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公开(公告)号：CN106303173A
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：CN201610570188.2
申请日：2016-07-19
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所 , 西安交通大学
CPC分类号： H04N5/2253 , H04N5/14 , H04N5/232
摘要： 本发明提供一种高速低噪声大面阵CCD成像系统，包括相机头、CCD芯片和CCD控制器；还包括设置于相机头内部的电路PCB板，所述CCD芯片焊接在该电路PCB板上；所述电路PCB板与CCD控制器连接；由于CCD通过电路板直接与外部控制器连接，提高了信号的完整性设计，在提高CCD象元输出频率的同时又不会引入电路系统各种串扰噪声，能够实现高速低噪声的天文观测成像。
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公开(公告)号：CN106303173B
公开(公告)日：2021-10-15
申请号：CN201610570188.2
申请日：2016-07-19
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所 , 西安交通大学
摘要： 本发明提供一种高速低噪声大面阵CCD成像系统，包括相机头、CCD芯片和CCD控制器；还包括设置于相机头内部的电路PCB板，所述CCD芯片焊接在该电路PCB板上；所述电路PCB板与CCD控制器连接；由于CCD通过电路板直接与外部控制器连接，提高了信号的完整性设计，在提高CCD象元输出频率的同时又不会引入电路系统各种串扰噪声，能够实现高速低噪声的天文观测成像。
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公开(公告)号：CN107607061B
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN201710800838.2
申请日：2017-09-07
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC分类号： G01B11/26
摘要： 本发明提出了一种用于虚光轴和结构靠面的高精度角度测量方法，能够实现对反光面和非反光面角度的高精度测量。该高精度角度测量系统包括标定装置、测角仪和转台；其中标定装置包括基准平面镜、靠面平面镜和标定座；所述基准平面镜、靠面平面镜通过各自的调节架分别安装于标定座的两个垂直邻接的第一立面、第二立面，标定座还具有与第一立面、第二立面均垂直邻接的第三面，该第三面中部设置有通光孔；在角度测量时所述第一立面作为标定座的底面平放于转台上，基准平面镜作为待测设备的安装底面，靠面平面镜用于引出待测设备结构靠面的法线方向，待测设备的输出光轴通过所述通光孔被测量。
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公开(公告)号：CN107607061A
公开(公告)日：2018-01-19
申请号：CN201710800838.2
申请日：2017-09-07
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC分类号： G01B11/26
摘要： 本发明提出了一种用于虚光轴和结构靠面的高精度角度测量系统及方法，能够实现对反光面和非反光面角度的高精度测量。该高精度角度测量系统包括标定装置、测角仪和转台；其中标定装置包括基准平面镜、靠面平面镜和标定座；所述基准平面镜、靠面平面镜通过各自的调节架分别安装于标定座的两个垂直邻接的第一立面、第二立面，标定座还具有与第一立面、第二立面均垂直邻接的第三面，该第三面中部设置有通光孔；在角度测量时所述第一立面作为标定座的底面平放于转台上，基准平面镜作为待测设备的安装底面，靠面平面镜用于引出待测设备结构靠面的法线方向，待测设备的输出光轴通过所述通光孔被测量。
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公开(公告)号：CN205945932U
公开(公告)日：2017-02-08
申请号：CN201620762285.7
申请日：2016-07-19
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所 , 西安交通大学
摘要： 本实用新型提供一种高速低噪声大面阵CCD成像系统，包括相机头、CCD芯片和CCD控制器；还包括设置于相机头内部的电路PCB板，所述CCD芯片焊接在该电路PCB板上；所述电路PCB板与CCD控制器连接；由于CCD通过电路板直接与外部控制器连接，提高了信号的完整性设计，在提高CCD象元输出频率的同时又不会引入电路系统各种串扰噪声，能够实现高速低噪声的天文观测成像。
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公开(公告)号：CN207197460U
公开(公告)日：2018-04-06
申请号：CN201721142630.8
申请日：2017-09-07
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC分类号： G01B11/26
摘要： 本实用新型提出了一种用于虚光轴和结构靠面的高精度角度测量系统，能够实现对反光面和非反光面角度的高精度测量。该高精度角度测量系统包括标定装置、测角仪和转台；其中标定装置包括基准平面镜、靠面平面镜和标定座；所述基准平面镜、靠面平面镜通过各自的调节架分别安装于标定座的两个垂直邻接的第一立面、第二立面，标定座还具有与第一立面、第二立面均垂直邻接的第三面，该第三面中部设置有通光孔；在角度测量时所述第一立面作为标定座的底面平放于转台上，基准平面镜作为待测设备的安装底面，靠面平面镜用于引出待测设备结构靠面的法线方向，待测设备的输出光轴通过所述通光孔被测量。
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