-
公开(公告)号：CN117741385A
公开(公告)日：2024-03-22
申请号：CN202311793569.3
申请日：2023-12-22
IPC分类号： G01R31/26 , G01R31/265
摘要： 本申请提供一种IGBT模块大气中子失效率的评估方法、装置、电子设备和存储介质，其中，I GBT模块大气中子失效率的评估方法包括：获取I GBT模块的辐照试验的数据，其中；基于辐照试验过程中发生失效的样品数量r和有效样品总注量TSUM，计算I GBT模块的辐照试验失效率λACC；基于I GBT模块的辐照试验失效率λACC、有效样品总注量TSUM、辐照试验过程中发生失效的样品数量r，计算失效率置信区间；获取目标环境下的平均中子通量Φ；基于目标环境下的平均中子通量Φ、I GBT模块的辐照试验失效率λACC，计算I GBT模块在目标环境下的真实失效率；将I GBT模块在目标环境下的真实失效率和失效率置信区间作为I GBT模块的失效率评估结果。本申请能够实现对I GBT模块大气中子失效率进行评估。
-
公开(公告)号：CN115097277B
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202210697645.X
申请日：2022-06-20
摘要： 本发明公开了柔性直流换流阀功率单元的大气中子加速辐照试验方法，包括：在预设的第一数量的试验温度下，对多个待测功率单元注入中子束流并施加预设的第二数量的试验电压，对多个待测功率单元进行试验，功率单元为功率器件或功率器件内的芯片；监测并记录试验过程中的中子注量和各待测功率单元的泄漏电流，根据预设的失效条件判断各待测功率单元是否失效，预设的失效条件与泄漏电流相关；当满足预设的结束条件时，停止注入中子束流并结束试验，预设的结束条件与中子注量、柔性直流换流阀使用地的海拔高度相关。本发明针对高海拔地区的工作环境，测试效率高，能准确评估功率单元因大气中子引起的失效率，获得功率单元的安全工作电压边界。
-
公开(公告)号：CN118688596A
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202410535002.4
申请日：2024-04-30
IPC分类号： G01R31/26
摘要： 本公开提供了一种功率器件的次级粒子辐照分析方法、装置、设备及介质，涉及半导体器件辐射效应技术领域，包括获取待分析功率器件对应的第一特性参数以及入射中子对应的第二特性参数；根据所述第一特性参数和预设的蒙特卡罗模拟平台，构建所述功率器件对应的功率器件仿真模型；根据所述第二特性参数、所述功率器件仿真模型和所述蒙特卡罗模拟平台，模拟所述入射中子辐照所述功率器件的全生命周期，得到所述入射中子辐照所述功率器件产生的次级粒子的辐照数据。本公开不需要粒子探测器以实验的方式探测次级粒子特征，降低了探测难度，提高了探测效率，不需要特定的粒子探测器，降低了成本。
-
公开(公告)号：CN115097277A
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202210697645.X
申请日：2022-06-20
摘要： 本发明公开了柔性直流换流阀功率单元的大气中子加速辐照试验方法，包括：在预设的第一数量的试验温度下，对多个待测功率单元注入中子束流并施加预设的第二数量的试验电压，对多个待测功率单元进行试验，功率单元为功率器件或功率器件内的芯片；监测并记录试验过程中的中子注量和各待测功率单元的泄漏电流，根据预设的失效条件判断各待测功率单元是否失效，预设的失效条件与泄漏电流相关；当满足预设的结束条件时，停止注入中子束流并结束试验，预设的结束条件与中子注量、柔性直流换流阀使用地的海拔高度相关。本发明针对高海拔地区的工作环境，测试效率高，能准确评估功率单元因大气中子引起的失效率，获得功率单元的安全工作电压边界。
-
公开(公告)号：CN113484894B
公开(公告)日：2024-01-05
申请号：CN202110654439.6
申请日：2021-06-11
IPC分类号： G01T1/16
摘要： 本发明涉及电子器件可靠性技术领域，公开了一种α粒子发射率测量方法，包括对粉末样品进行定型制样；分别对样品托盘和空的样品容器进行α粒子发射率背底测试，获得所述样品托盘的α粒子发射率和空的所述样品容器的α粒子发射率；对装满所述粉末样品的样品容器进行α粒子发射率测试，根据所述样品托盘的发射率和空的所述样品容器的α粒子发射率，获得所述粉末样品的α粒子发射率。通过根据实验需求对粉末样品进行定型和防沾污制样，来解决粉末样品存在形状不固定、容易被电离室气体吹起、容易污染托盘等问题。所述方法排除了试验设备对测试结果的干扰，解决了粉末样品α粒子发射率测试难题的同时还提高了试验准确度。
-
公开(公告)号：CN117214647A
公开(公告)日：2023-12-12
申请号：CN202311343806.6
申请日：2023-10-17
IPC分类号： G01R31/26
摘要： 本申请涉及一种电子器件检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品。方法包括：确定待测电子器件；所述待测电子器件的背面包括未被损坏的电极结构以及背面暴露区域，所述背面暴露区域的电极结构已损坏；控制预设加压装置向所述电极结构输入偏置电压后，监测所述待测电子器件对应的实时电流；控制激光装置向所述背面暴露区域发射激光，并监测所述实时电流是否发生变化，获得监测结果；根据所述监测结果确定所述背面暴露区域是否存在辐射效应敏感区域。采用本方法能够有效检测功率器件。
-
公开(公告)号：CN113077850B
公开(公告)日：2023-11-07
申请号：CN202110278942.6
申请日：2021-03-16
摘要： 本申请涉及电子器件可靠性技术领域，具体公开一种电子材料中α源的识别方法、装置及可读存储介质。方法包括构建α粒子发射能谱数据库；测量目标电子材料样品表面的α粒子发射能谱；对测量得到的目标电子材料样品表面的α粒子发射能谱，及α粒子发射能谱数据库中的α粒子发射能谱网格化处理；将网格化处理后的目标电子材料样品表面的α粒子发射能谱与网格化处理后的数据库中的α粒子发射能谱逐个比对得到匹配结果；根据匹配结果识别目标电子材料样品中的α源。即可从数据库中匹配出与目标电子材料样品表面的α粒子发射能谱最接近的能谱，以该能谱在数据库中所对应的α源作为目标电子材料样品中α源的识别结果，识别准确性较高，效率较高。
-
公开(公告)号：CN115267467A
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN202210534452.2
申请日：2022-05-17
摘要： 本申请涉及一种测试结构及功率器件在线测试装置。所述测试结构包括：多条并联的测试支路，各所述测试支路均包括串联电阻及待测功率器件，所述待测功率器件与位于同一所述测试支路的所述串联电阻串接；供电检测装置，与所述测试支路相连接，用于向所述待测功率器件施加偏置电压，使得所述待测功率器件处于阻断状态，并实时监测干路中的电流。采用本测试结构能够提高试验效率。
-
公开(公告)号：CN111693838B
公开(公告)日：2022-08-02
申请号：CN202010405988.5
申请日：2020-05-14
IPC分类号： G01R31/26
摘要： 本发明涉及一种纳米场效应晶体管的总剂量辐射试验方法和装置，该试验方法包括如下过程：提供具有统计学意义数量的场效应晶体管器件，进行第一电参数测试，获取其第一阈值电压；对场效应晶体管进行若干次辐射处理至达到预设的总辐射剂量，在每次辐射处理后均进行第二电参数测试；对辐射处理至总辐射剂量后的场效应晶体管进行偏置处理，然后进行第三电参数测试，获得第三阈值电压；根据数据处理所得的缺陷分布值判断所述场效应晶体管器件是否符合产品要求。该试验方法提供了一种针对纳米场效应晶体管的分析方法，其有效解决了纳米场效应晶体管的量子效应及涨落效应导致的波动幅度大，传统技术无法准确分析的问题。
-
公开(公告)号：CN114662373A
公开(公告)日：2022-06-24
申请号：CN202210137442.5
申请日：2022-02-15
IPC分类号： G06F30/25 , G06F17/18 , G06F11/26 , G06F119/02
摘要： 本申请涉及一种电子器件的软错误评估方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取将面源通过降能片组合照射电子器件的情况下，所述电子器件的单粒子翻转截面值组合；通过对体源照射电子器件的情形进行仿真，获得表面粒子通量组合，所述表面粒子通量组合与将面源通过降能片组合照射电子器件的情况下，获得的所述单粒子翻转截面值组合对应；基于所述单粒子翻转截面值组合和所述表面粒子通量组合，确定所述电子器件的软错误率。采用本方法能够提高电子器件的软错误率的评估精度。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
搜索结果
68 条记录 (耗时 0.075 秒)
