一种用于SERF陀螺仪的双穿式检测系统及检测方法

    公开(公告)号:CN114543783A

    公开(公告)日:2022-05-27

    申请号:CN202210065967.2

    申请日:2022-01-20

    Abstract: 本发明涉及一种用于SERF陀螺仪的双穿式检测系统,激光器输出的激光通过光隔离器后经起偏器进行起偏,起偏后的探测光束经过激光分束器分束成第一反射光及第一透射光,第一反射光进入功率稳定部件,第一透射光经过原子气室与工作原子作用后经原子气室后端0°反射镜反射再次穿过原子气室到达激光分束器分束成第二透射光、第二反射光,第二透射光经过起偏器后被光隔离器隔离,第二反射光依次经过λ/4波片、光弹调制器和检偏器后进入光电探测器,光电探测器对信号进行光电转换后的输入信号进入锁相放大器进行解调。本发明的用于SERF陀螺仪的双穿式检测系统,使第一透射光双次穿过原子气室进行作用,增大信号幅值,提高检测灵敏度,同时也便于光路的小型化。

    一种用于SERF陀螺仪的双穿式检测系统及检测方法

    公开(公告)号:CN114543783B

    公开(公告)日:2024-02-23

    申请号:CN202210065967.2

    申请日:2022-01-20

    Abstract: 本发明涉及一种用于SERF陀螺仪的双穿式检测系统,激光器输出的激光通过光隔离器后经起偏器进行起偏,起偏后的探测光束经过激光分束器分束成第一反射光及第一透射光,第一反射光进入功率稳定部件,第一透射光经过原子气室与工作原子作用后经原子气室后端0°反射镜反射再次穿过原子气室到达激光分束器分束成第二透射光、第二反射光,第二透射光经过起偏器后被光隔离器隔离,第二反射光依次经过λ/4波片、光弹调制器和检偏器后进入光电探测器,光电探测器对信号进行光电转换后的输入信号进入锁相放大器进行解调。本发明的用于SERF陀螺仪的双穿式检测系统,使第一透射光双次穿过原子气室进行作用,增大信号幅值,提高检测灵敏度,同时也便于光路的小型化。

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