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公开(公告)号：CN102279065B
公开(公告)日：2012-12-05
申请号：CN201110050881.4
申请日：2011-03-03
申请人： 中国计量科学研究院
IPC分类号： G01K15/00
摘要： 本发明提出了一种镓熔点复现装置，其包括一镓点容器，在该镓点容器中具有高纯度的金属镓；一均温块，其位于所述镓点容器的外侧，该均温块形成收纳空间用于设置所述镓点容器；在所述均温块的侧壁上设置多个半导体制冷片组，通过所述的多个半导体制冷片组对所述镓熔点复现装置的温度进行控制。本发明的镓熔点炉采用新的结构形式、半导体制冷以及自动控温装置，简化了固定点装置的结构，提高了制冷效果和控温精度，使得复现装置能够应用到更多的场合，实现量值的方便、快捷的高精度传递。
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公开(公告)号：CN101929968A
公开(公告)日：2010-12-29
申请号：CN200910209585.7
申请日：2009-10-30
摘要： 本发明提供一种热扩散率测量装置，该装置包括激发光源，其产生激发光束；光学控制装置，其具有光学部件组、光束质量分析仪和能量计，该光学控制装置通过光学部件组中的可更换的光学元件对激发光束的能量进行调整；真空加热炉，在其内部设置有加热元件对样品进行加热；控温装置，对真空加热炉的加热温度进行控制；测温装置，通过探测器将测得的样品温升信号经前置放大器放大后传送到数据采集处理装置；数据采集处理装置，其包括数据采集系统和数据处理系统，数据采集系统将所采集到的所有数据信号传递到数据处理系统，数据处理系统对数据信号进行分析和多项理论修正处理。通过本发明所设计的激光热扩散率测量装置，材料热扩散率的测量重复性达到1％以内，降低了测量不确定度，提高了热扩散率测量的水平，为我国热扩散率标准装置的建立，热扩散率标准物质的制备及热扩散率标准数据库的建立奠定基础。
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公开(公告)号：CN102279065A
公开(公告)日：2011-12-14
申请号：CN201110050881.4
申请日：2011-03-03
申请人： 中国计量科学研究院
IPC分类号： G01K15/00
摘要： 本发明提出了一种镓熔点复现装置，其包括一镓点容器，在该镓点容器中具有高纯度的金属镓；一均温块，其位于所述镓点容器的外侧，该均温块形成收纳空间用于设置所述镓点容器；在所述均温块的的侧壁上设置多个半导体制冷片组，通过所述的多个半导体制冷片组对所述镓熔点复现装置的温度进行控制。本发明的镓熔点炉采用新的结构形式、半导体制冷以及自动控温装置，简化了固定点装置的结构，提高了制冷效果和控温精度，使得复现装置能够应用到更多的场合，实现量值的方便、快捷的高精度传递。
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公开(公告)号：CN101929968B
公开(公告)日：2012-07-18
申请号：CN200910209585.7
申请日：2009-10-30
摘要： 本发明提供一种热扩散率测量装置，该装置包括激发光源，其产生激发光束；光学控制装置，其具有光学部件组、光束质量分析仪和能量计，该光学控制装置通过光学部件组中的可更换的光学元件对激发光束的能量进行调整；真空加热炉，在其内部设置有加热元件对样品进行加热；控温装置，对真空加热炉的加热温度进行控制；测温装置，通过探测器将测得的样品温升信号经前置放大器放大后传送到数据采集处理装置；数据采集处理装置，其包括数据采集系统和数据处理系统，数据采集系统将所采集到的所有数据信号传递到数据处理系统，数据处理系统对数据信号进行分析和多项理论修正处理。通过本发明所设计的激光热扩散率测量装置，材料热扩散率的测量重复性达到1％以内，降低了测量不确定度，提高了热扩散率测量的水平，为我国热扩散率标准装置的建立，热扩散率标准物质的制备及热扩散率标准数据库的建立奠定基础。
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公开(公告)号：CN201819892U
公开(公告)日：2011-05-04
申请号：CN200920220398.4
申请日：2009-10-30
IPC分类号： G01N25/20
摘要： 本实用新型涉及一种光学控制装置，其安装在热扩散率测量装置上，包括光学部件组、光束质量分析仪和能量计，所述光学部件组具有第一分光器件、第二分光器件、第一光学片和第二光学片，能量计和光束质量分析仪对激光器的输出能量和光斑质量进行实时监测，减小由光斑非均匀性加热带来的测量误差，其中第一光学片和第二光学片为可更换部件，采用不同衰减系数的第一和第二光学片的组合，获得了一系列不同能量的高均匀性光斑，提高了材料热扩散率测量的准确定性。
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