应用于月表氦资源提取及验证的装置

    公开(公告)号:CN118883968A

    公开(公告)日:2024-11-01

    申请号:CN202410920086.3

    申请日:2024-07-10

    摘要: 本发明公开了一种应用于月表氦资源提取及验证的装置,包括进样杯、对接杯、碾体、直线驱动装置、吸气剂储罐和四极杆质谱仪。对接杯包括杯底和侧壁,侧壁包括变形段和定型段。侧壁的第一端连接杯底,侧壁的第二端可分离式对接进样杯的杯口,并且对接位置磁性吸附。碾体的第一端固定连接杯底,碾体的第二端用于碾磨进样杯内的月壤样品。直线驱动装置连接杯底,并驱动对接杯沿直线靠近或远离进样杯。吸气剂储罐用于向对接杯内侧提供吸气剂,四极杆质谱仪用于对对接杯内的气体进行质谱分析。本发明的装置具有重复进样、提取、弃样的能力和提取氦气的检测验证能力,可利用探测器提供的原位月壤,开展氦资源的提取、检测等工艺流程在轨实验。

    一种用于电离层H、He同位素测量的仪器和方法

    公开(公告)号:CN108303457B

    公开(公告)日:2023-12-29

    申请号:CN201810141029.X

    申请日:2018-02-11

    IPC分类号: G01N27/62

    摘要: 本发明涉及同位素分析技术领域,具体涉及一种用于电离层H、He同位素测量的仪器和方法。利用金箔接受电离层轰击收集H、He等离子体,在密闭空间下对所述金箔加热将所述H、He等离子体释放为混合中性气体,在所述密闭空间内对所述混合中性气体电离分析其同位素组成得到H、He同位素的混合信号;吸附所述混合中性气体中的氢气,对剩余气体进行电离分析He同位素组成,通过计算得到H同位素的信号。本发明提供的测量仪器和方法实现了对电离层等离子体同位素原位测量测试分析从无到有的突破。

    一种航天探测用气体检测仪器在轨定标微型标准源装置

    公开(公告)号:CN116358967B

    公开(公告)日:2023-09-26

    申请号:CN202310598847.3

    申请日:2023-05-25

    IPC分类号: G01N1/28 G01N33/00

    摘要: 本发明涉及原位检测技术领域,尤其为一种航天探测用气体检测仪器在轨定标微型标准源装置,包括:腔室,所述腔室的一端用于放置固体标准物质,固体标准物质挥发产生蒸气作为压力稳定的气源;限流部,位于所述腔室另的一端,用于限制气源流速;温度贴点,位于所述腔室的一端,用于测量腔室和标准物质的温度;阀门,位于所述限流部和温度贴点之间,用于控制气源是否流出所述腔室。本发明,体积小、功耗低、不需要主动热控,利用固态样品,稳定性高、不易因泄露损失,固态样品饱和蒸气压低的优势,每次释放标准物质量少、可控,因此使用次数和总时长远远高于气态标准物质。

    一种供气调节装置、He气同位素分析系统及分析方法

    公开(公告)号:CN113339703B

    公开(公告)日:2022-03-08

    申请号:CN202110766362.1

    申请日:2021-07-07

    摘要: 本发明公开了一种供气调节装置,属于稀有气体同位素分析技术领域,包括储气箱和供气箱,储气箱的进气端和供气箱的出气端均设有阀门,供气箱与供气箱之间也设有阀门,供气箱体积可调且大于供气箱,通过供气箱、储气箱和各阀门之间的配合能够实现同一批气体,等量多次供气;还公开了一种He气同位素分析系统及分析方法,包括稀有气体纯化装置、质谱仪,储气箱的进气端与稀有气体纯化装置连通,供气箱的出气端与质谱仪进气端连通,质谱仪出气端与稀有气体纯化装置连通,稀有气体纯化装置可提出气体得到纯净的He气,通入供气调节装置后,将同一批He气多次等量的供应,并在质谱仪分析下取均值,大幅降低单次纯化后的He气分析误差,提高分析的真实性。

    一种在轨标校质谱仪基础参数的方法

    公开(公告)号:CN113484401B

    公开(公告)日:2022-01-11

    申请号:CN202110766464.3

    申请日:2021-07-07

    IPC分类号: G01N27/62

    摘要: 本发明涉及质谱仪基础参数标校技术领域,提供了一种在轨标校质谱仪基础参数的方法,利用硅酸盐矿物在熔融态下可以吸附环境中气体的特点,在真空条件下,将硅酸盐矿物进行加热,得到熔融态硅酸盐矿物;将其置于标准气体的环境中进行吸附,然后迅速冷却得到标准样品,然后将标准样品预装于质谱仪的热控装置中。当质谱仪进入预定轨道后,需要利用质谱仪进行物质测试时,对标准样品进行在轨加热,使吸附的标准气体释放到质谱仪中,实现质谱仪基础参数的标校。由于硅酸盐矿物在加热之前不会释放气体,避免了使用标准气瓶导致的漏气的风险,且无需与气瓶配套的阀门,降低了质谱仪的重量,进而降低了火箭发射成本。

    一种在轨标校质谱仪基础参数的方法

    公开(公告)号:CN113484401A

    公开(公告)日:2021-10-08

    申请号:CN202110766464.3

    申请日:2021-07-07

    IPC分类号: G01N27/62

    摘要: 本发明涉及质谱仪基础参数标校技术领域,提供了一种在轨标校质谱仪基础参数的方法,利用硅酸盐矿物在熔融态下可以吸附环境中气体的特点,在真空条件下,将硅酸盐矿物进行加热,得到熔融态硅酸盐矿物;将其置于标准气体的环境中进行吸附,然后迅速冷却得到标准样品,然后将标准样品预装于质谱仪的热控装置中。当质谱仪进入预定轨道后,需要利用质谱仪进行物质测试时,对标准样品进行在轨加热,使吸附的标准气体释放到质谱仪中,实现质谱仪基础参数的标校。由于硅酸盐矿物在加热之前不会释放气体,避免了使用标准气瓶导致的漏气的风险,且无需与气瓶配套的阀门,降低了质谱仪的重量,进而降低了火箭发射成本。

    一种航天探测用气体检测仪器在轨定标微型标准源装置

    公开(公告)号:CN116358967A

    公开(公告)日:2023-06-30

    申请号:CN202310598847.3

    申请日:2023-05-25

    IPC分类号: G01N1/28 G01N33/00

    摘要: 本发明涉及原位检测技术领域,尤其为一种航天探测用气体检测仪器在轨定标微型标准源装置,包括:腔室,所述腔室的一端用于放置固体标准物质,固体标准物质挥发产生蒸气作为压力稳定的气源;限流部,位于所述腔室另的一端,用于限制气源流速;温度贴点,位于所述腔室的一端,用于测量腔室和标准物质的温度;阀门,位于所述限流部和温度贴点之间,用于控制气源是否流出所述腔室。本发明,体积小、功耗低、不需要主动热控,利用固态样品,稳定性高、不易因泄露损失,固态样品饱和蒸气压低的优势,每次释放标准物质量少、可控,因此使用次数和总时长远远高于气态标准物质。