口尺寸对投影平均图像进行自适应的低通滤波，得到低频图像；将投影平均图像除以低频图像，得到增益校正图像；依据增益校正图像对不同角度下的原始投影图像进行像素增益修正，得到增益一致的投影序列图像。本发明从投影平均图像中提取所有像素的增益不一致特性，在不明显降低图像质量的条件下消除或减轻环形伪影。
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公开(公告)号：CN116228902A
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202310060751.1
申请日：2023-01-17
申请人： 中国工程物理研究院流体物理研究所
摘要： 本发明公开了一种CT图像伪影校正方法、系统及介质，获取投影图像集；在投影图像集中，选择任意一张投影图像，通过散射核函数对所述投影图像进行化处理，获得直穿投影数据，通过硬化校正函数对直穿投影数据进行处理，获得映射投影数据，遍历投影图像集，获得若干映射投影数据；构建重建图像；计算重建图像的信息熵，以信息熵最小为目标，计算散射核函数中的最优散射拟合参数以及硬化校正函数中的最优硬化拟合参数；基于最优散射拟合参数对若干影数据进行散射校正，通过最优硬化拟合参数对直穿投影数据进行校正，基于校正后的数据，构建所述待测物体的CT图像；本发明的有益效果为实现了通过准确获取的校正参数，构建去伪影效果好的CT图像。
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