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公开(公告)号：CN111307843B
公开(公告)日：2022-05-27
申请号：CN202010156721.7
申请日：2020-03-09
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC分类号： G01N23/20008 , G01N23/207
摘要： 本发明涉及一种金属材料动力学响应诊断装置及方法。该诊断装置中纳秒束激光源发出的纳秒激光束辐照至待检测金属样品的上表面；皮秒束激光源发出的皮秒激光束辐照至金属微丝背光靶后产生X射线源，X射线源用于对待检测金属样品的动力学响应过程进行X射线衍射成像；DXRD诊断包包括屏蔽模块和IP成像板，IP成像板用于记录X射线衍射成像后的成像数据，所述屏蔽模块用于屏蔽背光源中杂散光对所述待检测金属样品衍射成像的影响；所述IP成像板记录的成像数据用于对所述待检测金属样品的相关特性进行分析。本发明可以提高时空分辨率，实现对高Z金属的材料动力学响应的诊断。
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公开(公告)号：CN111082298A
公开(公告)日：2020-04-28
申请号：CN202010050781.0
申请日：2020-01-17
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
摘要： 本发明涉及一种离轴八程放大激光系统的光路自动准直方法，属于光路准直技术领域，通过在光路中推入、推出负透镜，采用远场光电探测器获得光路中第一空间滤波器相应小孔对应的孔像，反馈调节光路中不同位置的平面反射镜，即可实现对光路的远场准直，同时，在反射腔镜处推入、推出近场准直标记，调节光路中不同位置的的平面反射镜，使得近场准直标记与光束近场图像的中心像素坐标重合，实现对光路的近场自动准直，本发明具有准直精度高、操作便捷的特点，可为离轴八程放大激光系统的长期稳定运行提供重要技术保障。
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公开(公告)号：CN109163814B
公开(公告)日：2019-12-27
申请号：CN201810734410.7
申请日：2018-07-06
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC分类号： G01J9/00
摘要： 本发明涉及一种提高波前测量和校正精度的装置及其使用方法，属于激光系统光束质量控制技术领域，所述装置包括波前传感器、变形镜、控制器、缩束系统、分光镜和反射镜，待校正的入射激光束经分光镜后透射至变形镜，经变形镜反射回的入射激光束经分光镜后分为取样光束和输出光束，取样光束依次入射至反射镜、缩束系统和波前传感器，本发明通过改变缩束系统对取样光束的缩束比，调节入射到波前传感器上的取样光束口径，得到若干组不同口径取样光束的波前畸变，并分别利用变形镜进行波前校正得到若干组不同的波前校正电压，最后对波前畸变和波前校正电压取平均值，得到入射激光束的精准波前畸变和精准波前校正电压，校正结果精度高。
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公开(公告)号：CN108775965A
公开(公告)日：2018-11-09
申请号：CN201810889999.8
申请日：2018-08-07
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC分类号： G01J9/00
摘要： 本发明涉及一种波前测量方法，属于波前测量技术领域，对于存在波前畸变的待测激光束，采用哈特曼传感器进行波前测量，得到初次波前畸变，将待测激光束进行扩束，采用哈特曼传感器测量扩束后待测激光束的波前畸变，得到二次波前畸变，对初次波前畸变、二次波前畸变求差，得到待测激光束的波前畸变，本发明通过哈特曼传感器测量两组不同口径的光束相应得到两组不同空间分布特性的波前畸变，通过控制器对波前畸变进行处理，从而在不标定哈特曼传感器自身像差的条件下得到高精度的波前测量结果，可被应用于高精度波前探测相关领域。
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公开(公告)号：CN105988216B
公开(公告)日：2018-10-23
申请号：CN201610513151.6
申请日：2016-07-01
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC分类号： G02B27/00
摘要： 本发明涉及一种多程放大激光系统小孔孔像的获取装置及获取方法，属于激光设备技术领域，所述获取装置包括放大系统和监测设备，沿着激光传输方向，所述放大系统依次包括空间滤波小孔阵列一和空间滤波小孔阵列二，所述空间滤波小孔阵列一处设置有光束反射器，所述光束反射器包括入射面、第一反射面和第二反射面，所述入射面与激光光路设置为近垂直结构，所述激光经第一反射面反射至第二反射面形成纵向位移，所述纵向位移等于空间滤波小孔阵列一中初程小孔至末程小孔的纵向距离，本发明可以避免多程放大激光系统中多级空间滤波小孔阵列对孔像带来的影响，孔像边沿清晰度高，孔像轮廓规整，获得形心位置的精度高。
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公开(公告)号：CN107843410A
公开(公告)日：2018-03-27
申请号：CN201711304035.4
申请日：2017-12-11
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC分类号： G01M11/00
CPC分类号： G01M11/00
摘要： 本发明涉及一种用于激光装置打靶精度测试的测试靶及测试方法，属于激光惯性约束聚变技术领域，所述测试靶包括靶面，所述靶面包括金箔层和碳氢膜层，所述金箔层共设2层，所述碳氢膜层位于2层金箔层之间，且激光装置发射的激光束同时呈对称式入射至金箔层表面，所述金箔层上设有多个第一凹槽和多个第二凹槽，所述第一凹槽和第二凹槽交错设置形成多个交叉点作为靶孔，所述第一凹槽和第二凹槽的槽深与金箔层的层厚相等，本发明采用金箔层、碳氢膜层、金箔层逐层堆叠的平面靶结构，各激光束可以同时打在测试靶的正反两面，能够在一次试验中完成甚多束激光束的打靶精度测试，节省打靶精度的测试时间，提高打靶精度的测试效率。
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公开(公告)号：CN110109245B
公开(公告)日：2021-05-04
申请号：CN201910425606.2
申请日：2019-05-21
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
摘要： 本发明公开了一种提高变形镜波前校正空间分辨率的方法，光束斜入射至变形镜，使得光束在变形镜上的投影尺寸沿某一维度方向得到展宽，从而在给定变形镜驱动器单元密度条件下，可等效提高该维度方向上对光束波前校正的空间分辨率；其后，光束继续通过反转模块实现90°翻转后，再次斜入射至变形镜，此时，光束在变形镜上的投影尺寸将沿另一维度方向得到展宽，可等效提高另一维度方向上对光束波前校正的空间分辨率，本发明通过改变光束传输至变形镜时的入射角度，还可实现对波前校正空间分辨率的调控，在中小孔径高能量、高功率激光系统中具有重要的应用价值。
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公开(公告)号：CN111240012A
公开(公告)日：2020-06-05
申请号：CN202010050997.7
申请日：2020-01-17
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
摘要： 本发明涉及一种基于导模共振亚波长光栅编码的光束近场整形方法，属于光束近场整形技术领域，在光束的传输光路中离轴放置光栅编码器件，根据整形光束的期望输出，对光栅编码器件进行编码，光束经光栅编码器件透射后分束为0级衍射光束和－1级衍射光束，所述光束为线偏振光，所述0级衍射光束经过光学滤波系统滤除高频分量，实现对光束的近场整形，本发明通过在光路中放置导模共振亚波长光栅编码器件，在空域上调控光场在不同衍射级次上的能量分配比例，光栅编码器件可采用光栅刻蚀角度编码或光栅刻蚀面积编码方式，通过后续联接光学滤波系统，仅保留0级衍射光束的低频分量，实现对线偏振光束的近场整形。
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公开(公告)号：CN111220361A
公开(公告)日：2020-06-02
申请号：CN202010050773.6
申请日：2020-01-17
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 本发明涉及一种测量微透镜阵列焦距的方法，属于光学检测技术领域，将检测光源、准直扩束模块、微透镜阵列和光电探测器依次同光轴设置，采集光束经过微透镜阵列后不同传播距离下对应的多幅光斑阵列图像，计算给定阈值与能量比例系数下各子光斑的等效面积，对光电探测器沿轴向的相对位移量进行修正，对光束经过微透镜的光场传输进行建模，采用梯度类迭代优化算法，求解微透镜的焦距，本发明在测量过程中无需使用平行光管、干涉仪、精密转台、分光光栅等高精密光电设备及元器件，不要求对微透镜阵列焦面位置进行准确定位，适用于宽带检测光源和单色检测光源，操作简便易行，可同时实现对多个微透镜焦距的高效率、高精度测量。
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公开(公告)号：CN110109245A
公开(公告)日：2019-08-09
申请号：CN201910425606.2
申请日：2019-05-21
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
摘要： 本发明公开了一种提高变形镜波前校正空间分辨率的方法，光束斜入射至变形镜，使得光束在变形镜上的投影尺寸沿某一维度方向得到展宽，从而在给定变形镜驱动器单元密度条件下，可等效提高该维度方向上对光束波前校正的空间分辨率；其后，光束继续通过反转模块实现90°翻转后，再次斜入射至变形镜，此时，光束在变形镜上的投影尺寸将沿另一维度方向得到展宽，可等效提高另一维度方向上对光束波前校正的空间分辨率，本发明通过改变光束传输至变形镜时的入射角度，还可实现对波前校正空间分辨率的调控，在中小孔径高能量、高功率激光系统中具有重要的应用价值。
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