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公开(公告)号：CN116381956A
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN202310096534.8
申请日：2023-02-10
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所 , 北京控制与电子技术研究所
Abstract: 本发明提供了一种用于光电自准直设备的高精度辅助对准装置及对准方法，用于解决现有激光粗瞄辅助的对准方法存在的瞄准精度低的技术问题。本发明提供的辅助对准装置包括斜方棱镜、角锥镜、激光器、第一分光棱镜及第二分光棱镜；其辅助对准方法为：实现待对准光电自准直设备对待瞄准目标的平移位置对准；将准直光分为第一反射光和第一透射光；第一反射光经角锥镜反射后返回，经斜方棱镜后形成基准像点；第一透射光经第一分光棱镜透射至待瞄准目标表面，经待瞄准目标表面反射后再通过第二分光棱镜反射，经斜方棱镜后形成测量像点。调整待对准光电自准直设备的方位角，直到测量像点与基准像点重合，完成对准。
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公开(公告)号：CN113902633A
公开(公告)日：2022-01-07
申请号：CN202111123006.4
申请日：2021-09-24
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及一种基于偏振信息的海面搜救目标强化方法，其目的是解决现有基于偏振信息的海面搜救目标中存在探测成像技术水平和目标强化水平有限，难以实时灵活应对复杂多变的海况与天气要求的技术问题。该方法首先通过实时快照式偏振成像设备同时在多个特定偏振角度上对搜索区域成像，通过成像设备上的机械电子稳像设备保证成像效果没有拖尾等由于相对移动带来的不利影响，之后对采集到的包含疑似目标的图像进行初始对比度评估分类，当评估为对比度低时，结合搜救当时的天气信息进行利用目标多模可见光偏振信息的图像强化。
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公开(公告)号：CN113660413A
公开(公告)日：2021-11-16
申请号：CN202110843899.3
申请日：2021-07-26
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及一种应用于飞行器的大口径大视场相机自动曝光方法，其目的是解决现有应用于飞行器的大口径大视场相机自动曝光方法存在存在难以获得最优曝光参数，导致曝光收敛慢或者曝光结果振荡，或者计算方法复杂，难以实现工程应用的问题。该方法包括以下步骤：1)接收图像并进行中心开窗；2)对开窗后的图像进行不同γ值变换，实现图像的位宽压缩和亮度调整；3)计算不同γ值下窗口内图像的双重能量梯度G(i,j)；4)求取最大双重能量梯度所对应的γ值；5)求取下一帧图像的曝光时间T'；6)计算下一帧图像曝光时间T'和当前图像曝光时间T差值的绝对值ΔT，将绝对值ΔT与预先设定的阈值ΔT0作比较，确定下一帧图像曝光时间；7)将下一帧图像曝光时间命令下发至相机。
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公开(公告)号：CN111076699A
公开(公告)日：2020-04-28
申请号：CN201911227663.6
申请日：2019-12-04
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01C1/00
Abstract: 本发明属于高精度角度测量领域，为了解决光学自准直测量法测量误差大，测量时需要将被测设备搬离至测量环境，以及对测量环境要求高的问题，提供用于光电检测设备的异面空间角度测量装置及测量方法。测量装置的标定自准直仪发出的准直光束通过分束镜后分两束，一束通过斜方棱镜后准直中继直角棱镜，另一束通过五棱分光镜后再分为两束。测量方法是分别通过斜方棱镜和两个直角屋脊棱镜，对中继直角棱镜和两个被测直角棱镜准直，得到中继直角棱镜和被测直角棱镜外法线与标定自准直仪光轴方位夹角，被测设备自身再准直中继直角棱镜，得到其光轴与中继直角棱镜外法线方位夹角，借助中继直角棱镜，完成被测设备光轴与被测直角棱镜外法线方位夹角的测量。
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公开(公告)号：CN110986830A
公开(公告)日：2020-04-10
申请号：CN201911064430.9
申请日：2019-11-04
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及一种双光谱三维姿态角测量装置及测量方法，解决现有三维姿态角测量系统复杂、体积大以及测量精度较低，不符合航天领域测量要求的问题。该装置包括双光谱光源、二维自准直仪、图像传感器电路板、五棱分光棱镜、折转棱镜和数据处理模块；双光谱光源发射红绿光谱光束，该光谱光束经二维自准直仪的同一狭缝出射后入射至五棱分光棱镜，五棱分光棱镜将双光谱光束分成两路，第一光路光束穿过五棱分光棱镜直接入射至被测立方镜前表面，第二光路光束通过折转棱镜折转入射至被测立方镜的侧表面，两路光束原路反射，二维自准直仪的图像传感器对返回的光束进行分时成像，图像传感器电路板对图像进行采集，并传输给数据处理模块。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107328477B
公开(公告)日：2019-01-11
申请号：CN201710325624.4
申请日：2017-05-10
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01J4/00
Abstract: 本发明属于精密测试计量技术领域，具体涉及一种扩束线偏振光光轴一致性、稳定性检测系统及方法。该检测系统包括检测装置、经纬仪和基准平面镜；经纬仪用于准直检测装置和基准平面镜；检测装置包括固定机构、旋转机构、检测机构和调平机构；检测机构通过旋转机构安装于固定机构上，固定机构通过调平机构安装于一个分度台上；检测机构包括检测直角棱镜和光电接收组件；检测直角棱镜用于引出被检测偏振光光轴方位，光电接收组件用于检测偏振光方位并将光信号转换为电信号。采用本发明提供的扩束线偏振光光轴一致性、稳定性检测系统及方法可以对经过扩束后线偏振光光轴的一致性和稳定性进行准确量度，提高了线偏振光技术的测量精度。
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公开(公告)号：CN105674883B
公开(公告)日：2018-03-02
申请号：CN201610173197.8
申请日：2016-03-24
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明涉及一种伽利略望远镜组与柱面镜组合式二维位置测量光学系统，以解决现有光学系统在二维测量时长度尺寸易受限制的问题。本发明包括光源合作目标、伽利略望远镜组、分光镜组、柱面镜组、线阵CCD组；测量时，将被测物体与在光源合作目标固连；光源合作目标在测量范围内的不同工作区域运动时所发出的光线经伽利略望远镜组、分光镜组和第一柱面镜组变换为正交于第一线阵CCD的线像，完成X向的测量；光源合作目标在测量范围内的不同工作区域运动时所发出的光线经伽利略望远镜组、分光镜组和第二柱面镜组变换为正交于第二线阵CCD的线像，完成Y向的测量。本发明所提供的光学系统接近无焦，有效缩短了系统长度，使用方便。
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公开(公告)号：CN107607061A
公开(公告)日：2018-01-19
申请号：CN201710800838.2
申请日：2017-09-07
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明提出了一种用于虚光轴和结构靠面的高精度角度测量系统及方法，能够实现对反光面和非反光面角度的高精度测量。该高精度角度测量系统包括标定装置、测角仪和转台；其中标定装置包括基准平面镜、靠面平面镜和标定座；所述基准平面镜、靠面平面镜通过各自的调节架分别安装于标定座的两个垂直邻接的第一立面、第二立面，标定座还具有与第一立面、第二立面均垂直邻接的第三面，该第三面中部设置有通光孔；在角度测量时所述第一立面作为标定座的底面平放于转台上，基准平面镜作为待测设备的安装底面，靠面平面镜用于引出待测设备结构靠面的法线方向，待测设备的输出光轴通过所述通光孔被测量。
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公开(公告)号：CN107328477A
公开(公告)日：2017-11-07
申请号：CN201710325624.4
申请日：2017-05-10
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01J4/00
CPC classification number: G01J4/00 , G01J2004/001
Abstract: 本发明属于精密测试计量技术领域，具体涉及一种扩束线偏振光光轴一致性、稳定性检测系统及方法。该检测系统包括检测装置、经纬仪和基准平面镜；经纬仪用于准直检测装置和基准平面镜；检测装置包括固定机构、旋转机构、检测机构和调平机构；检测机构通过旋转机构安装于固定机构上，固定机构通过调平机构安装于一个分度台上；检测机构包括检测直角棱镜和光电接收组件；检测直角棱镜用于引出被检测偏振光光轴方位，光电接收组件用于检测偏振光方位并将光信号转换为电信号。采用本发明提供的扩束线偏振光光轴一致性、稳定性检测系统及方法可以对经过扩束后线偏振光光轴的一致性和稳定性进行准确量度，提高了线偏振光技术的测量精度。
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公开(公告)号：CN102607472B
公开(公告)日：2014-03-12
申请号：CN201210056004.2
申请日：2012-03-06
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01B11/30
Abstract: 本发明提供一种大范围平面度的测量装置及其测量方法，从而方便、快速地对大范围平面度进行有效测量。该大范围平面度的测量装置包括高精度自准直仪、斜方棱镜组以及可转动连接装置。测量时，斜方棱镜的测量头部瞄准待测平面，通过高精度自准直仪测量待测平面的平面度，其中高精度自准直仪所发出的平行光路，经过两个斜方棱镜，在每个斜方棱镜的两次反射作用后，其出射光矢量和原入射光矢量相同，即每个斜方棱镜经过两次反射所折转的光路不影响出射光矢量，待测平面反射后的光路又经过斜方棱镜至高精度自准直仪，便可以实现对被测平面的平面度测量。
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