-
公开(公告)号：CN118688596A
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202410535002.4
申请日：2024-04-30
IPC分类号： G01R31/26
摘要： 本公开提供了一种功率器件的次级粒子辐照分析方法、装置、设备及介质，涉及半导体器件辐射效应技术领域，包括获取待分析功率器件对应的第一特性参数以及入射中子对应的第二特性参数；根据所述第一特性参数和预设的蒙特卡罗模拟平台，构建所述功率器件对应的功率器件仿真模型；根据所述第二特性参数、所述功率器件仿真模型和所述蒙特卡罗模拟平台，模拟所述入射中子辐照所述功率器件的全生命周期，得到所述入射中子辐照所述功率器件产生的次级粒子的辐照数据。本公开不需要粒子探测器以实验的方式探测次级粒子特征，降低了探测难度，提高了探测效率，不需要特定的粒子探测器，降低了成本。
-
公开(公告)号：CN118798022A
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202410771731.X
申请日：2024-06-15
IPC分类号： G06F30/27
摘要： 本发明公开了基于机器学习模型的大气中子软错误评估方法，涉及大气分析技术领域，该方法公开了如下步骤：步骤S1：获取中子核反应次级离子信息库；步骤S2：目标芯片的单粒子效应器件仿真，获取带单粒子翻转标签的机器学习样本；步骤S3：将带单粒子翻转标签的机器学习样本作为机器学习分类算法的输入，构建中子单粒子翻转评估模型；步骤S4：计算大气中子软错误率，本发明的方法基于机器学习分类算法构建中子单粒子翻转评估模型，实现了大气中子软错误评估，可以突破已有试验评估技术的局限，提供了一种快速且低成本的大气中子软错误率评估方法。
-
公开(公告)号：CN117741385A
公开(公告)日：2024-03-22
申请号：CN202311793569.3
申请日：2023-12-22
IPC分类号： G01R31/26 , G01R31/265
摘要： 本申请提供一种IGBT模块大气中子失效率的评估方法、装置、电子设备和存储介质，其中，I GBT模块大气中子失效率的评估方法包括：获取I GBT模块的辐照试验的数据，其中；基于辐照试验过程中发生失效的样品数量r和有效样品总注量TSUM，计算I GBT模块的辐照试验失效率λACC；基于I GBT模块的辐照试验失效率λACC、有效样品总注量TSUM、辐照试验过程中发生失效的样品数量r，计算失效率置信区间；获取目标环境下的平均中子通量Φ；基于目标环境下的平均中子通量Φ、I GBT模块的辐照试验失效率λACC，计算I GBT模块在目标环境下的真实失效率；将I GBT模块在目标环境下的真实失效率和失效率置信区间作为I GBT模块的失效率评估结果。本申请能够实现对I GBT模块大气中子失效率进行评估。
-
公开(公告)号：CN117991328A
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202410214788.X
申请日：2024-02-27
IPC分类号： G01T3/00
摘要： 本发明提供了一种宽能谱中子位移损伤强度的确定装置及方法，该装置包括：测量电路、控制模块；测量电路包括硅三极管、源表；硅三极管和源表连接；源表与控制模块连接；通过宽能谱中子源向硅三极管进行宽能谱中子辐照；在达到各预设宽能谱中子注量时向源表发送测量指令；以使源表向硅三极管的发射极和集电极施加偏置电压、基极施加预设电流；在施加完成后测量硅三极管的集电极电流；根据各集电极电流、预设电流，确定宽能谱中子注量与硅三极管的放大系数的倒数变化量之间的系数；根据该系数，计算待确定半导体器件的宽能谱中子位移损伤强度。能够避免通过测量中子能谱数据来计算此种宽能谱中子的位移损伤。
-
公开(公告)号：CN118169492A
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202410297566.9
申请日：2024-03-15
摘要： 本申请涉及一种功率器件测试系统、方法、计算机设备和存储介质。该系统包括处于自然大气辐照环境下的多个并联连接的待测功率器件、监测装置和高压电源；多个并联连接的待测功率器件与高压电源连接，实现高压电源向多个待测功率器件供电，以将多个待测功率器件均置于高压反偏状态或高压阻断状态；在此状态下，监测装置监测每一待测功率器件在关断状态下的电流值，并根据所监测到的每一待测功率器件的电流值，确定每一待测功率器件的失效情况。上述系统，可以实现同时对大规模功率器件阵列进行失效检测，提高了功率器件失效情况检测的检测效率；并且增加了样本数量，排除了少量样本数量存在的偶然性问题，提高了功率器件失效情况检测结果的可靠性。
-
公开(公告)号：CN118150967A
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202410280716.5
申请日：2024-03-12
IPC分类号： G01R31/26
摘要： 本申请涉及一种功率器件失效检测方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：针对预设多个海拔高度中每个海拔高度，获取海拔高度处地面宇宙射线的粒子通量，确定在海拔高度处的地面宇宙射线辐照下，参考功率器件组的器件失效率，并根据粒子通量和器件失效率，确定海拔高度的目标量化值；根据各海拔高度的目标量化值，选取测试海拔高度；确定在测试海拔高度处测试功率器件组的器件失效率；根据任一目标海拔高度处的粒子通量和测试海拔高度处的粒子通量，得到失效率因子；根据测试功率器件组的器件失效率以及失效率因子，得到在目标海拔高度处测试功率器件组的器件失效率。采用本方法能够提高功率器件组失效率确定准确性。
-
公开(公告)号：CN118130994A
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202410277931.X
申请日：2024-03-12
IPC分类号： G01R31/26
摘要： 本发明提供了一种半导体器件的宽能谱中子位移损伤确定方法及装置，该方法包括：获取宽能谱中子辐照后的待确定半导体器件的各初级移位原子的动能、原子序数和质量数，以及待确定半导体器件的原子序数和质量数；根据各初级移位原子的动能、各初级移位原子的原子序数、各初级移位原子的质量数、待确定半导体器件的原子序数和待确定半导体器件的质量数，确定各初级移位原子的反冲平均位移能量损失；根据各初级移位原子的反冲平均位移能量损失和动能，确定待确定半导体器件的宽能谱中子位移损伤。通过本申请的方法，能够避免开展半导体器件的高通量中子辐照试验，缩短了半导体器件的宽能谱中子位移损伤确定时长。
-
-
-
-
-
-
搜索结果
7 条记录 (耗时 0.082 秒)
