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公开(公告)号：CN118362545A
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202410604665.7
申请日：2024-05-15
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01N21/64
摘要： 本发明涉及原子荧光探测技术领域，尤其涉及一种基于单光子的AFS激发光束调节系统及其调节方法，系统包括进样模块、原子化模块、光源激发模块、电动位移平台和光谱成像模块，进样模块用于将样品送入原子化模块，原子化模块用于对样品进行原子化，光源激发模块用于对样品进行激发产生目标元素的原子荧光谱线，电动位移平台用于对光源激发模块中光源的位姿进行调节，光谱成像模块用于对目标元素的原子荧光谱线进行光谱成像，并对成像数据进行分析，将光源调至最佳激发位置。本发明将原子荧光谱线与火焰激发区域成像相结合，可以有效将将激发位置调整到最佳状态，不再依靠人眼观察和经验判断，提高检测结果的准确性。
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公开(公告)号：CN117026205A
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN202311044252.X
申请日：2023-08-18
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要： 本发明涉及一种降低光学表面中频粗糙度的方法，涉及光学表面技术领域。本发明的降低光学表面中频粗糙度的方法，通过在光学表面上沉积多层二维材料，降低所述光学表面的中频粗糙度。本发明的降低光学表面中频粗糙度的方法，在基底上沉积多层二维材料，利用二维材料固有的波纹度对基底表面的中频粗糙度进行补偿消除，可降低中频粗糙度，该方法具有简单易行的优点，能够降低成本，提高效率。
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公开(公告)号：CN115979160A
公开(公告)日：2023-04-18
申请号：CN202111205304.8
申请日：2021-10-15
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要： 本发明涉及光机电一体化仪器领域，特别涉及一种大视场和高灵敏度的太阳边缘检测方法及系统；在本发明内，由太阳望远镜将太阳光成像在探测器上，再由处于探测器内的集成处理芯片进行信号放大处理，再经过信号处理单元处理，得到太阳边缘信息，探测器采用光电二极管阵列；本发明采用光电二级管阵列做探测器，采用多路集成处理芯片，解决分立二级管太阳边缘位置检测仪器体积大、质量重的问题；解决了CCD或者CMOS焦面角分辨率低、位置信号采集频率低的问题，适合在空间恶劣环境工作，为太阳监测载荷提供快速、准确的太阳边缘位置信息；本发明实现了对太阳的大范围和高精度边缘定位。
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公开(公告)号：CN111062976B
公开(公告)日：2023-02-28
申请号：CN201911355081.6
申请日：2019-12-25
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G06T7/30
摘要： 基于FMT的低轨卫星太阳望远镜遥感图像配准方法，属于空间遥感探测领域，包括：获取N幅太阳观测图像形成图像矩阵和时间矩阵；计算卫星平台指向误差ESN、平台稳定度EPN和自旋误差RN；用傅里叶‑梅林算法处理图像矩阵生成x方向平移矩阵XN、y方向平移矩阵YN和z方向旋转矩阵θN；计算由ESN、EPN和RN造成的图像x方向平移矩阵X’N、y方向平移矩阵Y’N和z方向旋转矩阵θ’N；计算XN与X’N、YN与Y’N、θN与θ’N的相关系数，用最小二乘法计算x方向平移矩阵最优解Xf、y方向平移矩阵最优解Yf和z方向旋转矩阵最优解θf；图像矫正，得到精确的太阳观测图像，能真实准确反映太阳实时动态情况。
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公开(公告)号：CN113543615B
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN202110727958.0
申请日：2021-06-29
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要： 本发明提供一种空间电子设备辐照防护方法，其中的方法包括：S1、在每个印刷电路板的顶面与底面分别焊接敏感电子元器件；其中，将敏感电子元器件集中排布，且抗总剂量辐照能力弱的放在中间，各印刷电路板上的敏感电子元器件在竖向空间上重叠；S2、在顶层印刷电路板的顶面和底层印刷电路板的底面分别罩设局部防护箱体，在相邻的两个印刷电路板之间固定竖向防护结构，以对每个印刷电路板上的敏感电子元器件进行辐照防护；S3、在各印刷电路板的外部整体罩设电子学箱体，以对每个印刷电路板上的敏感电子元器件和普通电子元器件进行防护。本发明能够在减轻防护装置重量的前提下，满足电子设备的辐照防护要求，并且安装简单，可靠性高。
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公开(公告)号：CN114659633A
公开(公告)日：2022-06-24
申请号：CN202210283641.7
申请日：2022-03-22
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要： 本发明涉及对日观测领域，具体涉及一种实现太阳捕获、精密跟踪和精密稳像的方法。该方法针对对地球三轴稳定的极轨卫星平台，利用卫星平台在轨道上任意位置的太阳矢量数据，再根据太阳成像仪的位置坐标，计算得到太阳成像仪光轴相对太阳的偏差，调整太阳成像仪自带的对日指向跟踪机构，实现太阳成像仪对太阳捕获、精密跟踪和精密稳像。
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公开(公告)号：CN113784062B
公开(公告)日：2022-04-26
申请号：CN202110982294.2
申请日：2021-08-25
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要： 一种非连续成像CMOS图像传感器稳定图像控制系统及方法，属于CMOS图像传感器技术领域。解决了现有背照式卷帘门CMOS图像传感器在非连续成像时，拍摄图像的数据波动的问题。本发明的控制系统，包括背照式卷帘门CMOS图像传感器和成像控制器；成像控制器先发送时钟信号给图像传感器，作为图像传感器内部运行控制的基准时钟；然后成像控制器发送像素控制信号和Sync信号给图像传感器，使图像传感器在首次拍摄和两次冗余行的复位和读取时产生图像数据，但成像传感器不读取图像数据，在根据曝光时序逐行开始曝光和读出时，也产生图像数据，但成像控制器读取图像数据。该系统提高了图像质量，使首次拍摄的图像也能够真实反映光照情况。
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公开(公告)号：CN111641773B
公开(公告)日：2021-11-16
申请号：CN201910156126.0
申请日：2019-03-01
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： H04N5/232
摘要： 本发明公开了一种快速反射镜的稳像控制系统及控制方法，其中，控制系统中成像组件接收光信号并生成待测图像；光电探测器接收待测图像并将待测图像转换为电信号；位置信息处理器接收电信号，并计算电信号图像偏移量；控制器接收图像偏移量，根据图像偏移量计算快速反射镜所需目标角度位置，并获取每一个快速反射镜当前位置，根据快速反射镜当前位置和目标角度位置分别计算得到快速反射镜所需驱动量，驱动器件根据当前快速反射镜所需驱动量驱动当前快速反射镜进行摆角运动。本发明通过独立的成像组件、光电探测器、位置信息处理器和控制器组成的抖动检测模块，在多个成像望远镜同时存在时，可共同使用一个抖动检测模块，从而降低了实现难度和成本。
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公开(公告)号：CN111060290B
公开(公告)日：2021-11-02
申请号：CN201911381361.4
申请日：2019-12-27
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要： 一种激光扫描式高灵敏度日冕仪杂光检测装置涉及天文目标观测和检测领域，该装置包括：单束激光扫描装置、多维调整台、带通滤光片和单光子计数探测器；单束激光扫描装置、待测日冕仪、带通滤光片和单光子计数探测器依次排列并同光轴设置，单光子计数探测器设置在待测日冕仪的焦面上；单束激光扫描装置安装在多维调整台上。本发明具有更高的检测灵敏度和更低的噪声，检测灵敏度和暗噪声可达0.5counts.s‑1.cm‑2。具有更好的工作稳定性和光束准直度，通过更换激光器实现不同波段的杂光检测。通过同一束激光分别扫描测量日冕仪杂光辐射和太阳日面辐射，积分获取待测日冕仪的杂光抑制能力，避免使用造价昂贵的高亮度32′视场太阳模拟器进行杂光检测的难题。
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公开(公告)号：CN113405773A
公开(公告)日：2021-09-17
申请号：CN202110612414.X
申请日：2021-06-02
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01M11/00
摘要： 本申请提供的空间光学载荷出气试验装置及方法，对试验罐及罐内辅助设备进行出气，将空间光学载荷放入试验罐，罐内真空度达到P1后，将光学试片升温至T2，污染敏感设备升温至T3，持续时间满足要求R2时，光学试片降温至T4，试片收集时长达到要求R3时，准备结束试验，恢复试验罐环境至常温常压，根据参加试验的光学试片的性能测试结果，判断出气结果是否满足要求R5，本申请提供的空间光学载荷出气试验装置及方法，给出了出气过程中的压强、真空度、温度和试验效果判断标准，可用于空间光学载荷及其他航空航天产品的出气，减少污染物对设备的影响。
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