公开(公告)号：CN113838588B

公开(公告)日：2024-05-28

申请号：CN202111202078.8

申请日：2021-10-15

申请人： 中国科学技术大学

发明人： 薛明萱 ,  赵康康 ,  张云龙 ,  文思成 ,  张志永 ,  魏逸丰 ,  林箐 ,  彭海平 ,  许咨宗 ,  汪晓莲

IPC分类号： G21C17/108

摘要： 本发明属于核反应堆热中子检测技术领域，尤其涉及锗材料在检测反应堆热中子平均通量密度中的应用、反应堆热中子平均通量密度的检测方法。本发明提供锗材料在检测反应堆热中子平均通量密度中的应用。锗材料受到热中子辐照后，锗材料中的#imgabs0#核素转变为其同位素#imgabs1#以所述#imgabs2#核素作为目标靶核，#imgabs3#发生放射性衰变时产生的X射线的能量为9.2keV和10.3keV，具有适宜的射线能量范围，对人体及周围环境危害小，危险系数低；且#imgabs4#核素的半衰期为11.42天，无需长时间保存处理，从而本发明提供的锗材料很好的解决了现有技术传统方法遗留的靶核放射性衰变周期长且靶核特征射线能量高的问题。

公开(公告)号：CN109632748A

公开(公告)日：2019-04-16

申请号：CN201811654421.0

申请日：2018-12-29

申请人： 中国科学技术大学

发明人： 薛明萱 ,  张云龙 ,  文思成 ,  彭海平 ,  张志永 ,  魏逸丰 ,  许咨宗 ,  汪晓莲

IPC分类号： G01N21/64

摘要： 本公开提供了一种宽温度范围放射源激发闪烁晶体荧光测量系统及方法，其中测量系统包括：制冷机、放射源和PMT测试系统；制冷机包括冷台、低温腔室、温度控制器和温度探头；冷台置于制冷机机体上部，待测晶体样品放置于冷台上，低温腔室罩设在冷台外部；温度控制器用于调整制冷机制冷温度，使冷台温度满足待测晶体样品所需温度；第一温度探头与冷台相连，第二温度探头与待测晶体样品表面相连，第三温度探头与PMT测试系统相连，紧贴在PMT测试系统伸进低温腔室的光阴极玻璃管壁侧面；PMT测试系统的光阴极负责收集待测晶体样品的闪烁荧光，并将收集到的光信号转化为电信号，输出至PC端。本公开中PMT测试系统深入制冷机的低温腔室利于提高荧光收集效率。

公开(公告)号：CN113838588A

公开(公告)日：2021-12-24

申请号：CN202111202078.8

申请日：2021-10-15

申请人： 中国科学技术大学

发明人： 薛明萱 ,  赵康康 ,  张云龙 ,  文思成 ,  张志永 ,  魏逸丰 ,  林箐 ,  彭海平 ,  许咨宗 ,  汪晓莲

IPC分类号： G21C17/108

摘要： 本发明属于核反应堆热中子检测技术领域，尤其涉及锗材料在检测反应堆热中子平均通量密度中的应用、反应堆热中子平均通量密度的检测方法。本发明提供锗材料在检测反应堆热中子平均通量密度中的应用。锗材料受到热中子辐照后，锗材料中的核素转变为其同位素以所述核素作为目标靶核，发生放射性衰变时产生的X射线的能量为9.2keV和10.3keV，具有适宜的射线能量范围，对人体及周围环境危害小，危险系数低；且核素的半衰期为11.42天，无需长时间保存处理，从而本发明提供的锗材料很好的解决了现有技术传统方法遗留的靶核放射性衰变周期长且靶核特征射线能量高的问题。

公开(公告)号：CN109632748B

公开(公告)日：2020-08-25

申请号：CN201811654421.0

申请日：2018-12-29

申请人： 中国科学技术大学

发明人： 薛明萱 ,  张云龙 ,  文思成 ,  彭海平 ,  张志永 ,  魏逸丰 ,  许咨宗 ,  汪晓莲

IPC分类号： G01N21/64

摘要： 本公开提供了一种宽温度范围放射源激发闪烁晶体荧光测量系统及方法，其中测量系统包括：制冷机、放射源和PMT测试系统；制冷机包括冷台、低温腔室、温度控制器和温度探头；冷台置于制冷机机体上部，待测晶体样品放置于冷台上，低温腔室罩设在冷台外部；温度控制器用于调整制冷机制冷温度，使冷台温度满足待测晶体样品所需温度；第一温度探头与冷台相连，第二温度探头与待测晶体样品表面相连，第三温度探头与PMT测试系统相连，紧贴在PMT测试系统伸进低温腔室的光阴极玻璃管壁侧面；PMT测试系统的光阴极负责收集待测晶体样品的闪烁荧光，并将收集到的光信号转化为电信号，输出至PC端。本公开中PMT测试系统深入制冷机的低温腔室利于提高荧光收集效率。