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公开(公告)号：CN101111775A
公开(公告)日：2008-01-23
申请号：CN200680003910.9
申请日：2006-01-27
申请人： 英特尔公司
IPC分类号： G01R31/3185
CPC分类号： G01R31/318566 , G01R31/31816 , G01R31/318541 , G01R31/318572 , G11C2029/3202
摘要： 在一个实施例中，提供了一种带有系统电路、扫描输出电路和差错检测电路的设备。所述系统电路适于响应于数据输入信号和系统时钟信号生成第一输出信号。所述扫描输出电路适于响应于所述数据输入信号和所述系统时钟信号生成第二输出信号。所述差错检测电路连接至所述系统电路和所述扫描输出电路，其适于响应于所述第一输出信号和所述第二输出信号之间的相对条件生成差错信号。
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公开(公告)号：CN101620254B
公开(公告)日：2011-12-07
申请号：CN200810040292.6
申请日：2008-07-03
申请人： 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
IPC分类号： G01R31/311
CPC分类号： G01R31/002 , G01R31/2849 , G01R31/2881 , G01R31/31816
摘要： 本发明提供了供用户对半导体样本进行加速软错误测试(ASER)的装置。该装置包括用于支持辐射源的第一部件，其中辐射源可以是α粒子源或中子粒子源。该装置包括用于支持半导体样本的第二部件，其中半导体样本可以是硅晶片或半导体芯片或成品元件。该装置包括连接组件，用于将第一部件和第二部件彼此相对地放置在多个位置，以多种应力效率使半导体样本经受来自辐射源的辐射应力。优点是改善了ASER测试的可重复性和可信性，减弱了对进行ASER测试的操作员的辐射。
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公开(公告)号：CN101846725A
公开(公告)日：2010-09-29
申请号：CN200910259303.4
申请日：2009-12-17
IPC分类号： G01R31/302
CPC分类号： G01R31/2881 , G01R31/303 , G01R31/31816
摘要： 本发明的一种脉宽调制器单粒子效应实验方法，属于空间辐射效应及加固技术领域。对试验样品进行编号，然后插在板上，被测电路板与移动支架的移动一致；对测试系统进行加电测试，开启辐射源，在辐照过程中，监测系统实时监测被测样品发生的单粒子效应，束流监测系统实时监测入射粒子的注量率，记录单粒子事件数、样品的电参数以及辐照时间。本发明可以实现对PWM器件抗SEE性能评估试验，获取PWM器件单粒子LET阈值或能量阈值及σ～LET或E曲线。
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公开(公告)号：CN103941173B
公开(公告)日：2017-04-12
申请号：CN201310511487.5
申请日：2013-10-25
申请人： 格罗方德半导体公司
IPC分类号： G01N23/00
CPC分类号： G01R31/002 , G01R31/2881 , G01R31/31816 , G11C11/4125 , G11C29/50 , G11C29/50016 , G11C2029/5002
摘要： 本发明涉及用于测量半导体装置中阿尔法粒子所诱发软错误的方法及装置，该装置包括探针卡、阿尔法粒子源以及挡板。探针卡包括多个接触组件，而接触组件界定测量位置；阿尔法粒子源；以及挡板，配置在该阿尔法粒子源与该测量位置之间，而该挡板可在该开启位置与该关闭位置之间移动，其中，当该挡板处于该开启位置时，来自该阿尔粒子源的阿尔法粒子到达该测量位置，且当该挡板处于该关闭位置时，该阿尔粒子遭到阻挡而未到达该测量位置。
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公开(公告)号：CN102959416B
公开(公告)日：2016-02-03
申请号：CN201180033072.0
申请日：2011-06-30
申请人： 欧洲航空防务与空间公司-EADS法国
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/00 , G01R31/311
CPC分类号： G01R31/002 , G01B1/00 , G01R31/2848 , G01R31/2849 , G01R31/2881 , G01R31/311 , G01R31/31816 , H01L21/00 , H01L2221/00
摘要： 本发明的目标在于表征电子元件对天然辐射事件的敏感度的表征方法，其中：使电子元件投入使用；对于给定的粒子或入射束的特征，如能量和/或入射角和/或路径，确定SOA电压范围，超过该电压范围将发生所述元件的损毁事件；在接近所确定的SOA电压范围的最大电压值的工作条件中，用粒子或入射束的特征激励投入使用的电子元件；确定被放大的瞬时事件的有效截面，该有效截面对应所述元件的损毁现象的估值；修正所述粒子或所述入射束的特征，和重复对所述元件的激励；对于特征的每次修正，确定有效截面。
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公开(公告)号：CN103941173A
公开(公告)日：2014-07-23
申请号：CN201310511487.5
申请日：2013-10-25
申请人： 格罗方德半导体公司
IPC分类号： G01R31/26
CPC分类号： G01R31/002 , G01R31/2881 , G01R31/31816 , G11C11/4125 , G11C29/50 , G11C29/50016 , G11C2029/5002
摘要： 本发明涉及用于测量半导体装置中阿尔法粒子所诱发软错误的方法及装置，该装置包括探针卡、阿尔法粒子源以及挡板。探针卡包括多个接触组件，而接触组件界定测量位置；阿尔法粒子源；以及挡板，配置在该阿尔法粒子源与该测量位置之间，而该挡板可在该开启位置与该关闭位置之间移动，其中，当该挡板处于该开启位置时，来自该阿尔粒子源的阿尔法粒子到达该测量位置，且当该挡板处于该关闭位置时，该阿尔粒子遭到阻挡而未到达该测量位置。
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公开(公告)号：CN101490575B
公开(公告)日：2013-05-22
申请号：CN200780027325.7
申请日：2007-09-24
申请人： 思科技术公司
发明人： 荪·寿·钟
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/318536 , G01R31/002 , G01R31/31816 , G01R31/318544
摘要： 一种方法，包括：将初始数据样式输入到集成电路器件的扫描链电路中；在利用时钟信号驱动扫描链电路的同时向集成电路器件施加粒子束以生成输出数据样式；以及基于输出数据样式和初始数据样式之间的比较来生成单粒子翻转差错率测试结果。
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公开(公告)号：CN102959416A
公开(公告)日：2013-03-06
申请号：CN201180033072.0
申请日：2011-06-30
申请人： 欧洲航空防务与空间公司-EADS法国
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/00 , G01R31/311
CPC分类号： G01R31/002 , G01B1/00 , G01R31/2848 , G01R31/2849 , G01R31/2881 , G01R31/311 , G01R31/31816 , H01L21/00 , H01L2221/00
摘要： 本发明的目标在于表征电子元件对天然辐射事件的敏感度的表征方法，其中：使电子元件投入使用；对于给定的粒子或入射束的特征，如能量和/或入射角和/或路径，确定SOA电压范围，超过该电压范围将发生所述元件的损毁事件；在接近所确定的SOA电压范围的最大电压值的工作条件中，用粒子或入射束的特征激励投入使用的电子元件；确定被放大的瞬时事件的有效截面，该有效截面对应所述元件的损毁现象的估值；修正所述粒子或所述入射束的特征，和重复对所述元件的激励；对于特征的每次修正，确定有效截面。
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公开(公告)号：CN102841834A
公开(公告)日：2012-12-26
申请号：CN201210093322.6
申请日：2012-03-31
申请人： 索尼公司
发明人： 平入孝二
IPC分类号： G06F11/22
CPC分类号： G06F11/1008 , G01R31/3171 , G01R31/31816 , G06F1/324 , G06F1/3296 , G06F11/076 , H03M13/09 , H04L1/203 , Y02D10/126 , Y02D10/172
摘要： 一种信息处理装置包括第一奇偶校验产生部分，用于产生用于检测数据的错误的第一错误检测代码。第二奇偶校验产生部分根据第一错误检测代码产生用于检测数据的错误的第二错误检测代码。第一奇偶校验检查部分使用保留的第一错误检测代码检测保留的数据的错误作为第一错误。第二奇偶校验检查部分使用保留的第二错误检测代码检测保留的数据的错误作为第二错误。控制量输出部分，当第一错误的发生率等于或低于第一阈值时使用作为关于第二错误的发生率的目标值的第二阈值输出一控制量，以控制电源电压或频率。
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公开(公告)号：CN101111775B
公开(公告)日：2011-07-06
申请号：CN200680003910.9
申请日：2006-01-27
申请人： 英特尔公司
IPC分类号： G01R31/3185
CPC分类号： G01R31/318566 , G01R31/31816 , G01R31/318541 , G01R31/318572 , G11C2029/3202
摘要： 在一个实施例中，提供了一种带有系统电路、扫描输出电路和差错检测电路的设备。所述系统电路适于响应于数据输入信号和系统时钟信号生成第一输出信号。所述扫描输出电路适于响应于所述数据输入信号和所述系统时钟信号生成第二输出信号。所述差错检测电路连接至所述系统电路和所述扫描输出电路，其适于响应于所述第一输出信号和所述第二输出信号之间的相对条件生成差错信号。
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