一种奥氏体管内壁腐蚀层厚度的涡流检测方法

    公开(公告)号:CN112378329B

    公开(公告)日:2022-04-12

    申请号:CN202011131869.1

    申请日:2020-10-21

    IPC分类号: G01B7/06 G01N27/90

    摘要: 本发明的目的在于提供一种奥氏体管内壁腐蚀层厚度的涡流检测方法,具体为:首先利用高频涡流信号对奥氏体管壁进行测量,确定管道外壁氧化层厚度,再绘制出样管外壁氧化层厚度与高频涡流检测信号幅值的线性关系图;然后以高频测量结果为基础,利用低频涡流对样管进行测量,绘制不同氧化层厚度的情况下,腐蚀层厚度与涡流检测信号幅值的线性关系图;最后通过低频涡流条件下的测量值与标定曲线之间的函数关系,解出所测量管壁具体的腐蚀层厚度值。本发明利用高频、低频两种涡流信号进行奥氏体管检测,通过信号处理、计算即可得出内壁腐蚀层的厚度。该方法简单高效,适用范围更广。

    一种奥氏体管内壁腐蚀层厚度的涡流检测方法

    公开(公告)号:CN112378329A

    公开(公告)日:2021-02-19

    申请号:CN202011131869.1

    申请日:2020-10-21

    IPC分类号: G01B7/06 G01N27/90

    摘要: 本发明的目的在于提供一种奥氏体管内壁腐蚀层厚度的涡流检测方法,具体为:首先利用高频涡流信号对奥氏体管壁进行测量,确定管道外壁氧化层厚度,再绘制出样管外壁氧化层厚度与高频涡流检测信号幅值的线性关系图;然后以高频测量结果为基础,利用低频涡流对样管进行测量,绘制不同氧化层厚度的情况下,腐蚀层厚度与涡流检测信号幅值的线性关系图;最后通过低频涡流条件下的测量值与标定曲线之间的函数关系,解出所测量管壁具体的腐蚀层厚度值。本发明利用高频、低频两种涡流信号进行奥氏体管检测,通过信号处理、计算即可得出内壁腐蚀层的厚度。该方法简单高效,适用范围更广。