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公开(公告)号：CN107389867A
公开(公告)日：2017-11-24
申请号：CN201710630317.7
申请日：2017-07-28
申请人： 中国电子科技集团公司第二十四研究所
IPC分类号： G01N33/00
摘要： 本发明公开了一种微电路内部气氛检测试验夹具，涉及电子产品可靠性与环境试验领域，它由母夹体、子夹体、盖体组成，母夹体的一端中心部位设有内凹的压腔，用于放置子夹体，压腔内设有贯穿的连接通道，用于容纳待测试器件，母夹体在与压腔口部同侧的四周外缘处设有让位部，用于安装密封圈，盖体覆盖于压腔口部且盖住密封圈。本发明夹具为其中的待测试器件放置提供了一个新思路，即设计一个直径略大于待测试器件的连接通道，可将待测试器件放置于连接通道内，极大的提高夹具的密封性和对待测试器件的保护，同时设计配套的子夹体，不仅可固定住该待测试器件，还极大的减少夹具中额外体积的产生，进一步减小夹具本身气氛对检查结果的影响。
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公开(公告)号：CN103197226B
公开(公告)日：2016-01-13
申请号：CN201310083765.1
申请日：2013-03-15
申请人： 中国电子科技集团公司第二十四研究所
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本发明提供一种引线键合气密性封装模拟集成电路贮存寿命评估方法。该方法包括步骤：选取筛选合格的样品随机分为若干组；测试并计算一组样品内部的相对湿度及键合丝的键合强度平均值；利用恒定温度应力、温度循环和恒定湿热三组加速应力进行加速寿命试验，进行恒定湿热试验的样品应先开盖；每间隔一定时间检测样品的敏感参数；确定产品的敏感参数及其寿命分布类型，拟合得到分布参数；计算样品的平均寿命；根据不同应力条件下样品平均寿命计算加速模型的模型参数和加速因子；外推出样品实际贮存条件下的寿命。本发明方法的试验应力选择合理，监测参数全面，能准确地判别敏感参数，它主要应用于半导体模拟集成电路可靠性评估领域。
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公开(公告)号：CN107389867B
公开(公告)日：2019-11-12
申请号：CN201710630317.7
申请日：2017-07-28
申请人： 中国电子科技集团公司第二十四研究所
IPC分类号： G01N33/00
摘要： 本发明公开了一种微电路内部气氛检测试验夹具，涉及电子产品可靠性与环境试验领域，它由母夹体、子夹体、盖体组成，母夹体的一端中心部位设有内凹的压腔，用于放置子夹体，压腔内设有贯穿的连接通道，用于容纳待测试器件，母夹体在与压腔口部同侧的四周外缘处设有让位部，用于安装密封圈，盖体覆盖于压腔口部且盖住密封圈。本发明夹具为其中的待测试器件放置提供了一个新思路，即设计一个直径略大于待测试器件的连接通道，可将待测试器件放置于连接通道内，极大的提高夹具的密封性和对待测试器件的保护，同时设计配套的子夹体，不仅可固定住该待测试器件，还极大的减少夹具中额外体积的产生，进一步减小夹具本身气氛对检查结果的影响。
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公开(公告)号：CN109581191A
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201811486422.9
申请日：2018-12-06
申请人： 中国电子科技集团公司第二十四研究所
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本发明涉及质量与可靠性领域、检测技术研究领域，特别涉及一种用于微小腔体电路内部气氛检测结果比对的双腔结构，包括管壳和盖板，管壳使用间隔板隔断分离形成第一腔体和第二腔体，间隔板与外壁等高，且第一腔体与第二腔体共用一块盖板，所述管壳采用平行缝焊管壳，其形状为长方体，所述第一腔体的体积为0.001立方厘米～0.01立方厘米，第二腔体的体积为0.1立方厘米～4.0立方厘米；本发明方法的双腔结构可以对小于0.01立方厘米的微小腔体内部气氛检测结果进行准确比对，可以极大地提高微小腔体电路内部气氛检测结果的准确性和稳定性。
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公开(公告)号：CN109061061B
公开(公告)日：2021-04-20
申请号：CN201810869773.1
申请日：2018-08-02
申请人： 中国电子科技集团公司第二十四研究所
IPC分类号： G01N33/00
摘要： 本发明提出一种微小电路内部气氛检测校准器，属于电子产品可靠性与环境试验技术领域。本发明包括基座、活塞杆和滑盖，所述基座为长方体结构，基座的中心位置自上而下开有连通的第一活塞杆孔和储气孔，第一活塞杆孔的直径大于储气孔的直径；所述基座上还开有两个进气孔，且两个进气孔均与第一活塞孔连通；所述滑盖设置在基座的底面，用于密封储气孔的孔口；所述活塞杆活动设置在第一活塞杆孔内。使用本发明中的校准器可以对小于0.01cc的微小腔体直接进行校准，极大地提高了微小腔体(＜0.01cc)电路内部气氛检测试验中的校准精度，从而提高了微小腔体电路内部气氛检测结果的准确性和稳定性。
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公开(公告)号：CN109581191B
公开(公告)日：2021-11-30
申请号：CN201811486422.9
申请日：2018-12-06
申请人： 中国电子科技集团公司第二十四研究所
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本发明涉及质量与可靠性领域、检测技术研究领域，特别涉及一种用于微小腔体电路内部气氛检测结果比对的双腔结构，包括管壳和盖板，管壳使用间隔板隔断分离形成第一腔体和第二腔体，间隔板与外壁等高，且第一腔体与第二腔体共用一块盖板，所述管壳采用平行缝焊管壳，其形状为长方体，所述第一腔体的体积为0.001立方厘米～0.01立方厘米，第二腔体的体积为0.1立方厘米～4.0立方厘米；本发明方法的双腔结构可以对小于0.01立方厘米的微小腔体内部气氛检测结果进行准确比对，可以极大地提高微小腔体电路内部气氛检测结果的准确性和稳定性。
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公开(公告)号：CN109061061A
公开(公告)日：2018-12-21
申请号：CN201810869773.1
申请日：2018-08-02
申请人： 中国电子科技集团公司第二十四研究所
IPC分类号： G01N33/00
CPC分类号： G01N33/0004
摘要： 本发明提出一种微小电路内部气氛检测校准器，属于电子产品可靠性与环境试验技术领域。本发明包括基座、活塞杆和滑盖，所述基座为长方体结构，基座的中心位置自上而下开有连通的第一活塞杆孔和储气孔，第一活塞杆孔的直径大于储气孔的直径；所述基座上还开有两个进气孔，且两个进气孔均与第一活塞孔连通；所述滑盖设置在基座的底面，用于密封储气孔的孔口；所述活塞杆活动设置在第一活塞杆孔内。使用本发明中的校准器可以对小于0.01cc的微小腔体直接进行校准，极大地提高了微小腔体(＜0.01cc)电路内部气氛检测试验中的校准精度，从而提高了微小腔体电路内部气氛检测结果的准确性和稳定性。
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公开(公告)号：CN103197226A
公开(公告)日：2013-07-10
申请号：CN201310083765.1
申请日：2013-03-15
申请人： 中国电子科技集团公司第二十四研究所
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本发明提供一种引线键合气密性封装模拟集成电路贮存寿命评估方法。该方法包括步骤：选取筛选合格的样品随机分为若干组；测试并计算一组样品内部的相对湿度及键合丝的键合强度平均值；利用恒定温度应力、温度循环和恒定湿热三组加速应力进行加速寿命试验，进行恒定湿热试验的样品应先开盖；每间隔一定时间检测样品的敏感参数；确定产品的敏感参数及其寿命分布类型，拟合得到分布参数；计算样品的平均寿命；根据不同应力条件下样品平均寿命计算加速模型的模型参数和加速因子；外推出样品实际贮存条件下的寿命。本发明方法的试验应力选择合理，监测参数全面，能准确地判别敏感参数，它主要应用于半导体模拟集成电路可靠性评估领域。
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