-
公开(公告)号：CN118583064A
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202411064956.8
申请日：2024-08-05
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要： 本发明涉及光电位移精密测量技术领域，具体提供一种可补偿读数头测量间距变化误差的位移测量方法及系统，首先通过线阵图像传感器采集的像素信息，进行译码和细分，获取直线位移测量数据，再根据像素灰度值计算点光源的光波至线阵图像传感器中心像素点的传输距离，依据该传输距离和三角形关系计算位移测量处线阵图像传感器至标尺光栅与点光源至标尺光栅的垂直距离和，将在距离和与零位移处的垂直距离和做差计算读数头的测量间距变化值，并依据其对直线位移测量数据进行误差补偿，消除位移测量过程中因读数头相对于标尺光栅的测量间距发生变化产生的位移误差。
-
公开(公告)号：CN115164951A
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202210996457.7
申请日：2022-08-19
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01D5/347
摘要： 本发明提供一种光电编码器莫尔条纹信号的细分方法，通过计算得到的校正系数对光电编码器的莫尔条纹信号进行校正，再采用新的细分值计算公式计算校正后的细分位置的细分值。本发明能够消除或者减小由于两路莫尔条纹信号的幅度不相等以及信号中心点不为0时所带来的细分误差，即消除或减小信号的零位误差和幅度误差，从整体上能够提高光电编码器的细分精度，进而提高光电编码器的测量精度，本发明不仅可以用在角位移测量装置上，如轴角光电编码器，也可以用在线位移测量装置上，如光栅尺，其工作原理相同。
-
公开(公告)号：CN109000689B
公开(公告)日：2021-05-04
申请号：CN201811115335.2
申请日：2018-09-25
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01D5/347
摘要： 本申请公开了一种绝对式光电轴角编码器的数据处理方法、系统，该方法包括：编码器的原始信号通过限流电阻将电流信号转换为电压信号；原始信号分为精码信号和粗码信号；精码信号和粗码信号直接进入具有AD转换器的CPU处理器中；通过CPU处理器分别测量精码信号和粗码信号的幅度值，计算得到编码器的精码细分值和粗码二进制角度，最终换算出编码器的角度值并输出。本申请提供的上述数据处理方法并未使用放大器、比较器和锁存器，也就是本申请提供的数据处理系统在传统数据处理系统的基础上去掉了放大器、比较器和锁存器，大大地减小了数据处理系统的电路尺寸，节约了成本。
-
公开(公告)号：CN108827190B
公开(公告)日：2020-07-24
申请号：CN201811020561.2
申请日：2018-09-03
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01B11/26
摘要： 本申请公开了一种基于双自准直仪的高精度测角误差检测装置及其检测方法，包括：被测光电编码器；多面棱体，位于被测光电编码器上方且与被测光电编码器同轴转动；第一自准直仪和第二自准直仪，分别对准多面棱体的对径面，用于同时测量出被测光电编码器的测角误差值；处理器，用于读取测角误差值，并通过预设误差计算算法对其进行处理，以获取被测光电编码器的高精度测角误差结果。该装置同时采集两个自准直仪对被测光电编码器的误差测量结果，根据预设误差计算算法完成对被测光电编码器的高精度误差检测，消除了由于多面棱体不水平导致的检测不准确，能够准确的实现对高精度光电编码器误差检测，检测方法简单，且极大地提高了检测精度。
-
公开(公告)号：CN106802597B
公开(公告)日：2019-03-22
申请号：CN201611233608.4
申请日：2016-12-28
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G05B19/042
摘要： 一种增量式光电轴角编码器数据处理装置及处理方法属于光电轴角编码器技术领域，该装置包括：放大器、比较器、异或门和单片机：编码器输出两路正交的正余弦波信号SIN和COS；COS分为两路，一路直接进入单片机进行模数转换，另一路通过放大器放大和比较器比较转换成方波信号，进入单片机作为计数信号；SIN分为两路，一路直接进入单片机进行模数转换，另一路通过放大器放大和比较器比较转换成方波信号，与单片机产生的控制信号一起通过门电路进行异或后进入单片机实现中断功能。电路设计简单、可靠，所用元器件较少；既可以进行脉冲计数，也可以对增量式编码器精码信号进行细分，提高编码器的分辨力；可以作为增量式编码器的通用数据处理系统。
-
公开(公告)号：CN109000689A
公开(公告)日：2018-12-14
申请号：CN201811115335.2
申请日：2018-09-25
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01D5/347
摘要： 本申请公开了一种绝对式光电轴角编码器的数据处理方法、系统，该方法包括：编码器的原始信号通过限流电阻将电流信号转换为电压信号；原始信号分为精码信号和粗码信号；精码信号和粗码信号直接进入具有AD转换器的CPU处理器中；通过CPU处理器分别测量精码信号和粗码信号的幅度值，计算得到编码器的精码细分值和粗码二进制角度，最终换算出编码器的角度值并输出。本申请提供的上述数据处理方法并未使用放大器、比较器和锁存器，也就是本申请提供的数据处理系统在传统数据处理系统的基础上去掉了放大器、比较器和锁存器，大大地减小了数据处理系统的电路尺寸，节约了成本。
-
公开(公告)号：CN105424073A
公开(公告)日：2016-03-23
申请号：CN201511017711.0
申请日：2015-12-29
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01D18/00
CPC分类号： G01D18/00
摘要： 本申请公开了一种增量式光电编码器精度检测系统，包括固定支架、直流电机、基准编码器、数据采集及控制电路、电机驱动电路和具有显示设备的计算机，直流电机带动基准编码器和被检增量式光电编码器同步转动。检测系统通过数据采集及控制电路采集基准编码器在被检增量式光电编码器输出的两个方波信号的各转换沿位置的角度数据，并将该角度数据按照预设要求计算得到被检增量式光电编码器正交性和均匀性，实现对被检增量式光电编码器的精度检测。本发明采用基准编码器作为角度基准得到角度数据，实现对被检增量式光电编码器的角位置误差的直接检测，避免了因电机转速不均匀或转速变化大而带来的检测误差。
-
公开(公告)号：CN118583064B
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202411064956.8
申请日：2024-08-05
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要： 本发明涉及光电位移精密测量技术领域，具体提供一种可补偿读数头测量间距变化误差的位移测量方法及系统，首先通过线阵图像传感器采集的像素信息，进行译码和细分，获取直线位移测量数据，再根据像素灰度值计算点光源的光波至线阵图像传感器中心像素点的传输距离，依据该传输距离和三角形关系计算位移测量处线阵图像传感器至标尺光栅与点光源至标尺光栅的垂直距离和，将在距离和与零位移处的垂直距离和做差计算读数头的测量间距变化值，并依据其对直线位移测量数据进行误差补偿，消除位移测量过程中因读数头相对于标尺光栅的测量间距发生变化产生的位移误差。
-
公开(公告)号：CN114279366B
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN202111553603.0
申请日：2021-12-17
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要： 本发明提供了一种光电编码器的粗码精码的校正方法和装置，先将光电编码器通电，旋转光电编码器，记录下每一路粗码与精码之间的偏差值，最后求出偏差值的最大值和最小值。根据偏差的最大值和最小值确定精码偏差校正值。在断校正测试完成后即进入正常工作模式，在正常工作模式时，每次在进行精码粗码校正时，都以修正后的精码角度值作为基准值对粗码进行校正，编码器最终输出的角位移值为校正后的粗码值与修正后的精码值连接后的值。这样能保证修正后，粗码对精码的偏差值是正负均匀分布的，在进行精码粗码校正时超校正的概率降低，增加了编码器的可靠性。
-
公开(公告)号：CN113029001B
公开(公告)日：2022-02-11
申请号：CN202110289414.0
申请日：2021-03-18
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
发明人： 于海
IPC分类号： G01B11/02
摘要： 本发明属于光电位移精密测量技术领域，公开了一种可消除余弦误差的高精度直线位移测量装置，包括：读数头、标尺光栅、输出电缆。其中，读数头包含：横向传感器、纵向传感器、平行光源、处理电路；标尺光栅包括：横向码道、纵向识别标线。平行光源发出的光，照射到标尺光栅，将标尺光栅上的图案映射到读数头上的图像传感器上。横向传感器通过识别横向编码，得到横向的直线位移；纵向传感器通过识别纵向标线的位移变化量，得到纵向位移；处理电路，将横向位移和纵向位移合成，得到读数头移动的真实位移。通过采用二维位移量合成的方法，有效的消除由于测量轴和光栅轴不同轴而引起的余弦误差，实现高精度的直线位移测量。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
搜索结果
54 条记录 (耗时 0.053 秒)
