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公开(公告)号：CN106130667B
公开(公告)日：2018-11-20
申请号：CN201610700240.1
申请日：2016-08-19
申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所
摘要： 本发明公开了一种用于毫米波T/R组件测试的保护装置及方法、测试装置；其中，保护装置包括至少一级定向耦合器，所述定向耦合器依次串联连接；其中，第一级定向耦合器的输入端与毫米波T/R组件的发射输出端相连，最后一级定向耦合器的输出端与环形器的第一端口相连；环形器的第二端口与负载相连，环形器的第三端口连接与开关网络相连，所述开关网络与毫米波T/R组件测试仪器相连；所述定向耦合器的耦合输出端口还通过开关网络或直接与毫米波T/R组件测试仪器连接；所述开关网络还与控制器相连，所述控制器被配置为开关网络切换提供脉冲控制信号。
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公开(公告)号：CN107478870A
公开(公告)日：2017-12-15
申请号：CN201710727192.X
申请日：2017-08-23
申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所
IPC分类号： G01R1/04 , G05B19/042
CPC分类号： G01R1/04 , G05B19/042
摘要： 本发明公开了一种适用宇航级多通道微波组件环境试验的开关网络，具体涉及测试技术领域。该适用宇航级多通道微波组件环境试验的开关网络包括环境试验箱、AC/DC电源模块和PCI数字I/O模块，所述环境试验箱内设有机箱，机箱内设有微波开关及模块组合，微波开关及模块组合包含多个微波开关及模块，机箱的面板上设有电源连接器、高密多芯连接器和微波连接器，AC/DC电源模块通过电源连接器与微波开关及模块相连，PCI数字I/O模块通过高密多芯连接器与微波开关及模块相连。
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公开(公告)号：CN106385287A
公开(公告)日：2017-02-08
申请号：CN201610694740.9
申请日：2016-08-19
申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所
IPC分类号： H04B17/00
摘要： 本发明公开了一种多通道T/R组件测试装置及方法，其中该装置包括收发信号分离网络，所述收发信号分离网络包括至少一个合路器，合路器的每一个分路端均通过一个四端口网络与多通道T/R组件的发射输出/接收输入端相连，多通道T/R组件的发射输入/接收输出端通过仪器分配网络与T/R组件性能测试仪器分别相连；所述合路器的合路端也通过仪器分配网络与T/R组件性能测试仪器分别相连；所述仪器分配网络还与信号源相连，所述信号源用于为多通道T/R组件提供输入信号；所述收发信号分离网络和仪器分配网络均与控制器相连；所述四端口网络包括两种工作状态，一种工作状态是形成两条竖向微波通道，另一种工作状态是形成两条横向微波通道。
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公开(公告)号：CN106130667A
公开(公告)日：2016-11-16
申请号：CN201610700240.1
申请日：2016-08-19
申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所
摘要： 本发明公开了一种用于毫米波T/R组件测试的保护装置及方法、测试装置；其中，保护装置包括至少一级定向耦合器，所述定向耦合器依次串联连接；其中，第一级定向耦合器的输入端与毫米波T/R组件的发射输出端相连，最后一级定向耦合器的输出端与环形器的第一端口相连；环形器的第二端口与负载相连，环形器的第三端口连接与开关网络相连，所述开关网络与毫米波T/R组件测试仪器相连；所述定向耦合器的耦合输出端口还通过开关网络或直接与毫米波T/R组件测试仪器连接；所述开关网络还与控制器相连，所述控制器被配置为开关网络切换提供脉冲控制信号。
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公开(公告)号：CN106405270B
公开(公告)日：2018-10-19
申请号：CN201610703131.5
申请日：2016-08-22
申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所
IPC分类号： G01R31/00
摘要： 本发明公开了支持多T/R组件测试的收发切换控制信号产生方法及装置，包括T/R组件状态控制器，所述T/R组件状态控制器分别与多个待测的数字T/R组件相连，所述T/R组件状态控制器通过收发切换线连接至数字示波器，多个待测的数字T/R组件分别通过开关网络连接至数字示波器；T/R组件状态控制器包括收发切换单元，所述收发切换单元用于实现在待测的数字T/R组件的状态变化的同时发送一个同步信号至数字示波器。本发明只需要一个收发切换控制信号输出端口，就可满足多组件收发切换时间的测试。本发明收发切换控制信号输出能够与各个组件的收发状态变换严格同步。
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公开(公告)号：CN106291349B
公开(公告)日：2018-09-25
申请号：CN201610681640.2
申请日：2016-08-17
申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所
IPC分类号： G01R31/327
摘要： 本发明公开了一种基于变频方波信号的微波组件开关响应时间的测试方法，采用方波控制信号对微波组件进行等间隔的开关操作；设置大步进长度，将方波控制信号的周期不断以一个大步进长度进行缩短，并将缩短后的方波控制信号输入到微波组件，直到微波组件输出信号被完全切断，将方波控制信号的周期加长一个大步进长度，设置小步进长度，将方波控制信号周期不断以一个小步进长度进行缩短，并将缩短后的方波控制信号输入到微波组件，直到微波组件输出信号被完全切断，则开关响应时间为此时方波控制信号周期的二分之一。本发明将开关响应时间通道间的测试转换成微波组件输出信号单通道的测试，不需要考虑通道间的同步问题。
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公开(公告)号：CN106301612B
公开(公告)日：2018-08-24
申请号：CN201610702761.0
申请日：2016-08-22
申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所
IPC分类号： H04B17/29
摘要： 本发明公开了基于计数器的询问机接收灵敏度的自动测试方法及系统，包括：控制单元设置敌我识别询问机的将要测试的频点；设置信源模拟器的频点和功率电平，使其与敌我识别询问机的将要测试的频点相匹配；控制单元控制敌我识别询问机处于询问状态进行工作，信源模拟器接收信号并应答；通过计数器板卡的两个计数通道对询问脉冲和译码脉冲进行计数并计算询问概率，当询问概率不低于敌我识别询问机的指标要求时，提高程控衰减器的衰减量，直到询问概率低于敌我识别询问机的指标要求时。本发明采用计数器对询问触发脉冲与译码标志脉冲的数量进行统计，实现询问概率的自动测试；采用精确计数的方法，提高测试精度。
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公开(公告)号：CN106405270A
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：CN201610703131.5
申请日：2016-08-22
申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所
IPC分类号： G01R31/00
摘要： 本发明公开了支持多T/R组件测试的收发切换控制信号产生方法及装置，包括T/R组件状态控制器，所述T/R组件状态控制器分别与多个待测的数字T/R组件相连，所述T/R组件状态控制器通过收发切换线连接至数字示波器，多个待测的数字T/R组件分别通过开关网络连接至数字示波器；T/R组件状态控制器包括收发切换单元，所述收发切换单元用于实现在待测的数字T/R组件的状态变化的同时发送一个同步信号至数字示波器。本发明只需要一个收发切换控制信号输出端口，就可满足多组件收发切换时间的测试。本发明收发切换控制信号输出能够与各个组件的收发状态变换严格同步。
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公开(公告)号：CN104932299A
公开(公告)日：2015-09-23
申请号：CN201510213684.8
申请日：2015-04-23
申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所
摘要： 本发明提出了一种T/R组件测试中电源保护装置，前级电源的输出作为后级电源上电的控制信号；正电源1所需的控制信号采用限幅积分放大电路产生，控制信号来源于负电源；正电源2所需的控制信号采用比例放大电路产生，控制信号来源于负电源和正电源1，不但实现了按照负电源、正电源1、正电源2的顺序进行输出，而且在异常时实现断电顺序的有序调理。本发明的T/R组件测试中电源保护装置，采用硬件方式实现，实时性更强，且不依赖于外界的控制，可以根据电源工作情况自动处理。
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公开(公告)号：CN106385287B
公开(公告)日：2018-10-19
申请号：CN201610694740.9
申请日：2016-08-19
申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所
摘要： 本发明公开了一种多通道T/R组件测试装置及方法，其中该装置包括收发信号分离网络，所述收发信号分离网络包括至少一个合路器，合路器的每一个分路端均通过一个四端口网络与多通道T/R组件的发射输出/接收输入端相连，多通道T/R组件的发射输入/接收输出端通过仪器分配网络与T/R组件性能测试仪器分别相连；所述合路器的合路端也通过仪器分配网络与T/R组件性能测试仪器分别相连；所述仪器分配网络还与信号源相连，所述信号源用于为多通道T/R组件提供输入信号；所述收发信号分离网络和仪器分配网络均与控制器相连；所述四端口网络包括两种工作状态，一种工作状态是形成两条竖向微波通道，另一种工作状态是形成两条横向微波通道。
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