公开(公告)号：CN109358001A

公开(公告)日：2019-02-19

申请号：CN201811251434.3

申请日：2018-10-25

申请人： 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 ,  中国科学院大学

发明人： 付亚州 ,  王长 ,  谭智勇 ,  曹俊诚

IPC分类号： G01N21/01

摘要： 本发明公开了一种基于太赫兹光谱仪的可弯曲样品的固定装置，该固定装置包括：第一夹具组件和第二夹具组件，其中第一夹具组件至少包括第一固定夹，第二夹具组件至少包括第二固定夹，第一固定夹和第二固定夹被设置为：分别夹持待测样品的第一端和第二端，第一固定夹和第二固定夹在第一水平方向上移动，以弯曲所述待测样品。此外，本发明还公开了一种包括太赫兹时域光谱仪和上述固定装置的测量系统以及一种测量方法，测量方法采用测量系统进行测量，包括步骤：采用固定装置将待测样品夹持固定，并根据需要调整待测样品弯曲度；采用太赫兹时域光谱仪的发射端发出太赫兹信号，采用太赫兹时域光谱仪的接收端接收穿透待测样品的太赫兹信号，并进行分析。

公开(公告)号：CN109358001B

公开(公告)日：2023-09-08

申请号：CN201811251434.3

申请日：2018-10-25

申请人： 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 ,  中国科学院大学

发明人： 付亚州 ,  王长 ,  谭智勇 ,  曹俊诚

IPC分类号： G01N21/01

摘要： 本发明公开了一种基于太赫兹光谱仪的可弯曲样品的固定装置，该固定装置包括：第一夹具组件和第二夹具组件，其中第一夹具组件至少包括第一固定夹，第二夹具组件至少包括第二固定夹，第一固定夹和第二固定夹被设置为：分别夹持待测样品的第一端和第二端，第一固定夹和第二固定夹在第一水平方向上移动，以弯曲所述待测样品。此外，本发明还公开了一种包括太赫兹时域光谱仪和上述固定装置的测量系统以及一种测量方法，测量方法采用测量系统进行测量，包括步骤：采用固定装置将待测样品夹持固定，并根据需要调整待测样品弯曲度；采用太赫兹时域光谱仪的发射端发出太赫兹信号，采用太赫兹时域光谱仪的接收端接收穿透待测样品的太赫兹信号，并进行分析。

公开(公告)号：CN209280545U

公开(公告)日：2019-08-20

申请号：CN201821735116.X

申请日：2018-10-25

申请人： 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 ,  中国科学院大学

发明人： 付亚州 ,  王长 ,  谭智勇 ,  曹俊诚

IPC分类号： G01N21/01

摘要： 本实用新型公开了一种基于太赫兹光谱仪的可弯曲样品的固定装置，该固定装置包括：第一夹具组件和第二夹具组件，其中第一夹具组件至少包括第一固定夹，第二夹具组件至少包括第二固定夹，第一固定夹和第二固定夹被设置为：分别夹持待测样品的第一端和第二端，第一固定夹和第二固定夹在第一水平方向上移动，以弯曲所述待测样品。此外，本实用新型还公开了一种包括太赫兹时域光谱仪和上述固定装置的测量系统。本实用新型所述的固定装置克服了现有技术的不足，可以对可弯曲的待测样品进行测试，且可以自由方便地调节待测样品在空间内的相对位置，从而控制样品的弯曲程度，大大地增加了待测样品的可测量范围。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利