一种缺陷散射计算重构光谱探测装置及方法

    公开(公告)号:CN115979422A

    公开(公告)日:2023-04-18

    申请号:CN202310113989.6

    申请日:2023-02-15

    Inventor: 何晋平 赵振宁

    Abstract: 本发明公开了一种缺陷散射计算重构光谱探测装置及方法,该装置包括光电探测器、引光系统、光波导、随机缺陷散射结构、衬底。所述缺陷散射结构为在光波导表面带有大小和位置随机量的凹陷。本发明的技术方案通过在光波导表面引入随机缺陷获得散射光来重建目标光谱,相对传统的商用光谱仪具有器件少,空间光路紧凑,体积小的优点,其有效降低了光谱仪的系统复杂度和成本,提高了光谱仪的便携性;该结构在使用计算重构的方法来重建光谱时能够很好的复现入射光谱,并且具有大的带宽和较高的光谱分辨率。

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