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公开(公告)号：CN101726702B
公开(公告)日：2012-07-11
申请号：CN200910259310.4
申请日：2009-12-17
IPC分类号： G01R31/302
摘要： 本发明涉及一种脉宽调制器单粒子效应的测试方法，属于空间辐射效应及加固技术领域。在试验中首先监测单粒子翻转时引起的输出脉冲的丢失现象；然后以PWM输出高电平作为闸门控制信号对50MHz的脉冲信号进行计数，可以计算出高电平在测量周期中的时间，最后由MCU计算出PWM输出的占空比；对上传上位机进行监测；将输出信号幅值与PWM的输出脉冲信号的幅值进行比对，将监测结果上传上位机；PWM的输出频率与时钟频率不是2倍的关系，计数器记录，送入MCU进行监测并上传上位机；并在某个标准时间间隔Ts内，对脉冲进行计数，测出与门输出信号重复出现的次数。本发明应用于实验室对空间用PWM单粒子效应性能评估试验中。
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公开(公告)号：CN101726702A
公开(公告)日：2010-06-09
申请号：CN200910259310.4
申请日：2009-12-17
IPC分类号： G01R31/302
摘要： 本发明涉及一种脉宽调制器单粒子效应的测试方法，属于空间辐射效应及加固技术领域。在试验中首先监测单粒子翻转时引起的输出脉冲的丢失现象；然后以PWM输出高电平作为闸门控制信号对50MHz的脉冲信号进行计数，可以计算出高电平在测量周期中的时间，最后由MCU计算出PWM输出的占空比；对上传上位机进行监测；将输出信号幅值与PWM的输出脉冲信号的幅值进行比对，将监测结果上传上位机；PWM的输出频率与时钟频率不是2倍的关系，计数器记录，送入MCU进行监测并上传上位机；并在某个标准时间间隔Ts内，对脉冲进行计数，测出与门输出信号重复出现的次数。本发明应用于实验室对空间用PWM单粒子效应性能评估试验中。
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公开(公告)号：CN101726254B
公开(公告)日：2011-01-12
申请号：CN200910259317.6
申请日：2009-12-17
IPC分类号： G01B11/06
摘要： 本发明涉及一种用于确定器件单粒子敏感体积厚度的方法，属于空间辐射效应及加固技术领域。计算激光在敏感体积中沉积的能量，当激光沉积在器件敏感体积单元中的电荷数，达到或超过器件临界电荷便发生单粒子效应，对于不同脉冲激光波长下的单粒子效应临界电荷相同，激光模拟系统的激光诱发得到单粒子效应能量阈值数据，得到器件单粒子效应敏感体积(Sv)厚度。本发明的方法对器件和实验人员无辐射损伤、操作非常便捷、费用廉价，能精确地测量器件敏感体积厚度大小。
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公开(公告)号：CN102175486A
公开(公告)日：2011-09-07
申请号：CN201010624379.5
申请日：2010-12-31
IPC分类号： G01N1/10
摘要： 本发明公开了一种微小尘埃颗粒采集方法与结构，本方法提供航天器轨道环境中微小尘埃颗粒采集方法与结构方法，该方法可在模拟航天器轨道环境条件下，定量测量微小尘埃颗粒荷质比，提高了我国质量原位监测灵敏度，可达到1.10×10-9～4.42×10-9g/cm2，尘埃颗粒荷质比测试仪结构设计简单，主要有圆形栅板、中空圆柱电容器、QCM三部分组成，大大增加了试验测试过程中测量数据的准确性，降低了航天器轨道载荷使用风险，方法里中空柱状电容器的使用，减小了仪器设计尺寸，结合信号采集电路和组装盒，良好的测量了微小尘埃粒子的荷质比，试验过程稳定可靠，石英晶体微量天平的使用，良好的测量了通过粒子的质量变化，试验过程稳定可靠，复现性好。具有原位监测航天器轨道环境粒子荷质比的特色，且适应于规模化试验、生产、研究等。
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公开(公告)号：CN102169022A
公开(公告)日：2011-08-31
申请号：CN201010624396.9
申请日：2010-12-31
IPC分类号： G01J11/00 , G01R31/00 , G01R31/311
摘要： 本发明提出了一种脉冲激光单粒子翻转截面的实验方法，用一定数值的脉冲激光能量E，对器件内部进行扫描辐照，根据监测的器件发生单粒子翻转次数、辐照次数(扫描布点数)，便可得出该能量E下的激光单粒子翻转截面数值，通过改变不同能量脉冲激光进行扫描辐照，便可得到激光单粒子翻转截面σ～E曲线。为进一步实现对被试器件抗单粒子翻转能力的预估提供了技术支撑，使今后地面脉冲激光模拟单粒子效应研究工作更加方便、实用。
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公开(公告)号：CN101846725A
公开(公告)日：2010-09-29
申请号：CN200910259303.4
申请日：2009-12-17
IPC分类号： G01R31/302
CPC分类号： G01R31/2881 , G01R31/303 , G01R31/31816
摘要： 本发明的一种脉宽调制器单粒子效应实验方法，属于空间辐射效应及加固技术领域。对试验样品进行编号，然后插在板上，被测电路板与移动支架的移动一致；对测试系统进行加电测试，开启辐射源，在辐照过程中，监测系统实时监测被测样品发生的单粒子效应，束流监测系统实时监测入射粒子的注量率，记录单粒子事件数、样品的电参数以及辐照时间。本发明可以实现对PWM器件抗SEE性能评估试验，获取PWM器件单粒子LET阈值或能量阈值及σ～LET或E曲线。
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公开(公告)号：CN101726254A
公开(公告)日：2010-06-09
申请号：CN200910259317.6
申请日：2009-12-17
IPC分类号： G01B11/06
摘要： 本发明涉及一种用于确定器件单粒子敏感体积厚度的方法，属于空间辐射效应及加固技术领域。计算激光在敏感体积中沉积的能量，当激光沉积在器件敏感体积单元中的电荷数，达到或超过器件临界电荷便发生单粒子效应，对于不同脉冲激光波长下的单粒子效应临界电荷相同，激光模拟系统的激光诱发得到单粒子效应能量阈值数据，得到器件单粒子效应敏感体积(Sv)厚度。本发明的方法对器件和实验人员无辐射损伤、操作非常便捷、费用廉价，能精确地测量器件敏感体积厚度大小。
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