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公开(公告)号：CN118671025A
公开(公告)日：2024-09-20
申请号：CN202410709693.5
申请日：2024-06-03
申请人： 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
IPC分类号： G01N21/3586 , G01N21/01
摘要： 本发明公开了一种太赫兹波束扫描成像系统及扫描成像方法，扫描成像系统包括：太赫兹源，被控制以发出不同频率的连续太赫兹波束；超表面芯片，位于太赫兹源的出射路径上，能在θ方向上将照射至其的不同频率的连续太赫兹波束以不同的方向角射出；移动组件，作用于超表面芯片，使超表面芯片旋转以在φ方向上将照射至其的不同频率的连续太赫兹波束以不同的方向角射出；探测器，接收被反射或散射回来的波束信号，以进行θ方向和φ方向上的二维成像。本发明的太赫兹波束扫描成像系统及扫描成像方法，其能够提高系统的扫描速度、提高成像分辨率、简化系统结构、提高整体性能，实现二维甚至三维扫描。
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公开(公告)号：CN118032123A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202310185159.4
申请日：2023-03-01
申请人： 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
摘要： 本发明公开了一种太赫兹波束光场矢量空间分布测试方法及测试系统，所述太赫兹波束光场矢量空间分布测试系统，包括分别作为本振信号和被测信号的第一微波源和第二微波源，所述第一微波源和第二微波源分别被一功分器等分成两路信号，其中一路信号通过混频器混频，混频后的差频信号依次经第一低噪声放大器、第一滤波器和锁相环之后馈入IQ混频器，另一路信号分别经过倍频器倍频后转化为具有太赫兹波段的射频输出，并在外差探测器上发生混频，混频后差频信号依次经第二低噪声放大器、第二滤波器后馈入所述IQ混频器。本发明的太赫兹波束光场矢量空间分布测试方法及测试系统能够原位的测量太赫兹波束波前矢量空间分布状态。
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公开(公告)号：CN118336374A
公开(公告)日：2024-07-12
申请号：CN202410543888.7
申请日：2024-04-30
申请人： 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
摘要： 本发明公开了一种基于肖特基势垒二极管的太赫兹空间光直接移相器及其应用。太赫兹空间光直接移相器包括：太赫兹偶极子天线、肖特基势垒二极管以及两条馈线，太赫兹偶极子天线所包含的两个天线分别与肖特基势垒二极管的阴极、阳极电连接，两条馈线分别与肖特基势垒二极管的阴极、阳极电连接，当经由馈线对肖特基势垒二极管施加偏压且使偏压连续变化时，肖特基势垒二极管的电容随偏压的变化而变化，太赫兹偶极子天线的谐振相位随电容的变化而变化。本发明实施例提供的一种基于肖特基势垒二极管(SBD)的太赫兹空间光直接移相器的基本原理是利用SBD的变容特性调控太赫兹天线的谐振相位，而电容是储能元件，即本发明从机理上降低了基本阵元的插损。
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公开(公告)号：CN118032704A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202310097549.6
申请日：2023-02-10
申请人： 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
IPC分类号： G01N21/3581 , G01N21/3563 , G01J1/04 , G01J1/08
摘要： 本发明公开了毫米波/太赫兹波参数测试装置、测试方法、参数处理方法以及处理设备，测试装置包括发射源组件以及探测器。所述发射源组件包括可连续调频的发射源，所述发射源用于发射毫米波或太赫兹波，所述发射源组件具有一出射面，所述发射源发射的毫米波或太赫兹波能自所述出射面射出；所述探测器以所述出射面所在处为圆心，相对所述发射源组件可旋转设置，所述探测器用于接收经所述出射面射出的毫米波或太赫兹波。本发明毫米波/太赫兹波参数测试装置、测试方法、参数处理方法以及处理设备，其能够实现毫米波/太赫兹波束多个参数的测试并获取波束的多个关键参数指标，对被测毫米波/太赫兹波束的快速、高效、标准化测试具有重要意义。
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公开(公告)号：CN219475390U
公开(公告)日：2023-08-04
申请号：CN202320181632.7
申请日：2023-02-10
申请人： 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
IPC分类号： G01N21/3581 , G01N21/3563 , G01J1/04 , G01J1/08
摘要： 本实用新型公开了毫米波或太赫兹波参数测试装置，测试装置包括发射源组件以及探测器。所述发射源组件包括可连续调频的发射源，所述发射源用于发射毫米波或太赫兹波，所述发射源组件具有一出射面，所述发射源发射的毫米波或太赫兹波能自所述出射面射出；所述探测器以所述出射面所在处为圆心，相对所述发射源组件可旋转设置，所述探测器用于接收经所述出射面射出的毫米波或太赫兹波。本实用新型毫米波或太赫兹波参数测试装置，其能够实现毫米波或太赫兹波束多个参数的测试并获取波束的多个关键参数指标，对被测毫米波或太赫兹波束的快速、高效、标准化测试具有重要意义。
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