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公开(公告)号：CN103499636A
公开(公告)日：2014-01-08
申请号：CN201310473904.1
申请日：2013-10-11
IPC分类号： G01N27/82
摘要： 本发明涉及一种基于测静磁力的薄板类铁磁材料中微缺陷的无损检测方法，属于无损检测技术领域。首先将永磁体置于标定薄板的表面，使用力传感器测定作用于永磁体上的静磁力的反作用力；其次将永磁体置于待测薄板的表面，再次使用力传感器测定永磁体受到的反作用力；将两个反作用力进行比较，若相同，则确定待测薄板上不存在表面缺陷或内部缺陷，若不相同，则确定待测薄板上存在表面缺陷或内部缺陷。本方法测量过程简单，检测成本相对较低，而且检测结果可靠；测量精度高，可探测到磁性薄板中微米级的微缺陷；检测速度高，可对薄板材料进行在线、快速、实时的检测。
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公开(公告)号：CN105983664A
公开(公告)日：2016-10-05
申请号：CN201510090603.X
申请日：2015-02-28
IPC分类号： B22D2/00 , B22D11/115
摘要： 本发明涉及一种在线监测导磁连铸坯振痕的静磁力方法，方法包括：将永磁体置于连续下拉过程中连铸坯的表面，永磁体的磁化方向垂直于待测连铸坯的待测坯面；利用与待测连铸坯相同材料的无振痕连铸坯进行标定，使用测力传感器测定作用于磁体上静磁力F0的反作用力F0′；对有振痕的待测连铸坯进行测定，连铸坯通过永磁体下方，待测连铸坯表面的凸起或凹陷会使永磁体受到的静磁力的反作用力F0′发生变化，使用与永磁体端部连接的测力传感器进行测量作用在用永磁体上的反作用力F0′，从而得到待测连铸坯表面的振痕信息。本发明在线静磁力探测连铸坯振痕简单方便，结果准确，根据缺陷的信号分析，可以对振痕变化进行监控。
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公开(公告)号：CN103499636B
公开(公告)日：2016-04-13
申请号：CN201310473904.1
申请日：2013-10-11
IPC分类号： G01N27/82
摘要： 本发明涉及一种基于测静磁力的薄板类铁磁材料中微缺陷的无损检测方法，属于无损检测技术领域。首先将永磁体置于标定薄板的表面，使用力传感器测定作用于永磁体上的静磁力的反作用力；其次将永磁体置于待测薄板的表面，再次使用力传感器测定永磁体受到的反作用力；将两个反作用力进行比较，若相同，则确定待测薄板上不存在表面缺陷或内部缺陷，若不相同，则确定待测薄板上存在表面缺陷或内部缺陷。本方法测量过程简单，检测成本相对较低，而且检测结果可靠；测量精度高，可探测到磁性薄板中微米级的微缺陷；检测速度高，可对薄板材料进行在线、快速、实时的检测。
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公开(公告)号：CN105983664B
公开(公告)日：2018-02-23
申请号：CN201510090603.X
申请日：2015-02-28
IPC分类号： B22D2/00 , B22D11/115
摘要： 本发明涉及一种在线监测导磁连铸坯振痕的静磁力方法，方法包括：将永磁体置于连续下拉过程中连铸坯的表面，永磁体的磁化方向垂直于待测连铸坯的待测坯面；利用与待测连铸坯相同材料的无振痕连铸坯进行标定，使用测力传感器测定作用于磁体上静磁力F0的反作用力F0′；对有振痕的待测连铸坯进行测定，连铸坯通过永磁体下方，待测连铸坯表面的凸起或凹陷会使永磁体受到的静磁力的反作用力F0′发生变化，使用与永磁体端部连接的测力传感器进行测量作用在用永磁体上的反作用力F0′，从而得到待测连铸坯表面的振痕信息。本发明在线静磁力探测连铸坯振痕简单方便，结果准确，根据缺陷的信号分析，可以对振痕变化进行监控。
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公开(公告)号：CN115541067A
公开(公告)日：2022-12-30
申请号：CN202211012250.8
申请日：2022-08-23
申请人： 中国科学院大学 , 中国科学院半导体研究所
摘要： 本发明涉及一种检测生产工况下金属薄板微缺陷的微纳器件，包括微纳器，所述微纳器包括壳体，壳体的上部为安装口，壳体内底部设置有印刷电路板，所述壳体内两侧对称设置有衬垫，所述衬垫下端与印刷电路板相连，对应安装口位置的壳体另外两侧内对称设置有弹簧梁组件，两个弹簧梁组件之间共同水平固装一质量块，实施质量块的中心处制有凹槽，用于限位安装有永磁体，所述质量块相对衬板两侧中部等间距排列有可移动平行极板，所述可移动平行极板、质量块和永磁铁构成活动体，且衬垫相对侧壁上等间距排列有固定平行极板，固定平行极板另一端穿插在所述可移动平行极板的间隔中。本发明可以对在生产工况下对金属薄板的微缺陷进行检测、且检测精度高。
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公开(公告)号：CN109272505A
公开(公告)日：2019-01-25
申请号：CN201811219323.4
申请日：2018-10-19
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 , 中国科学院大学
IPC分类号： G06T7/00
摘要： 本发明适用太阳图像偏移量检测技术领域，提供了一种太阳极紫外图像的偏移量检测方法、装置及电子设备，该方法包括：采集太阳极紫外图像作为基准参考图像；实时采集太阳极紫外图像作为实时图像；比较所述基准参考图像与所述实时图像中像素点的灰度值，计算所述实时图像与所述基准参考图像分别对应的采集时间之间的偏移量，使太阳极紫外光图像的偏移量检测的误差大大减小，可靠性大大提高，并且实现太阳极紫外成像仪主光路分光成像，结构紧凑。
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公开(公告)号：CN105445363B
公开(公告)日：2018-10-19
申请号：CN201510828995.5
申请日：2015-11-24
申请人： 中国科学院大学
IPC分类号： G01N27/90
摘要： 本发明涉及一种监测连铸坯振痕的电磁力方法，所述方法包括：将永磁体与微小力传感器连接在一起，形成一个测量单元；将上述单元组合排列形成测量机构，并将该测量机构镶嵌到盘状体的侧缘形成盘状测量仪；将盘状测量仪置于待测连铸坯表面的侧方，并以一定速度旋转,待测连铸坯在下拉过程中依次经过盘状体附近的待测区域；待测连铸坯表面振痕的凸起或凹陷使永磁体受到的电磁力的反作用力F0′发生变化，使用测力传感器测量作用在永磁体上的反作用力F0′，从而得到待测连铸坯表面的振痕信息。本发明监测连铸坯振痕的电磁力方法，根据缺陷的信号分析，可以对振痕变化进行监控，不要求连铸坯导磁，因而适用的连铸坯金属材料的类型更为广泛。
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公开(公告)号：CN108507910A
公开(公告)日：2018-09-07
申请号：CN201810218637.6
申请日：2018-03-16
申请人： 中国科学院大学
摘要： 本发明公开了一种基于电敏感区法通过微流控芯片测量大气颗粒物的方法，发明名称为“一种检测大气颗粒物的微流体芯片装置”，将采集到的大气颗粒物放入电解质溶液中，由于大气颗粒物取代相同体积的电解液，造成孔内电阻的增加，利用恒电压电路实时测量颗粒物过孔的电流信号，得到的脉冲数量与幅值分别对应颗粒物的个数和大小。该电阻脉冲信号与颗粒物的尺寸之间存在着定量关系。本发明基于微流控芯片因此可实现便携、在线、实时、定量、连续测量；测量精度高，背景噪音小；微流道装置便携，成本低廉；配有无线发射装置，数据传输更加简便；可以得到颗粒的几何拓扑信息。
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公开(公告)号：CN106525668A
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：CN201610946192.4
申请日：2016-10-26
申请人： 中国科学院大学
摘要： 本发明涉及一种新的电磁微颗粒探测方法，所述方法包括：步骤1，将一微小的永磁体置于待测流体附近，所述微小的永磁体提供磁场渗透到所述流体中；步骤2，使所述微小的永磁体与所述待测流体之间产生相对流动或运动；步骤3，测量所述待测流体中微颗粒或异质物质引起的所述待测流体周围的感应磁场的变化；步骤4，通过所述感应磁场变化量确定所述微颗粒或异质物质的特征。本发明实施例提供的电磁微颗粒探测方法，所用测量仪机构简单；测量精确；测量效率高；能够实现原位、在线测量功能，不要求待测颗粒导磁，适用领域和范围更为广泛。
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公开(公告)号：CN105548347A
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201510921357.8
申请日：2015-12-12
申请人： 中国科学院大学
IPC分类号： G01N27/90
CPC分类号： G01N27/90
摘要： 本发明涉及一种基于电磁感应原理的导体中缺陷探测方法，其特征在于，所述方法包括：步骤1，将小永磁体置于待测导体附近，使磁场渗透到所述待测导体中；步骤2，使所述小磁体与待测导体之间产生相对运动；步骤3，测量由微颗粒或缺陷时引起的待测导体周围的感应磁场的变化；步骤4，通过所述感应磁场变化确定所述微颗粒或缺陷的特征。本发明基于电磁感应原理的导体中缺陷探测方法，电磁学原理清晰；测量仪机构简单；测量准确度高；测量效率高；并且不要求待测试样导磁，因而适用范围更为广泛。
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